[發(fā)明專利]實(shí)現(xiàn)電路調(diào)試的系統(tǒng)、現(xiàn)場(chǎng)可編程邏輯門陣列及上位機(jī)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202211659147.2 | 申請(qǐng)日: | 2022-12-22 |
| 公開(公告)號(hào): | CN115963388A | 公開(公告)日: | 2023-04-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 敦洋洋;孫莉莉;杜金鳳;張茹;趙井坤 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廣東高云半導(dǎo)體科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/317 | 分類號(hào): | G01R31/317;G01R31/3177;G01R31/3185 |
| 代理公司: | 北京安信方達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11262 | 代理人: | 蔣冬梅;李丹 |
| 地址: | 510700 廣東省廣州市黃*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 實(shí)現(xiàn) 電路 調(diào)試 系統(tǒng) 現(xiàn)場(chǎng) 可編程 邏輯 門陣列 上位 | ||
本文公開一種實(shí)現(xiàn)電路調(diào)試的系統(tǒng)、現(xiàn)場(chǎng)可編程邏輯門陣列及上位機(jī),包括:上位機(jī)和現(xiàn)場(chǎng)可編程邏輯門陣列(FPGA);其中,F(xiàn)PGA內(nèi)部虛擬化設(shè)置虛擬端口單元,上位機(jī)通過聯(lián)合測(cè)試工作組(JTAG)端口連接虛擬端口單元,虛擬端口單元包括控制器模塊和數(shù)據(jù)端口模塊,控制器模塊位于數(shù)據(jù)端口模塊和上位機(jī)之間,數(shù)據(jù)端口模塊包含若干輸出端口,各輸出端口與一個(gè)脈沖模塊連接;上位機(jī)通過JTAG端口向虛擬端口單元發(fā)送為脈沖模塊提供激勵(lì)信號(hào)的寫入指令;控制器模塊根據(jù)寫入指令,將激勵(lì)信號(hào)通過輸出端口輸出至脈沖模塊。本發(fā)明實(shí)施例通過虛擬化設(shè)置的虛擬端口單元向脈沖模塊輸出激勵(lì)信號(hào),減少了實(shí)體按鍵和外部端口的使用,規(guī)避了實(shí)體按鍵的數(shù)量限制和抖動(dòng)干擾問題。
技術(shù)領(lǐng)域
本文涉及但不限于電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化技術(shù),尤指一種實(shí)現(xiàn)電路調(diào)試的系統(tǒng)、現(xiàn)場(chǎng)可編程邏輯門陣列及上位機(jī)。
背景技術(shù)
相關(guān)技術(shù)中,通常使用邏輯分析儀如示波器對(duì)現(xiàn)場(chǎng)可編程邏輯門陣列(FPGA)進(jìn)行調(diào)試,對(duì)于內(nèi)部信號(hào)(電路中會(huì)發(fā)生變化的信號(hào))的測(cè)試,需要將這些內(nèi)部信號(hào)定義為輸出(output)后引出到FPGA的外部管腳進(jìn)行測(cè)量,如果信號(hào)位寬較大,則會(huì)占用大量FPGA管腳,且不便通過示波器測(cè)量;為解決這一問題,F(xiàn)PGA廠商在其電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化(EDA)工具上集成片上邏輯分析儀,通過聯(lián)合測(cè)試工作組(JTAG)接口實(shí)時(shí)獲取FPGA的信號(hào)數(shù)據(jù),將FPGA的信號(hào)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到片上存儲(chǔ)器后,通過上位機(jī)圖形顯示FPGA的運(yùn)行狀態(tài),從而提高了FPGA的調(diào)試效率。
在FPGA調(diào)試過程中,經(jīng)常會(huì)遇到需要脈沖工作的模塊,通常脈沖模塊的激勵(lì)使用按鍵驅(qū)動(dòng),當(dāng)脈沖激勵(lì)較多時(shí),需要使用多個(gè)按鍵驅(qū)動(dòng)脈沖模塊,多個(gè)按鍵的設(shè)置不便于進(jìn)行激勵(lì)輸入,且需要考慮按鍵消抖,影響FPGA的調(diào)試效率;當(dāng)脈沖激勵(lì)較多時(shí),如何提升FPGA調(diào)試的效率和準(zhǔn)確度,成為一個(gè)有待解決的問題。
發(fā)明內(nèi)容
以下是對(duì)本文詳細(xì)描述的主題的概述。本概述并非是為了限制權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
本發(fā)明實(shí)施例提供一種實(shí)現(xiàn)電路調(diào)試的系統(tǒng)、現(xiàn)場(chǎng)可編程邏輯門陣列及上位機(jī),能夠減少FPGA調(diào)試過程中實(shí)體按鍵的使用,提升FPGA調(diào)試的效率和準(zhǔn)確度。
本發(fā)明實(shí)施例提供了一種實(shí)現(xiàn)電路調(diào)試的系統(tǒng),包括:上位機(jī)和現(xiàn)場(chǎng)可編程邏輯門陣列FPGA;其中,F(xiàn)PGA內(nèi)部虛擬化設(shè)置虛擬端口單元,上位機(jī)通過聯(lián)合測(cè)試工作組JTAG端口連接虛擬端口單元,虛擬端口單元包括控制器模塊和數(shù)據(jù)端口模塊,控制器模塊位于數(shù)據(jù)端口模塊和上位機(jī)之間,數(shù)據(jù)端口模塊包含一個(gè)以上輸出端口,每一個(gè)輸出端口與FPGA內(nèi)的一個(gè)脈沖模塊連接;
上位機(jī)設(shè)置為:通過JTAG端口向虛擬端口單元發(fā)送為需要激勵(lì)的脈沖模塊提供激勵(lì)信號(hào)的寫入指令;
控制器模塊設(shè)置為:根據(jù)接收的寫入指令,將預(yù)先設(shè)定的激勵(lì)信號(hào)通過與脈沖模塊連接的輸出端口輸出至需要激勵(lì)的脈沖模塊。
另一方面,本發(fā)明實(shí)施例還提供一種計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì),所述計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述圖像處理的方法。
再一方面,本發(fā)明實(shí)施例還提供一種實(shí)現(xiàn)電路調(diào)試的現(xiàn)場(chǎng)可編程邏輯門陣列,包括:內(nèi)部虛擬化設(shè)置虛擬端口單元,虛擬端口單元通過JTAG端口與上位機(jī)連接,虛擬端口單元包括控制器模塊和數(shù)據(jù)端口模塊,控制器模塊位于數(shù)據(jù)端口模塊和上位機(jī)之間,數(shù)據(jù)端口模塊包含一個(gè)以上輸出端口,每一個(gè)輸出端口與FPGA內(nèi)的一個(gè)脈沖模塊連接;
控制器模塊設(shè)置為:根據(jù)接收的來自上位機(jī)的寫入指令,將預(yù)先設(shè)定的激勵(lì)信號(hào)通過與脈沖模塊連接的輸出端口輸出至需要激勵(lì)的脈沖模塊。
還一方面,本發(fā)明實(shí)施例還提供一種實(shí)現(xiàn)電路調(diào)試的上位機(jī),上位機(jī)通過聯(lián)合測(cè)試工作組JTAG端口連接FPGA內(nèi)部虛擬化設(shè)置的虛擬端口單元,虛擬端口單元包括控制器模塊和數(shù)據(jù)端口模塊;
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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