[發明專利]一種TO封裝元器件成形裝置及成形方法在審
| 申請號: | 202211599888.6 | 申請日: | 2022-12-12 |
| 公開(公告)號: | CN116207008A | 公開(公告)日: | 2023-06-02 |
| 發明(設計)人: | 馬征;郭鵬飛;王林;秦天飛;王辰宇;甄榕;張云漢;許艷凱;朱寧 | 申請(專利權)人: | 北京航天控制儀器研究所 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67;H01L21/687;H01L21/60;H01L23/48 |
| 代理公司: | 中國航天科技專利中心 11009 | 代理人: | 馬全亮 |
| 地址: | 100854 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 to 封裝 元器件 成形 裝置 方法 | ||
本發明涉及一種TO封裝元器件成形裝置,包括校正模具、固定模塊、夾持模塊、成形模塊、下壓模塊、伺服剪切機構。TO封裝元器安裝時為匹配焊盤及提高元器件的抗震效果,需要按標準進行成形操作,以使元器件引線在振動環境下有應力釋放空間,防止器件引線根部受力,導致產品功能失效。由于結構復雜性,目前只能由操作人員手工完成成形,成形一致性差,反復彎折引線易對元器件根部造成損傷。本發明通過采用一體式成形模具設計,結合伺服運動機構,構建完成元器件成形與引線剪切,實現TO封裝元器件引線剪切、成形一次完成,大大降低對人員技能要求,成形效率提升20倍,元器件成形后一致性好,引線壓痕小于直徑的10%,大幅度提高TO封裝元器件成形質量。
技術領域
本發明涉及一種TO封裝元器件成形裝置及成形方法,可對多引線TO圓形封裝元器件進行成形。
背景技術
TO的英文名稱是:Transistor?Outline(晶體管外形),是一種晶體管封裝,本文專指單邊引出的通孔插裝晶體管,如圖1中a)所示。航天電子產品由于其可靠性要求,對于通孔插裝的TO封裝晶體管仍有很大需求,該型封裝器件為了有更好的抗震效果,在設計時會留有成形余量,安裝前根據印制板開孔布局進行元器件成形,以使元器件引線分布與印制板布局匹配,成形后的器件在振動過程中能夠減小引線根部的應力。
該類型封裝器件結構復雜,成形時不易固定,目前僅能依靠操作人員進行手工成形操作,對人員操作技能要求高,一個器件成形需要花費20min左右,一旦出現成形后無法與印制板開孔匹配,返工過程極易造成元器件受損報廢,返工難度大,且成形效率低、成形一致性低。
發明內容
本發明的目的在于:克服現有技術的不足,提出一種TO封裝元器件成形裝置及成形方法,實現了TO封裝器件的高質量、高效率成形,解決了手工成形可能造成的元器件受損報廢、返工難度大、成形一致性低的問題。
本發明目的通過如下技術方案予以實現:
一種TO封裝元器件成形裝置,包括:校正模具、固定模塊、夾持模塊、成形模塊、下壓模塊、伺服剪切機構;
校正模具用于TO封裝的元器件引線矯直,元器件引線矯直完成后,將元器件放入固定模塊與夾持模塊中,通過夾持固定令元器件不進行位移,同時可固定元器件引線根部,防止元器件引線根部因成形受力損壞;
成形模塊包括上成形工裝和下成形工裝,成形模塊與下壓模塊配合使用,通過下壓機構使上成形工裝下壓,成形操作通過下成形工裝的形狀與上成形工裝擠壓完成;成形完成后使用伺服剪切機構對元器件引線進行剪切;
加持模塊與成形模塊之間采用間隙配合。
進一步的,夾持模塊用于夾持下成形工裝,元器件放入固定工裝后,將分離式的下成形工裝推入固定成形位置,夾持模塊與下成形工裝連接,可拆卸;下成形工裝,用于固定引線根部。
進一步的,校正模具進行校正時,將元器件放置于校正模具頂端,使用滾輪將元器件引線壓至校正模具的校正槽中,完成校正工作,元器件完成校正后,即可開始成形工序。
進一步的,在成形模塊的折彎處,均設計圓形倒角,倒角直徑等同于引線直徑,同時,上、下成形工裝均設計凹槽,使元器件引線放置在凹槽內,凹槽直徑為1.5倍引線直徑,從而減輕元器件引線刻痕,且保證引線成形達標。
進一步的,還包括控制模塊和鎖定機構,伺服剪切機構上設置有三孔、八孔引線剪切位,設置有可拆卸的高度控制凸臺,用于調節元器件抬高高度,確保引線剪切高度;伺服剪切機構與鎖定機構通過控制模塊進行氣動控制,先緊固元器件引線,后使用刀片裁切元器件引線。
進一步的,固定模塊、夾持模塊與成形模塊均存在形位公差關系,其中固定模塊直徑R1略大于元器件管殼外徑R,取1倍~1.1倍比例系數,具體為:
R1=(1~1.1)R。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





