[發明專利]基于傳感器的競走騰空與屈膝犯規動作自動檢測儀在審
| 申請號: | 202211577989.3 | 申請日: | 2022-12-09 |
| 公開(公告)號: | CN115721921A | 公開(公告)日: | 2023-03-03 |
| 發明(設計)人: | 宋祺鵬;孫威;張翠 | 申請(專利權)人: | 山東體育學院 |
| 主分類號: | A63B71/06 | 分類號: | A63B71/06;A61B5/11;A61B5/00 |
| 代理公司: | 濟南舜源專利事務所有限公司 37205 | 代理人: | 張營磊 |
| 地址: | 250000 山東省*** | 國省代碼: | 山東;37 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 傳感器 競走 騰空 屈膝 犯規 動作 自動檢測 | ||
1.基于傳感器的競走騰空與屈膝犯規動作自動檢測儀,包括腰帶(1),其特征在于:還包括綁帶(29),所述綁帶(29)的側表面固定連接有第一傳感器(28),所述綁帶(29)的下方設置有第二傳感器(32);
所述腰帶(1)的兩側分別固定連接有側塊(2),所述側塊(2)的前表面設置有繃緊機構,所述腰帶(1)的內側設置有兩個第三傳感器(34),所述腰帶(1)的前表面設置有主控模塊(35);
所述主控模塊(35)與第一傳感器(28)、第二傳感器(32)以及第三傳感器(34)分別進行電性連接,且電性連接的接線共同被包裹成一根連接線(33);
所述連接線(33)經過繃緊機構且被繃緊機構向上方拉扯。
2.根據權利要求1所述的基于傳感器的競走騰空與屈膝犯規動作自動檢測儀,其特征在于:所述繃緊機構包括轉動安裝在側塊(2)前表面的轉軸(3),所述轉軸(3)的前端固定連接有端盤(6),所述轉軸(3)的外表面固定套設有外盤(5),所述端盤(6)與外盤(5)之間設置有若干個夾緊機構,所述轉軸(3)的后端與側塊(2)間設置有復位機構。
3.根據權利要求2所述的基于傳感器的競走騰空與屈膝犯規動作自動檢測儀,其特征在于:所述夾緊機構包括滑動穿過端盤(6)前表面的方桿(7)、固定連接在方桿(7)前端的限位盤(11)、固定連接在方桿(7)后端的壓塊(8)、套設在方桿(7)外側的壓縮彈簧(10),所述壓縮彈簧(10)位于壓塊(8)與端盤(6)之間,所述壓塊(8)的后端面開設有凹槽(9)。
4.根據權利要求3所述的基于傳感器的競走騰空與屈膝犯規動作自動檢測儀,其特征在于:所述轉軸(3)的后端固定連接有內盤(4),所述內盤(4)滑動嵌入側塊(2)的后表面。
5.根據權利要求4所述的基于傳感器的競走騰空與屈膝犯規動作自動檢測儀,其特征在于:所述復位機構包括固定連接在內盤(4)后表面的連接頭(12)、轉動設置在側塊(2)后表面的轉動塊(16),所述轉動塊(16)的前端固定連接有卡入盤(18),所述卡入盤(18)轉動嵌入在側塊(2)的后表面,所述轉動塊(16)的內側開設有內腔(17),所述連接頭(12)伸入至內腔(17)內側,且所述連接頭(12)固定卡裝渦卷彈簧(13)的簧內端(14),所述渦卷彈簧(13)的簧外端(15)固定卡裝有連接塊(19),所述連接塊(19)固定連接在卡入盤(18)的后表面。
6.根據權利要求5所述的基于傳感器的競走騰空與屈膝犯規動作自動檢測儀,其特征在于:所述側塊(2)的后表面靠近上邊處固定連接有上板(21),所述側塊(2)的后表面靠近上板(21)的下方處固定連接有下板(22),所述上板(21)的上表面滑動貫穿有插桿(23),所述插桿(23)的上端固定連接有限位頭(24),所述插桿(23)的外表面固定套設有推擠盤(25),所述推擠盤(25)活動貼在下板(22)的上表面,所述插桿(23)的外側套設有復位彈簧(26),所述復位彈簧(26)位于上板(21)與推擠盤(25)之間,所述插桿(23)的下端與轉動塊(16)的外表面插裝配合。
7.根據權利要求6所述的基于傳感器的競走騰空與屈膝犯規動作自動檢測儀,其特征在于:所述轉動塊(16)的外表面開設有限位孔(20),所述限位孔(20)設置不少于十個且呈等距的環形陣列排布,所述插桿(23)的下端滑動插入其中一個限位孔(20)的內側。
8.根據權利要求5所述的基于傳感器的競走騰空與屈膝犯規動作自動檢測儀,其特征在于:所述轉動塊(16)的外表面靠近后端處凸設有防滑紋(27)。
9.根據權利要求1所述的基于傳感器的競走騰空與屈膝犯規動作自動檢測儀,其特征在于:所述第二傳感器(32)的側表面固定連接兩個固定片(31),兩個所述固定片(31)之間轉動連接有兩個轉筒(30)。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于山東體育學院,未經山東體育學院許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202211577989.3/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:蝕刻液的檢測方法
- 下一篇:一種半導體芯片的制造方法及半導體芯片





