[發明專利]一種單光路雙通道光學電流傳感器裝置及自補償測試方法在審
| 申請號: | 202211716912.X | 申請日: | 2022-12-29 |
| 公開(公告)號: | CN116047158A | 公開(公告)日: | 2023-05-02 |
| 發明(設計)人: | 司磊;王利清;李彬;任楠楠;靳俊杰 | 申請(專利權)人: | 北京航天時代光電科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R19/25 | 分類號: | G01R19/25;G01R19/32;G01R15/22 |
| 代理公司: | 中國航天科技專利中心 11009 | 代理人: | 賈文婷 |
| 地址: | 100094*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 單光路 雙通道 光學 電流傳感器 裝置 補償 測試 方法 | ||
1.一種單光路雙通道光學電流傳感器裝置,其特征在于:包括光源、隔離器1、耦合器1、準直器1、法拉第磁旋光材料、準直器2、耦合器2、探測器3、隔離器2、探測器1;
耦合器1和耦合器2均有2個入射端口和2個出射端口;
光源發出的光經過隔離器1,從耦合器1的1端口進入,均分后從耦合器1的3端口和4端口發出,從耦合器1的4端口發出光正向進入準直器1,之后經過法拉第磁旋光材料后進入準直器2,再進入耦合器2,經耦合器2后光被分成兩部分,一部分光經耦合器2的2端口進入探測器3,另一部分光由于隔離器2為單向輸入器件、從而被消散掉;
從耦合器1的3端口發出的光經過隔離器2后、從耦合器2的1端口反向進入,并依次經過準直器2、法拉第磁旋光材料、準直器1、耦合器1,最終進探測器1。
2.根據權利要求1所述的一種單光路雙通道光學電流傳感器裝置,其特征在于:所述準直器1與法拉第磁旋光材料之間設有偏振分束器1,準直器1射出的光經偏振分束器1被分成透射光、反射光兩部分,透射光進入法拉第磁旋光材料,反射光進入分束器1,被分束器1分成透射和反射光,透射光不利用,反射光經準直器4進入探測器2。
3.根據權利要求1或2所述的一種單光路雙通道光學電流傳感器裝置,其特征在于:所述法拉第磁旋光材料與準直器2之間設有偏振分束器2,法拉第磁旋光材料射出的光經偏振分束器2被分成透射光、反射光兩部分,透射光進入準直器2,反射光進入分束器2,被分束器2分成透射和反射光,透射光不利用,反射光經準直器3進入探測器4。
4.根據權利要求3所述的一種單光路雙通道光學電流傳感器裝置,其特征在于:所述耦合器1、耦合器2、偏振分束器1、偏振分束器2、分束器1、分束器2均為分光比50:50的器件。
5.根據權利要求3所述的一種單光路雙通道光學電流傳感器裝置,其特征在于:所述探測器1、探測器2、探測器3、探測器4分別連接信號放大濾波模塊、AD采樣轉換電路,信號放大濾波模塊用于對探測器1、2、3、4的傳感信號經過濾波放大后,再由AD采樣轉換電路進行信號采集,并將信號發送給數據處理單元進行控制和解調;
探測器5經一路AD采樣轉換電路進行信號采集后、將信號發送給數據處理單元,數據處理單元對AD采樣轉換電路采集的數據進行平均后,得到累加平均值,將累加平均值做為調節光源功率波動或光源故障的信號,利用累加平均值波動的大小來控制光源驅動電流大小。
6.一種單光路雙通道光學電流傳感器裝置的自補償測試方法,其特征在于:包括
根據權利要求2或3所述的裝置獲得探測器1和探測器2、或探測器3和探測器4的信號表示I;
根據光通過法拉第磁旋光材料后相位變、信號表示I,獲得變形后信號表示I;考慮溫度特性及雙光路,根據變形后信號表示I,獲得兩個探測器的信號表示分別為I1和I2;
考慮實際分光比,獲得I2’;
根據I2’,電流輸出為
電流輸出中包含有關溫度的直流量,和溫度無關的交流量,因此直流量CDC=Mean(C),交流量CAC=C-Mean(C);
最終輸出為Cout=(1+K·CDC)CAC,K為根據直流量CDC擬合得到的修正系數。
7.根據權利要求6所述的一種單光路雙通道光學電流傳感器裝置的自補償測試方法,其特征在于:所述I=I0/2[1±sin(2θ)],
其中,θ=VBd,V為維爾德常數,B為磁場強度,由需要測量的電流產生,d為磁旋光材料長度;I0為通過偏振分束器之后的光強。
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