[發明專利]硼酸檢測試片及硼酸檢測方法在審
| 申請號: | 202211616139.X | 申請日: | 2022-12-15 |
| 公開(公告)號: | CN116381031A | 公開(公告)日: | 2023-07-04 |
| 發明(設計)人: | 顧秉宸;戴宇涵;林晏竹;丘兆欽;蔡清評;吳昌翰;王炳昱 | 申請(專利權)人: | 住華科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N27/626 | 分類號: | G01N27/626 |
| 代理公司: | 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金國 |
| 地址: | 中國臺灣臺南*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 硼酸 檢測 試片 方法 | ||
本發明提供一種硼酸檢測試片及硼酸檢測方法,硼酸檢測試片能夠配合一檢測裝置以檢測一待測物的硼酸濃度,硼酸檢測試片包含一基板、一隔離件以及一電極層;隔離件凸設于該檢測區周緣,該隔離件為抗酸鹼疏水材質,且隔離件凸起的高度介于1至1.5毫米;電極層設于基板,電極層具有一工作電極、一對電極以及一參考電極,工作電極的材料為金,對電極的材料為碳,其中,工作電極的面積介于1.2至1.8平方毫米;借此,能夠透過硼酸檢測試片快速取得高準確度的硼酸檢測結果;本發明另提供了一種硼酸檢測方法,其利用硼酸檢測試片于一特征電位范圍取得一特征信息,并通過特征信息以及一預先建立的標準曲線,運算取得待測物的硼酸濃度。
技術領域
本發明是關于一種硼酸檢測相關技術,尤指一種電化學硼酸檢測試片及硼酸檢測方法。
背景技術
硼酸為工業制程的重要原料的一,在化學工業、合成材料工業、光電工業上都有相當廣泛的用途,硼酸的濃度偵測主要以電感耦合等離子體發射光譜(ICP-OES)檢測以及電化學滴定法兩種方式為主。
其中,利用ICP-OES方式檢測硼酸濃度的精準度相當高,其能夠將樣品進行霧化與電離而將樣品轉換為離子,并測量樣品的原子或離子以元素特定的特征波長發射的輻射強度,以取得硼酸的濃度。
此外,電化學滴定法為目前硼酸檢測最普遍的檢測方式,電化學滴定法透過棒狀電極感應樣品溶液的酸堿變化,并以滴定方式得到滴定當量點,而反推出樣品的硼酸的濃度。
然而,以ICP-OES檢測技術量測硼酸雖然能夠達到良好的特異性,但ICP-OES檢測技術必須以大型的實驗室檢測儀器并配合專業人員進行儀器操作,且須等到數小時后才能取得分析結果,而無法符合現場檢測的需求。
而電化學滴定法雖然所需的儀器需求不高也較容易操作,取得檢測結果的時間也只需要數十分鐘,但其判斷硼酸的特異性不高,因為其在滴定的過程中,即使在樣品中加入甘露醇以穩定硼酸的電化學特性,若樣品內含有其他強酸或強堿(例如硫酸或氫氧化鈉)等強烈氧化還原類的化學成分存在,量測數值就十分容易受到干擾,且無法以補償的方式取得實際的濃度,而造成硼酸濃度誤判。
發明內容
本發明主要目的在于提供一種硼酸檢測試片及硼酸檢測方法,能夠以簡便的檢測設備快速取得高準確度的硼酸檢測結果。
為達上述目的,本發明的一項實施例提供一種硼酸檢測試片,其能夠配合一檢測裝置以檢測一待測物的硼酸濃度,硼酸檢測試片包含一基板、一隔離件以及一電極層;隔離件凸設于該檢測區周緣,該隔離件為抗酸鹼疏水材質,且隔離件凸起的高度介于1至1.5毫米;電極層設于基板,電極層具有一工作電極、一對電極以及一參考電極,工作電極的材料為金,對電極的材料為碳,其中,工作電極的面積介于1.2至1.8平方毫米。
本發明的一項實施例提供一種硼酸檢測方法,其包含一樣品預處理步驟、一準備步驟、一待測物注入步驟、一檢測步驟以及一運算步驟;于樣品預處理步驟中,將一樣品與一導電試劑混和以形成一待測物;于準備步驟中,準備一硼酸檢測試片并將其與一檢測裝置連接,其中,硼酸檢測試片包含一基板以及一電極層,電極層具有一工作電極、一對電極以及一參考電極,工作電極的材料為金,對電極的材料為碳,其中,工作電極的面積介于1.2至1.8平方毫米;于待測物注入步驟中,將待測物注入硼酸檢測試片;于檢測步驟中,對硼酸檢測試片施加一檢測電位范圍,以在一特征電位范圍取得一特征信息,其中,檢測電位范圍為0至-1800毫伏,特征電位范圍為-1000至-1600毫伏;于運算步驟中,依據特征信息以及一預先建立的標準曲線,以運算取得待測物的硼酸濃度。
本發明的一項實施例提供一種硼酸檢測方法,其包含一準備步驟,準備一硼酸檢測試片并將其與一檢測裝置連接,其中,該硼酸檢測試片包含一基板以及一電極層,該電極層具有一工作電極、一對電極以及一參考電極;一待測物注入步驟,將一待測物注入該硼酸檢測試片;一檢測步驟,對該硼酸檢測試片施加一檢測電位范圍,以在一特征電位范圍取得一特征信息;以及一運算步驟,依據該特征信息以及一預先建立的標準曲線,以運算取得該待測物的硼酸濃度。
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