[發(fā)明專利]一種過壓保護(hù)測試電路、方法及系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202211724947.8 | 申請(qǐng)日: | 2022-12-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN115932452A | 公開(公告)日: | 2023-04-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 耿明越 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廣東虹勤通訊技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00;G01R31/69 |
| 代理公司: | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 李婉 |
| 地址: | 523808 廣東省東莞*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 保護(hù) 測試 電路 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種過壓保護(hù)測試電路,其特征在于,所述電路包括:微控制單元MCU、功能開關(guān)、測試開關(guān)和電源集成電路;
所述MCU的控制端分別與所述功能開關(guān)、所述測試開關(guān)和所述電源集成電路連接;所述功能開關(guān)與Type?C接口中的目標(biāo)待測試引腳和所述測試開關(guān)連接;所述測試開關(guān)與所述Type?C接口中的目標(biāo)待測試引腳和所述電源集成電路連接;
所述MCU在接收到測試指令時(shí),基于所述測試指令控制所述功能開關(guān)處于目標(biāo)功能,控制所述測試開關(guān)處于開啟狀態(tài),以及控制所述電源集成電路輸出目標(biāo)電壓,所述目標(biāo)功能包括Type?C正插功能和Type?C反插功能;
所述電源集成電路將所述目標(biāo)電壓通過所述測試開關(guān)輸出至目標(biāo)待測試引腳,以便在目標(biāo)功能下基于所述目標(biāo)電壓完成所述目標(biāo)待測試引腳的過壓保護(hù)測試,以確定所述目標(biāo)待測試引腳是否能夠進(jìn)行過壓保護(hù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路,其特征在于,所述功能開關(guān)包括第一開關(guān)和第二開關(guān)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電路,其特征在于,所述第一開關(guān)包括第一N溝道場效應(yīng)管和第二N溝道場效應(yīng)管;
所述第一N溝道場效應(yīng)管的柵極與所述微控制單元的控制端和所述第二N溝道場效應(yīng)管的柵極連接;
所述第一N溝道場效應(yīng)管的源極和第二開關(guān)連接,所述第一N溝道場效應(yīng)管的漏極和第二開關(guān)連接;
所述第二N溝道場效應(yīng)管的源極和第二開關(guān)連接,所述第二N溝道場效應(yīng)管的漏極和第二開關(guān)連接;
所述第一N溝道場效應(yīng)管的漏極和第二開關(guān)的連接處與所述Type?C接口中的第一待測試引腳和所述測試開關(guān)連接,所述第一待測試引腳屬于目標(biāo)待測試引腳;
所述第二N溝道場效應(yīng)管的漏極和第二開關(guān)的連接處與所述Type?C接口中的第二待測試引腳和所述測試開關(guān)連接,所述第二待測試引腳屬于目標(biāo)待測試引腳。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電路,其特征在于,所述第二開關(guān)包括第三N溝道場效應(yīng)管和第四N溝道場效應(yīng)管;
第三N溝道場效應(yīng)管的柵極與所述第四N溝道場效應(yīng)管的柵極和所述微控制單元連接;
第三N溝道場效應(yīng)管的源極與所述第一N溝道場效應(yīng)管的源極連接,所述第三N溝道場效應(yīng)管的漏極與所述第一N溝道場效應(yīng)管的漏極連接;
第四N溝道場效應(yīng)管的源極與所述第二N溝道場效應(yīng)管的源極連接,所述第四N溝道場效應(yīng)管的漏極與所述第二N溝道場效應(yīng)管的漏極連接;
所述第三N溝道場效應(yīng)管的漏極與所述第一N溝道場效應(yīng)管的漏極的連接處與所述Type?C接口中的第一待測試引腳和所述測試開關(guān)連接;
所述第四N溝道場效應(yīng)管的漏極與所述第二N溝道場效應(yīng)管的漏極的連接處與所述Type?C接口中的第二待測試引腳和所述測試開關(guān)連接,所述第二待測試引腳屬于目標(biāo)待測試引腳;
相應(yīng)的,基于測試指令控制所述功能開關(guān)處于目標(biāo)功能,包括:
若所述目標(biāo)功能是Type?C反插功能,基于測試指令控制所述第一N溝道場效應(yīng)管和所述第二N溝道場效應(yīng)管的柵極處于高電平,控制所述第三N溝道場效應(yīng)管和所述第四N溝道場效應(yīng)管的柵極處于低電平;基于所述第一PN溝道場效應(yīng)管和第二N溝道場效應(yīng)管的柵極處于高電平,以及所述第三PN溝道場效應(yīng)管和所述第四N溝道場效應(yīng)管的柵極處于低電平的狀態(tài),確定所述功能開關(guān)處于Type?C反插功能;
若所述目標(biāo)功能是Type?C正插功能,基于測試指令控制所述第一N溝道場效應(yīng)管和所述第二N溝道場效應(yīng)管的柵極處于低電壓,控制所述第三N溝道場效應(yīng)管和所述第四N溝道場效應(yīng)管的柵極處于高電平;基于所述第一N溝道場效應(yīng)管和所述第二N溝道場效應(yīng)管的柵極處于低電壓,以及所述第三N溝道場效應(yīng)管和所述第四N溝道場效應(yīng)管的柵極處于高電平的狀態(tài),確定所述功能開關(guān)處于Type?C正插功能。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電路,其特征在于,還包括:
所述第一N溝道場效應(yīng)管的源極和第三N溝道場效應(yīng)管的源極的連接處接地;
所述第二N溝道場效應(yīng)管的源極和第四N溝道場效應(yīng)管的源極的連接處接地。
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G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R31-00 電性能的測試裝置;電故障的探測裝置;以所進(jìn)行的測試在其他位置未提供為特征的電測試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測試;測試對(duì)象多點(diǎn)通過測試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測試
G01R31-08 .探測電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測試
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