[實(shí)用新型]一種微區(qū)X射線光譜分析系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202220061909.8 | 申請(qǐng)日: | 2022-01-11 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN217359672U | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-09-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 孫學(xué)鵬;孫天希;李成波 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 北京師范大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N23/04 | 分類(lèi)號(hào): | G01N23/04;G01N23/083;G01N23/2206;G01N23/223 |
| 代理公司: | 北京眾合誠(chéng)成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11246 | 代理人: | 劉妮 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 射線 光譜分析 系統(tǒng) | ||
1.一種微區(qū)X射線光譜分析系統(tǒng),其特征在于,包括:X射線光束會(huì)聚模塊、樣品探測(cè)模塊、計(jì)算機(jī);
所述X射線光束會(huì)聚模塊用于獲得聚焦的X射線微焦斑;所述X射線微焦斑包括多色微區(qū)X射線微焦斑和單色微區(qū)X射線微焦斑;
所述樣品探測(cè)模塊用于探測(cè)樣品被所述X射線微焦斑激發(fā)后所產(chǎn)生的特征信號(hào);
所述計(jì)算機(jī)用于根據(jù)所述特征信號(hào)獲得樣品表面相關(guān)信息。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微區(qū)X射線光譜分析系統(tǒng),其特征在于,所述X射線光束會(huì)聚模塊包括能夠產(chǎn)生多色微區(qū)X射線微焦斑的多色會(huì)聚單元;
所述多色會(huì)聚單元包括:X射線光源(1)、遮光器(2)、對(duì)稱(chēng)設(shè)置的兩個(gè)拋物線型單毛細(xì)管準(zhǔn)直透鏡(3)、對(duì)稱(chēng)設(shè)置的兩個(gè)拋物線型單毛細(xì)管聚焦透鏡(4);
所述X射線光源(1)位于所述對(duì)稱(chēng)設(shè)置的兩個(gè)拋物線型單毛細(xì)管準(zhǔn)直透鏡(3)前焦點(diǎn)處,所述遮光器(2)位于所述對(duì)稱(chēng)設(shè)置的兩個(gè)拋物線型單毛細(xì)管準(zhǔn)直透鏡(3)的入射光或出射光處,用于阻擋直通光;
所述對(duì)稱(chēng)設(shè)置的兩拋物線型單毛細(xì)管聚焦透鏡(4)位于所述對(duì)稱(chēng)設(shè)置的兩個(gè)拋物線型單毛細(xì)管準(zhǔn)直透鏡(3)后用于接收其出射的多色X射線束,并將其會(huì)聚為微焦斑,并照射在樣品(7)表面。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微區(qū)X射線光譜分析系統(tǒng),其特征在于,所述X射線光束會(huì)聚模塊包括能夠產(chǎn)生單色微區(qū)X射線微焦斑的單色會(huì)聚單元;
所述單色會(huì)聚單元包括:X射線光源(1)、遮光器(2)、對(duì)稱(chēng)設(shè)置的兩個(gè)拋物線型單毛細(xì)管準(zhǔn)直透鏡(3)、對(duì)稱(chēng)設(shè)置的兩個(gè)拋物線型單毛細(xì)管聚焦透鏡(4)、單色器(10);
所述X射線光源(1)位于所述對(duì)稱(chēng)設(shè)置的兩個(gè)拋物線型單毛細(xì)管準(zhǔn)直透鏡(3)前焦點(diǎn)處,所述遮光器(2)位于所述對(duì)稱(chēng)設(shè)置的兩個(gè)拋物線型單毛細(xì)管準(zhǔn)直透鏡(3)的入射光或出射光處,用于阻擋直通光;
所述單色器(10)用于將所述對(duì)稱(chēng)設(shè)置的兩個(gè)拋物線型單毛細(xì)管準(zhǔn)直透鏡(3)所出射的多色準(zhǔn)平行光束以一定角度入射至單色器(10),并將其轉(zhuǎn)變?yōu)闇?zhǔn)單色X射線束,并出射至所述對(duì)稱(chēng)設(shè)置的兩個(gè)拋物線型單毛細(xì)管聚焦透鏡(4)上;
所述對(duì)稱(chēng)設(shè)置的兩拋物線型單毛細(xì)管聚焦透鏡(4)位于所述對(duì)稱(chēng)設(shè)置的兩個(gè)拋物線型單毛細(xì)管準(zhǔn)直透鏡(3)后,用于接收單色器(10)出射的單色X射線束,并將其會(huì)聚為微焦斑,并照射在樣品(7)表面。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的微區(qū)X射線光譜分析系統(tǒng),其特征在于,所述單色會(huì)聚單元包括兩個(gè)對(duì)稱(chēng)設(shè)置的所述單色器(10)。
5.根據(jù)權(quán)利要求2或3或4所述的微區(qū)X射線光譜分析系統(tǒng),其特征在于,當(dāng)所述遮光器(2)位于X射線光源(1)與對(duì)稱(chēng)設(shè)置的兩個(gè)拋物線型單毛細(xì)管準(zhǔn)直透鏡(3)之間時(shí),其直徑小于對(duì)稱(chēng)設(shè)置的兩個(gè)拋物線型單毛細(xì)管準(zhǔn)直透鏡(3)的入口直徑;當(dāng)置于對(duì)稱(chēng)設(shè)置的兩個(gè)拋物線型單毛細(xì)管準(zhǔn)直透鏡(3)與對(duì)稱(chēng)設(shè)置的兩拋物線型單毛細(xì)管聚焦透鏡(4)之間時(shí),其直徑等于聚焦透鏡出口直徑。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的微區(qū)X射線光譜分析系統(tǒng),其特征在于,所述X射線光源(1)為微焦斑光管,其焦斑尺寸不大于80微米,光源焦斑形狀為點(diǎn)狀。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的微區(qū)X射線光譜分析系統(tǒng),其特征在于,所述拋物線型單毛細(xì)管準(zhǔn)直透鏡(3)、拋物線型單毛細(xì)管聚焦透鏡(4)均采用中空玻璃管制造而成,其內(nèi)部曲線為拋物線形,內(nèi)壁鍍有光滑的重金屬薄膜,該重金屬為銥,金,鋨。
8.根據(jù)權(quán)利要求3或4平面晶體所述的微區(qū)X射線光譜分析系統(tǒng),其特征在于,所述單色器(10)為平面晶體。
9.根據(jù)權(quán)利要求2所述的微區(qū)X射線光譜分析系統(tǒng),其特征在于,所述遮光器(2)的材質(zhì)為鉛。
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G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
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