[發(fā)明專利]一種儲(chǔ)層參數(shù)確定方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及可讀介質(zhì)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202211653281.1 | 申請(qǐng)日: | 2022-12-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN116541627A | 公開(公告)日: | 2023-08-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張峰;程績(jī)偉;李向陽 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)石油大學(xué)(北京) |
| 主分類號(hào): | G06F17/10 | 分類號(hào): | G06F17/10;G01V1/30;G01V1/40 |
| 代理公司: | 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127 | 代理人: | 劉飛;賈磊 |
| 地址: | 102249*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 參數(shù) 確定 方法 裝置 計(jì)算機(jī) 設(shè)備 可讀 介質(zhì) | ||
本說明書涉及儲(chǔ)層參數(shù)估算技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種儲(chǔ)層參數(shù)確定方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及可讀介質(zhì)。其中儲(chǔ)層參數(shù)確定方法包括基于測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)和地震數(shù)據(jù),確定正交介質(zhì)各向異性參數(shù)、低頻初始模型和混合相位子波;針對(duì)預(yù)設(shè)正交介質(zhì)縱波反射公式進(jìn)行組合更新,得到目標(biāo)縱波反射公式;基于正交介質(zhì)各向異性參數(shù)、低頻初始模型和混合相位子波,構(gòu)建最小目標(biāo)函數(shù);以及基于最小目標(biāo)函數(shù)和地震數(shù)據(jù),針對(duì)目標(biāo)縱波反射公式進(jìn)行求解,得到目標(biāo)儲(chǔ)層參數(shù)。利用本說明書實(shí)施例,基于更新后的目標(biāo)縱波反射公式和最小目標(biāo)函數(shù),實(shí)現(xiàn)了在正交各向異性介質(zhì)中,同時(shí)提高了儲(chǔ)層參數(shù)的求解穩(wěn)定性和精確度。
技術(shù)領(lǐng)域
本說明書涉及儲(chǔ)層參數(shù)估算技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種儲(chǔ)層參數(shù)確定方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及可讀介質(zhì)。
背景技術(shù)
目前,用于描述儲(chǔ)層的參數(shù)包括彈性參數(shù)和各向異性參數(shù),以表征儲(chǔ)層特征和預(yù)測(cè)地下裂縫的重要途徑。在確定儲(chǔ)層參數(shù)時(shí),采用預(yù)設(shè)正交介質(zhì)縱波反射公式來求解,該方法是以損失精確度為代價(jià)提高穩(wěn)定性的一種方法。為了同時(shí)提高穩(wěn)定性和精確度,多以在各向同性介質(zhì)中求解為假設(shè)條件,由此雖然同時(shí)提高了穩(wěn)定性和一定精確度,但是目前地震波是在正交各向異性介質(zhì)中傳播的,由此導(dǎo)致相對(duì)于真實(shí)情況精確度較低。
如何在正交各向異性介質(zhì)中,同時(shí)提高儲(chǔ)層參數(shù)的求解穩(wěn)定性和精確度是現(xiàn)有技術(shù)中亟需解決的問題。
發(fā)明內(nèi)容
為解決現(xiàn)有技術(shù)中的問題,本說明書實(shí)施例提供了一種儲(chǔ)層參數(shù)確定方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及可讀介質(zhì),實(shí)現(xiàn)了在正交各向異性介質(zhì)中,同時(shí)提高了儲(chǔ)層參數(shù)的求解穩(wěn)定性和精確度。
為了解決上述技術(shù)問題,本說明書的具體技術(shù)方案如下:
一方面,本說明書實(shí)施例提供了一種儲(chǔ)層參數(shù)確定方法,包括,
基于測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)和地震數(shù)據(jù),確定正交介質(zhì)各向異性參數(shù)、低頻初始模型和混合相位子波;
針對(duì)預(yù)設(shè)正交介質(zhì)縱波反射公式進(jìn)行組合更新,得到目標(biāo)縱波反射公式;
基于所述正交介質(zhì)各向異性參數(shù)、所述低頻初始模型和所述混合相位子波,構(gòu)建最小目標(biāo)函數(shù);以及
基于所述最小目標(biāo)函數(shù)和所述地震數(shù)據(jù),針對(duì)所述目標(biāo)縱波反射公式進(jìn)行求解,得到目標(biāo)儲(chǔ)層參數(shù)。
進(jìn)一步,該基于測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)和地震數(shù)據(jù),確定混合相位子波進(jìn)一步包括,
基于所述測(cè)井?dāng)?shù)據(jù),確定裂縫走向;
從所述地震數(shù)據(jù)中,確定與所述裂縫走向?qū)?yīng)的目標(biāo)地震數(shù)據(jù);以及
基于所述目標(biāo)地震數(shù)據(jù),確定所述混合相位子波。
進(jìn)一步,該針對(duì)預(yù)設(shè)正交介質(zhì)縱波反射公式進(jìn)行組合更新,得到目標(biāo)縱波反射公式進(jìn)一步包括,
針對(duì)所述預(yù)設(shè)正交介質(zhì)縱波反射公式中的預(yù)設(shè)正交介質(zhì)裂縫擾動(dòng)反射系數(shù)公式進(jìn)行簡(jiǎn)化處理,得到目標(biāo)正交介質(zhì)裂縫擾動(dòng)反射系數(shù)公式;以及
基于所述目標(biāo)正交介質(zhì)裂縫擾動(dòng)反射系數(shù)公式和所述預(yù)設(shè)正交介質(zhì)縱波反射公式中的預(yù)設(shè)橫向各向同性縱波反射系數(shù)公式,確定所述目標(biāo)縱波反射公式。
進(jìn)一步,該目標(biāo)正交介質(zhì)裂縫擾動(dòng)反射系數(shù)公式進(jìn)一步包括,
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)石油大學(xué)(北京),未經(jīng)中國(guó)石油大學(xué)(北京)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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