[發明專利]溫度測試方法、裝置、計算機設備和存儲介質

在審

• 申請號: 202211727188.0
• 申請日: 2022-12-30
• 公開（公告）號: CN115962863A
• 公開（公告）日: 2023-04-14
• 發明（設計）人: 張迎華;蒲嘉鵬;董艷芳;王凱東;劉曉玲
• 申請（專利權）人: 曙光信息產業股份有限公司
• 主分類號: G01K13/00
• 分類號: G01K13/00
• 代理公司: 華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 唐彩琴

1.一種溫度測試方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取待測試處理器的當前溫度；

根據預設的高溫閾值、以及所述當前溫度，確定高溫溫差，并在預設的溫度區間集中，確定所述高溫溫差所屬的目標溫度區間；

根據預設的測試策略匹配規則，在預設的測試策略集中，確定所述目標溫度區間匹配的目標測試策略，并執行所述目標測試策略；

在所述目標測試策略執行過程中的處理器溫度不滿足預設的高溫條件的情況下，返回執行所述獲取待測試處理器的當前溫度步驟，直到滿足測試結束條件，得到處理器測試結果。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述預設的測試策略集至少包括前臺運行測試策略、以及負載壓力測試策略；所述根據預設的測試策略匹配規則，在預設的測試策略集中，確定所述目標溫度區間匹配的目標測試策略包括：

在所述目標溫度區間為預設的低溫度區間的情況下，將所述前臺運行測試策略作為所述目標溫度區間匹配的目標測試策略；

在所述目標溫度區間為預設的中等溫度區間的情況下，將所述負載壓力測試策略作為所述目標溫度區間匹配的目標測試策略；

在所述目標溫度區間為預設的高溫度區間的情況下，將所述前臺運行測試策略和所述負載壓力測試策略作為所述目標溫度區間匹配的目標測試策略。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述執行所述目標測試策略包括：

在所述目標測試策略包括所述負載壓力測試策略的情況下，根據所述高溫溫差、以及所述目標溫度區間對應的預設的負載程度計算策略，確定負載程度；

基于所述負載程度，執行所述負載壓力測試策略。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據所述高溫溫差、以及所述目標溫度區間對應的預設的負載程度計算策略，確定負載程度包括：

在所述目標溫度區間為所述預設的高溫度區間的情況下，將所述高溫溫差與預設的溫差閾值進行對比；所述預設的溫差閾值大于所述預設的高溫度區間的下限值；

在所述高溫溫差小于所述預設的溫差閾值的情況下，根據所述預設的高溫度區間的下限值、所述預設的溫差閾值、以及所述高溫溫差，確定負載調節比例，并基于所述負載調節比例、以及預設的負載程度區間，確定負載程度；

在所述高溫溫差大于或者等于所述預設的溫差閾值的情況下，將所述預設的負載程度區間的上限值作為所述負載程度。

5.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據所述高溫溫差、以及所述目標溫度區間對應的預設的負載程度計算策略，確定負載程度包括：

在所述目標溫度區間為所述預設的中等溫度區間的情況下，根據所述預設的中等溫度區間、以及所述高溫溫差，確定負載調節比例，并基于所述負載調節比例、以及預設的負載程度區間，確定負載程度。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述當前溫度包括系統日志記載的第一溫度、以及底板管理控制器日志記載的第二溫度；所述根據預設的高溫閾值、以及所述當前溫度，確定高溫溫差包括：

根據所述第一溫度、以及所述第二溫度，確定當前平均溫度；

根據預設的高溫閾值、以及所述當前平均溫度，確定高溫溫差。

7.根據權利要求1至6任意一項所述的方法，其特征在于，所述獲取待測試處理器的當前溫度包括：

響應于測試開始命令，執行預設的空閑測試策略，并獲取在所述空閑測試策略執行結束時待測處理器的溫度，得到當前溫度。