[發(fā)明專利]用于時鐘馴服的頻率偏移量分析方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202211575728.8
• 申請日: 2022-12-09
• 公開（公告）號: CN115657448B
• 公開（公告）日: 2023-03-28
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陳俊儒;王茂凌;孫旭
• 申請（專利權(quán)）人: 電信科學(xué)技術(shù)第五研究所有限公司
• 主分類號: G04R20/04
• 分類號: G04R20/04
• 代理公司: 北京天奇智新知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11340
• 代理人: 王大剛

1.用于時鐘馴服的頻率偏移量分析方法，其特征在于，包括：

S1、獲取當(dāng)前觀測數(shù)據(jù)和歷史觀測數(shù)據(jù)；

S2、修正歷史觀測數(shù)據(jù)，具體包括：

S21、假設(shè)當(dāng)前的本地時鐘頻率控制值為C₀、時間為t₀，相位為ph₀，之前一秒的數(shù)據(jù)為C₁、t₁、ph₁，……，數(shù)據(jù)n的時鐘頻率控制值為C_n、時間為t_n、相位為ph_n，本地時鐘的頻率值feq與執(zhí)行的頻率控制值C之間的對應(yīng)關(guān)系為feq=f(C)；

S22、數(shù)據(jù)n的相位修正值計算方法為 ;

S23、數(shù)據(jù)n的相位經(jīng)過修正后的值為；

S3、處理當(dāng)前觀測數(shù)據(jù)和修正后歷史觀測數(shù)據(jù)的異常數(shù)據(jù)；具體包括：

S31、用拉依達(dá)準(zhǔn)則和接收機(jī)報文內(nèi)容判斷兩種方法共同來篩選異常數(shù)據(jù)，當(dāng)拉依達(dá)準(zhǔn)則和接收機(jī)報文內(nèi)容任一判斷確定為異常數(shù)據(jù)時，對異常數(shù)據(jù)做異常丟棄標(biāo)記；

S32、從異常丟棄標(biāo)記序列開頭Mark₀開始，依次向后尋找第一個未被標(biāo)記異常丟棄的標(biāo)志位，作為Mark_i；從Mark_i開始，依次向后尋找第一個被標(biāo)記異常丟棄的標(biāo)志位Mark_m+1；

S33、判斷是否尋找到Mark_m+1，若是，則令m+1=m，并返回S32；若否，則Mark_m=Mark_n；Mark_i到Mark_m的數(shù)據(jù)是一段未被“斷點”分割的連續(xù)觀測數(shù)據(jù)，并進(jìn)入S34；

S34、重復(fù)S33與S34，直到當(dāng)前觀測數(shù)據(jù)中數(shù)據(jù)Mark₀、Mark₁、……Mark_n全部被處理，得到若干組類似Mark_i到Mark_m的數(shù)據(jù)；

S35、對每一組Mark_i到Mark_m的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，具體為：

對應(yīng)的修正后相位序列ph-fix_i到ph-fix_m中每個元素值分別減去ph-fix_i，得到數(shù)據(jù)組ph-fix_i-ph-fix_i、ph-fix_i+1-ph-fix_i、……、ph-fix_m-ph-fix_i，存入數(shù)據(jù)集合Y；

將對應(yīng)的時間序列t_i到t_m中每個元素值分別減去t_i，得到數(shù)據(jù)組t_i-t_i、t_i+1-t_i、……、t_m-t_i，存入數(shù)據(jù)集合X；

S4、采用加權(quán)最小二乘法對處理后的數(shù)據(jù)進(jìn)行直線擬合計算頻率偏移量。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于時鐘馴服的頻率偏移量分析方法，其特征在于，在S4中具體包括：

S41、建立一個數(shù)量為n的數(shù)據(jù)集合Weight，用來代表數(shù)據(jù)集合X、Y中對應(yīng)元素的加權(quán)值,Weight具體加權(quán)值由最初的觀測數(shù)據(jù)中時間序列t₀、t₁、……、t_n酌情擬定：t_n為最近的時刻，對應(yīng)的權(quán)重設(shè)置為100%；t_n-1、t_n-2、……、t₀依次減少權(quán)重；

S42、帶入權(quán)重采用最小二乘法直線擬合公式進(jìn)行直線擬合計算頻率偏移量，表示為。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于時鐘馴服的頻率偏移量分析方法，其特征在于，在S31中，接收機(jī)報文內(nèi)容包括授時有效標(biāo)志位和可用衛(wèi)星數(shù)量，當(dāng)衛(wèi)星數(shù)量大于4和授時有效標(biāo)志位位于NMEA0183協(xié)議GGA報文中時，該觀測數(shù)據(jù)則為正常數(shù)據(jù)，反之觀測數(shù)據(jù)則為異常數(shù)據(jù)。