[發明專利]一種GPU芯片功耗自動化測試的裝置和方法

在審

• 申請號: 202211566296.4
• 申請日: 2022-12-07
• 公開（公告）號: CN115932544A
• 公開（公告）日: 2023-04-07
• 發明（設計）人: 藍承燕
• 申請（專利權）人: 長沙景嘉微電子股份有限公司;長沙景美集成電路設計有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R21/06
• 代理公司: 北京科慧致遠知識產權代理有限公司 11739
• 代理人: 王乾旭

本申請提供一種GPU芯片功耗自動化測試的裝置和方法，該裝置，包括：電腦主機，裝有GPU芯片的測試工裝和輔助測試設備；輔助測試設備，包括總電源和PCIE延長線；電腦主機通過PCIE延長線連接測試工裝；電腦主機，用于為測試工裝提供驅動和運行環境，運行功耗測試相關程序，獲取并展示功耗檢測相關數據；測試工裝，用于調制GPU芯片的板卡，采集并通過串口輸出GPU芯片的數據；總電源，用于通過可編程直流電源給測試工裝整板供電。本申請提供的裝置基于電腦主機，裝有GPU芯片的測試工裝和輔助測試設備，實現自動化測試和記錄GPU芯片在各種場景下的功耗數據，以達到提高功耗測試的準確性和效率的目的。

技術領域

本申請涉及測試技術領域，尤其涉及一種GPU芯片功耗自動化測試的裝置和方法。

背景技術

GPU(Graphics?Processing?Unit，圖形處理器)芯片在流片后的調測和項目研發階段均需要投入大量的時間和精力在功耗測試中，并且根據項目的不同，對功耗的需求大不相同，此時工作人員得反復地進行測試。當碰上實測需求量大的時候，比如有組合場景需求，需要遍歷多種分辨率配置、多種GPU頻率配置、多種顯示輸出口和多種應用類型時，組合后工作量非常大，并且伴有數據記錄錯誤等問題，GPU芯片功耗測試的效率和正確性均有待提升。

申請號為CN202111082634.2的專利申請公開了一種功耗測試方法，設備中的控制模塊響應于針對待測芯片觸發的功耗測試操作，獲取所述待測芯片關聯的測試腳本集；所述控制模塊根據所述待測芯片的型號，在所述待測芯片關聯的測試腳本集中確定目標測試腳本；控制模塊設定所述待測芯片對應的測試溫度，并觸發所述待測芯片進入至預設低功耗模式，根據所述目標測試腳本測試所述待測芯片在測試溫度下的功耗。

該方法較為單一，未考慮溫度以外多種因素對芯片的功耗影響，未考慮GPU芯片內部子模塊的功耗，在GPU芯片的功耗測試上有一定的局限性。

發明內容

為了解決上述技術缺陷之一，本申請提供了一種GPU芯片功耗自動化測試的裝置和方法。

本申請第一個方面，提供了一種GPU芯片功耗自動化測試的裝置，裝置包括：電腦主機，裝有圖形處理器GPU芯片的測試工裝和輔助測試設備；

輔助測試設備，包括總電源和高速串行計算機擴展總線標準PCIE延長線；

電腦主機通過PCIE延長線連接測試工裝；

電腦主機，用于為測試工裝提供驅動和運行環境，運行功耗測試相關程序，獲取并展示功耗檢測相關數據；

測試工裝，用于調制GPU芯片的板卡，采集并通過串口輸出GPU芯片的數據；

總電源，用于通過可編程直流電源給測試工裝整板供電。

可選地，輔助測試設備，還包括：RS232串口通信線纜、顯示輸出線纜和顯示器。

可選地，測試工裝中集成功耗檢測電路；

功耗檢測電路包括電流檢測模塊和電壓檢測模塊。

可選地，電腦主機上運行功耗自動測試程序；

功耗自動測試程序，用于調用本地的硬件、固件、驅動控制GPU芯片的配置狀態達到目標運行狀態，獲取并保存目標運行狀態時的功耗數值。

可選地，功耗自動測試程序，包括：主控模塊、功耗處理模塊、正確性檢測模塊、溫度檢測模塊、電源域調節模塊、GPU頻率調節模塊、時鐘域時鐘門控模塊、時鐘域時鐘門控模塊、PCIE配置模塊、測試用例集。

可選地，

主控模塊，用于調用功耗自動測試程序中的各模塊；