[實用新型]一種測量測繪用測量儀支架

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202220060691.4
• 申請日: 2022-01-11
• 公開（公告）號: CN216520610U
• 公開（公告）日: 2022-05-13
• 發(fā)明（設計）人: 朱亮
• 申請（專利權）人: 朱亮
• 主分類號: F16M11/04
• 分類號: F16M11/04;F16M11/32
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種測量測繪用測量儀支架，包括底座(1)、第一支腿(3)以及第二支腿(5)，其特征在于，所述底座(1)下表面開設有若干收納槽(2)，與第一支腿(3)相互配合，且所述第一支腿(3)靠外側一端與收納槽(2)內壁轉動配合，所述第一支腿(3)表面開設有第一活動槽(4)，與第二支腿(5)相互配合，且所述第二支腿(5)上端與第一活動槽(4)內壁轉動配合，所述第二支腿(5)表面開設有第二活動槽(6)，所述第二活動槽(6)內部設置有固定支腿(7)，且所述固定支腿(7)上端與第二活動槽(6)內壁轉動配合，所述固定支腿(7)表面開設有空腔(8)，所述固定支腿(7)下端連接有腳墊(9)，所述空腔(8)內部設置有螺桿(10)，與固定支腿(7)以及腳墊(9)螺紋配合；

所述螺桿(10)上端連接有旋鈕(11)，所述底座(1)左右兩側表面均設置有提手(12)，所述底座(1)下表面設置有若干卡塊(13)，與收納槽(2)以及第一支腿(3)相互配合，且所述卡塊(13)與底座(1)轉動配合。

2.根據權利要求1所述的一種測量測繪用測量儀支架，其特征在于，所述底座(1)外側表面、第一支腿(3)外表面下側以及第二支腿(5)外表面下側均設置有限位板(14)。

3.根據權利要求1所述的一種測量測繪用測量儀支架，其特征在于，所述收納槽(2)內壁設置有兩個第一磁片(15)，所述第一支腿(3)靠內側表面設置有兩個第二磁片(16)，與第一磁片(15)相互配合。

4.根據權利要求1所述的一種測量測繪用測量儀支架，其特征在于，所述提手(12)外側設置有防滑套(17)。

5.根據權利要求1所述的一種測量測繪用測量儀支架，其特征在于，所述底座(1)上表面設置有安裝板(18)。

6.根據權利要求1所述的一種測量測繪用測量儀支架，其特征在于，所述腳墊(9)下表面設置有若干防滑凸條。