[發明專利]排查硬盤布線設計的方法、裝置、電子設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202211616278.2
• 申請日: 2022-12-15
• 公開（公告）號: CN115828487A
• 公開（公告）日: 2023-03-21
• 發明（設計）人: 郭美辰
• 申請（專利權）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G06F30/18
• 分類號: G06F30/18;G06F30/394;G06F30/398
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 張金玲

本發明提供一種排查硬盤布線設計的方法、裝置、電子設備及存儲介質，屬于計算機技術領域。其中，排查硬盤布線設計的方法，包括：獲取硬盤布線設計的拓撲圖；基于硬盤布線設計的拓撲圖，建立線距分析表；基于線距分析表對硬盤布線設計進行布線驗證，確定硬盤布線設計符合布線規范。實現了硬盤布線設計的自動檢測，提高了檢視效率、減少檢視人員的檢視時間以及減少因人為失誤導致的誤判。

技術領域

本發明涉及計算機技術領域，尤其涉及一種排查硬盤布線設計的方法、裝置、電子設備及存儲介質。

背景技術

在服務器硬件設計中，硬盤布線設計是非常重要的一個環節，如果硬盤布線設計不良，將導致電路阻抗增大，甚至導致服務器損壞。因此，需要對硬盤布線設計進行嚴格的檢測。現有技術是通過在設計階段進行硬盤布線設計評審，檢視每段高速線距的差異。目前檢視工作是靠人力完成的，當硬盤中串行總線總數過多時，需要檢視人員花費較長的檢視時間，且存在因人為失誤導致誤判的現象。

發明內容

本發明提供一種排查硬盤布線設計的方法、裝置、電子設備及存儲介質，用以解決現有技術中通過人力進行排查硬盤布線設計，花費時間較長且存在誤判的缺陷，實現排查硬盤布線設計的自動檢測，提高了檢視效率、減少檢視人員的檢視時間、以及減少因人為失誤導致的誤判。

第一方面，本發明提供一種排查硬盤布線設計的方法，包括：

獲取硬盤布線設計的拓撲圖；

基于所述硬盤布線設計的拓撲圖，建立線距分析表；

基于所述線距分析表對所述硬盤布線設計進行布線驗證，確定所述硬盤布線設計符合布線規范。

在一些實施例中，所述基于所述硬盤布線設計的拓撲圖，建立線距分析表，包括：

基于所述硬盤布線設計的拓撲圖和布線規范，確定所述線距分析表中各待分析線段；

基于所述硬盤布線設計的拓撲圖，獲取所述線距分析表中各待分析線段的走線長度，將所述走線長度填入所述線距分析表中。

在一些實施例中，所述基于所述硬盤布線設計的拓撲圖，獲取所述線距分析表中各待分析線段的走線長度，包括：

通過布局程式提取所述硬盤布線設計的拓撲圖中各種線段的命名及走線長度；

通過命名方式，從所述硬盤布線設計的拓撲圖中各種線段的命名中找出與所述線距分析表中各待分析線段對應一致的命名，并自動匹配出所述線距分析表中各待分析線段的走線長度。

在一些實施例中，所述基于所述線距分析表對所述硬盤布線設計進行布線驗證，確定所述硬盤布線設計符合布線規范，包括：

基于所述線距分析表中各待分析線段的走線長度，對所述硬盤布線設計進行總長驗證，得到總長驗證結果；

基于所述線距分析表中各待分析線段的走線長度，對所述硬盤布線設計進行差分對等長驗證，得到差分對等長驗證結果；

基于所述線距分析表中各待分析線段的走線長度，對所述硬盤布線設計進行綁定組別等長驗證，得到綁定組別等長驗證結果；

基于所述總長驗證結果、差分對等長驗證結果以及綁定組別等長驗證結果，確定所述硬盤布線設計符合布線規范。

在一些實施例中，所述基于所述線距分析表中各待分析線段的走線長度，對所述硬盤布線設計進行總長驗證，得到總長驗證結果，包括：

基于所述線距分析表中各待分析線段的走線長度，計算各待分析線段的走線長度之和，得到第一長度；

確定所述第一長度是否滿足硬盤布線設計的總長限制，得到總長驗證結果。