[發(fā)明專利]一種應用服務質(zhì)量評價方法、裝置、電子設備及存儲介質(zhì)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202211626917.3 | 申請日： | 2022-12-16 |
| 公開（公告）號： | CN115934549A | 公開（公告）日： | 2023-04-07 |
| 發(fā)明（設計）人： | 王松 | 申請（專利權(quán)）人： | 平安銀行股份有限公司 |
| 主分類號： | G06F11/36 | 分類號： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 廣東良馬律師事務所 44395 | 代理人： | 王兆林 |
| 地址： | 518000 廣東*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 應用 服務質(zhì)量 評價 方法 裝置 電子設備 存儲 介質(zhì) | ||
本發(fā)明公開一種應用服務質(zhì)量評價方法、裝置、電子設備及存儲介質(zhì)，方法包括：獲取待測試應用的代碼，并調(diào)用第一測試平臺統(tǒng)計各個測試階段的所述待測試應用的代碼的單元測試覆蓋率；基于各個測試階段的所述待測試應用的單元測試覆蓋率，調(diào)用第二測試平臺統(tǒng)計各個測試階段的待測試應用的代碼的整體測試覆蓋率；獲取待測試應用在各個測試階段的缺陷，調(diào)用第三測試平臺對所述缺陷進行缺陷統(tǒng)計后，基于第三測試平臺統(tǒng)計的缺陷評價信息以及待測試應用的代碼的整體測試覆蓋率，對所述待測試應用進行質(zhì)量打分。本發(fā)明解決了現(xiàn)有技術(shù)中無法有效直觀的進行應用服務質(zhì)量評價的技術(shù)問題。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及計算機技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種應用服務質(zhì)量評價方法、裝置、電子設備及存儲介質(zhì)。
背景技術(shù)
應用服務在上線之前，為了保證其可靠性，一般需要進行應用服務測試。
目前測試人員一般都是借助很多系統(tǒng)或平臺進行測試，比如有缺陷和項目管理平臺J?IRA，單元測試掃描平臺sonarqube以及代碼覆蓋率統(tǒng)計平臺l?i?bra，平臺雖然很多，但也比較分散，且各個平臺之間沒有有效的進行交互，導致無法對一個系統(tǒng)或者應用進行很直觀的評分來判斷這個應用的質(zhì)量好壞。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服上述技術(shù)不足，提供一種適用于金融科技或其它相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的應用服務質(zhì)量評價方法、裝置、電子設備及存儲介質(zhì)，解決現(xiàn)有技術(shù)中無法有效直觀的進行應用服務質(zhì)量評價的技術(shù)問題。
為達到上述技術(shù)目的，本發(fā)明采取了以下技術(shù)方案：
第一方面，本發(fā)明提供一種應用服務質(zhì)量評價方法，包括如下步驟：
獲取待測試應用的代碼，并調(diào)用第一測試平臺統(tǒng)計各個測試階段的所述待測試應用的代碼的單元測試覆蓋率；
基于各個測試階段的所述待測試應用的單元測試覆蓋率，調(diào)用第二測試平臺統(tǒng)計各個測試階段的待測試應用的代碼的整體測試覆蓋率；
獲取待測試應用在各個測試階段的缺陷，調(diào)用第三測試平臺對所述缺陷進行缺陷統(tǒng)計后，基于第三測試平臺統(tǒng)計的缺陷評價信息以及待測試應用的代碼的整體測試覆蓋率，對所述待測試應用進行質(zhì)量打分。
在一些實施例中，所所述缺陷評價信息至少包括缺陷等級信息、缺陷發(fā)生階段信息以及缺陷的重開次數(shù)信息。
在一些實施例中，所述獲取待測試應用在各個測試階段的缺陷，調(diào)用第三測試平臺對所述缺陷進行缺陷統(tǒng)計后，基于第三測試平臺統(tǒng)計的缺陷評價信息以及待測試應用的代碼的整體測試覆蓋率，對所述待測試應用進行質(zhì)量打分，包括：
獲取待測試應用在各個測試階段的缺陷，調(diào)用第三測試平臺對所述缺陷進行缺陷統(tǒng)計，以獲取缺陷等級信息、缺陷發(fā)生階段信息以及缺陷的重開次數(shù)信息；
基于所述缺陷等級信息及其預設權(quán)重、缺陷發(fā)生階段信息及其預設權(quán)重以及缺陷的重開次數(shù)信息及其預設權(quán)重，計算出缺陷評價分值；
基于所述缺陷評價分值以及待測試應用的代碼的整體測試覆蓋率，對所述待測試應用進行質(zhì)量打分。
在一些實施例中，所述基于所述缺陷等級信息及其預設權(quán)重、缺陷發(fā)生階段信息及其預設權(quán)重以及缺陷的重開次數(shù)信息及其預設權(quán)重，計算出缺陷評價分值，包括：
基于所述缺陷等級信息及其預設權(quán)重、缺陷發(fā)生階段信息及其預設權(quán)重以及缺陷的重開次數(shù)信息及其預設權(quán)重，分別計算出各個等級的缺陷打分值；
基于各個等級的缺陷打分值，計算出缺陷評價分值。
在一些實施例中，所述個體打分值的計算方式為：
分別計算當前等級的各個缺陷的缺陷等級信息對應的預設權(quán)重、缺陷發(fā)生階段信息對應的權(quán)重以及缺陷重開次數(shù)信息對應的預設權(quán)重的重開次數(shù)次方的乘積，并將各個乘積相加后，得到個體打分值。
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