[發(fā)明專利]一種可驗(yàn)證TSX熱敏晶體升溫特性的裝置及電路在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202211734727.3 | 申請日: | 2022-12-30 |
| 公開(公告)號: | CN116007778A | 公開(公告)日: | 2023-04-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鄧宏民;伍仁耀;彭英銘 | 申請(專利權(quán))人: | 廣東惠倫晶體科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01K7/22 | 分類號: | G01K7/22;H03L1/02 |
| 代理公司: | 廣東新葉知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44799 | 代理人: | 王明超 |
| 地址: | 523000 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 驗(yàn)證 tsx 熱敏 晶體 升溫 特性 裝置 電路 | ||
1.一種可驗(yàn)證TSX熱敏晶體升溫特性的裝置,其特征在于,包括相互連接的熱敏晶體器件和溫度傳導(dǎo)測試電路板,所述熱敏晶體器件包括器件基座、第一熱敏電阻和第二熱敏電阻,所述器件基座設(shè)有器件安裝槽,一基座上蓋固定于所述基座的頂端形成密閉腔體,所述第一熱敏電阻固定于所述器件安裝槽,所述第一熱敏電阻容置于所述密閉腔體內(nèi),所述第二熱敏電阻緊貼固定于所述器件基座的底部。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種可驗(yàn)證TSX熱敏晶體升溫特性的裝置,其特征在于,所述第一熱敏電阻通過導(dǎo)電銀膠固定于所述器件安裝槽,所述第二熱敏電阻通過導(dǎo)電銀膠固定于所述器件基座的底部。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種可驗(yàn)證TSX熱敏晶體升溫特性的裝置,其特征在于,所述器件基座的底部分別設(shè)有第一焊盤、第二焊盤、第三焊盤和第四焊盤,所述第一熱敏電阻的一端通過導(dǎo)線與所述第一焊盤連接,所述第一熱敏電阻的另一端通過導(dǎo)線與所述第三焊盤連接,所述第二熱敏電阻的一端通過導(dǎo)線與所述第二焊盤連接,所述第二熱敏電阻的另一端通過導(dǎo)線與所述第四焊盤連接,所述第一熱敏電阻和所述第二熱敏電阻形成對角連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種可驗(yàn)證TSX熱敏晶體升溫特性的裝置,其特征在于,所述第一熱敏電阻和所述第二熱敏電阻的材質(zhì)規(guī)格相同。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種可驗(yàn)證TSX熱敏晶體升溫特性的裝置,其特征在于,所述溫度傳導(dǎo)測試電路板上設(shè)置有供電模塊、控制模塊、發(fā)熱模塊、功率放大模塊和晶體測試模塊,所述供電模塊、所述控制模塊、所述功率放大模塊和發(fā)熱模塊從左至右設(shè)置于所述溫度傳導(dǎo)測試電路板的上側(cè),所述晶體測試模塊設(shè)置于所述溫度傳導(dǎo)測試電路板的下側(cè)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種可驗(yàn)證TSX熱敏晶體升溫特性的裝置,其特征在于,所述晶體測試模塊包括第一測試模塊、第二測試模塊、第三測試模塊、第四測試模塊和第五測試模塊,所述第一測試模塊、所述第二測試模塊、所述第三測試模塊、所述第四測試模塊和所述第五測試模塊從左至右依序設(shè)置在所述溫度傳導(dǎo)測試電路板的下側(cè)。
7.一種可驗(yàn)證TSX熱敏晶體升溫特性的電路,應(yīng)用于權(quán)利要求1-6任一項(xiàng)所述的溫度傳導(dǎo)測試電路板中,其特征在于,包括:
供電電路,所述供電電路用于供電;
控制電路,所述控制電路包括主控芯片,所述主控芯片與所述供電電路連接;
發(fā)熱電路,所述發(fā)熱電路與所述主控芯片連接,所述主控芯片控制所述發(fā)熱電路進(jìn)行發(fā)熱;
功率放大電路,所述功率放大電路與所述發(fā)熱電路連接,所述功率放大電路用于放大發(fā)熱電路的電流;
晶體測試電路,所述晶體測試電路用于測試熱敏晶體器件的溫度變化量。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種可驗(yàn)證TSX熱敏晶體升溫特性的電路,其特征在于,所述控制電路還包括第一可調(diào)電阻、第八電阻、第九電阻、第十電阻和第二三極管,所述第一可調(diào)電阻分別與所述主控芯片的第一引腳和所述供電電路連接,所述第八電阻與所述主控芯片的第三引腳連接,所述第九電阻和所述第十電阻均與所述主控芯片的第四引腳連接,所述第二三極管的基極與所述主控芯片的第六引腳連接,所述第二三極管的集電極與所述功率放大電路連接,所述第二三極管的發(fā)射極與所述發(fā)熱電路連接。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種可驗(yàn)證TSX熱敏晶體升溫特性的電路,其特征在于,所述測試電路由若干個(gè)封裝件組成,所述封裝件用于與熱敏晶體器件連接,所述封裝件的第一引腳和第二引腳與外部供電端連接,所述封裝件的第三引腳與外部第一測試端連接,所述封裝件的第四引腳與外部第二測試端連接,所述封裝件的第三引腳和第四引腳均接地。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的一種可驗(yàn)證TSX熱敏晶體升溫特性的電路,其特征在于,所述供電電路包括穩(wěn)壓芯片,所述穩(wěn)壓芯片的輸入引腳與電源供電端連接,所述穩(wěn)壓芯片的輸出引腳與所述主控芯片連接,輸出5V電壓。
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