[發(fā)明專利]電機(jī)故障檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202211549030.9 | 申請(qǐng)日: | 2022-12-05 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN116243161A | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-06-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張曉俊;萬(wàn)筱劍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市唯川科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/34 | 分類號(hào): | G01R31/34 |
| 代理公司: | 深圳市恒程創(chuàng)新知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44542 | 代理人: | 張小容 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市寶安區(qū)石*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電機(jī) 故障 檢測(cè) 方法 裝置 設(shè)備 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
1.一種電機(jī)故障檢測(cè)方法,其特征在于,所述電機(jī)故障檢測(cè)方法包括以下步驟:
在電機(jī)處于目標(biāo)運(yùn)行狀態(tài)時(shí),判斷當(dāng)前運(yùn)行參數(shù)與理論運(yùn)行參數(shù)之間的誤差是否符合預(yù)設(shè)條件;
若不符合所述預(yù)設(shè)條件,則獲取處于所述目標(biāo)運(yùn)行狀態(tài)下的歷史數(shù)據(jù);
判斷所述當(dāng)前運(yùn)行參數(shù)是否符合所述歷史數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的檢測(cè)條件;
若不符合所述檢測(cè)條件,則判定所述電機(jī)存在故障。
2.如權(quán)利要求1所述的電機(jī)故障檢測(cè)方法,其特征在于,所述在所述電機(jī)處于目標(biāo)運(yùn)行狀態(tài)時(shí),判斷當(dāng)前運(yùn)行參數(shù)與理論運(yùn)行參數(shù)之間的誤差是否符合預(yù)設(shè)條件的步驟,包括:
在所述電機(jī)處于目標(biāo)運(yùn)行狀態(tài)時(shí),采集所述當(dāng)前運(yùn)行參數(shù);
根據(jù)所述目標(biāo)運(yùn)行狀態(tài)下的實(shí)際控制參數(shù)確定理論運(yùn)行參數(shù),并查詢所述理論運(yùn)行參數(shù)允許的標(biāo)準(zhǔn)誤差范圍;
判斷當(dāng)前運(yùn)行參數(shù)與理論運(yùn)行參數(shù)之間的誤差是否符合所述標(biāo)準(zhǔn)誤差范圍;
相應(yīng)地,所述若不符合所述預(yù)設(shè)條件,則獲取處于所述目標(biāo)運(yùn)行狀態(tài)下的歷史數(shù)據(jù)的步驟,包括:
若不符合所述標(biāo)準(zhǔn)誤差范圍,則獲取處于所述目標(biāo)運(yùn)行狀態(tài)下的歷史數(shù)據(jù)。
3.如權(quán)利要求2所述的電機(jī)故障檢測(cè)方法,其特征在于,所述判斷所述當(dāng)前運(yùn)行參數(shù)是否符合歷史數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的檢測(cè)條件的步驟,包括:
在所述歷史數(shù)據(jù)中獲取與所述當(dāng)前運(yùn)行參數(shù)類型相同的目標(biāo)運(yùn)行參數(shù);
判斷所述當(dāng)前運(yùn)行參數(shù)是否屬于所述目標(biāo)運(yùn)行參數(shù)對(duì)應(yīng)的故障檢測(cè)范圍;
相應(yīng)地,所述若不符合所述檢測(cè)條件,則判定所述電機(jī)存在故障的步驟,包括:
若不屬于所述故障檢測(cè)范圍,則判定所述電機(jī)存在故障。
4.如權(quán)利要求3所述的電機(jī)故障檢測(cè)方法,其特征在于,所述判斷所述當(dāng)前運(yùn)行參數(shù)是否屬于所述目標(biāo)運(yùn)行參數(shù)對(duì)應(yīng)的障檢測(cè)范圍的步驟之前,還包括:
確定所述目標(biāo)運(yùn)行參數(shù)與所述理論運(yùn)行參數(shù)之間的偏差值,并獲取所述目標(biāo)運(yùn)行狀態(tài)對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)上限值以及預(yù)設(shè)下限值;
通過(guò)所述預(yù)設(shè)上限值以及所述偏差值確定檢測(cè)上限閾值,并根據(jù)所述預(yù)設(shè)下限值以及所述偏差值確定檢測(cè)下限閾值;
基于所述檢測(cè)下限閾值與所述檢測(cè)上限閾值構(gòu)建檢測(cè)范圍,并將所述檢測(cè)范圍作為所述目標(biāo)參數(shù)對(duì)應(yīng)的故障檢測(cè)范圍。
5.如權(quán)利要求3所述的電機(jī)故障檢測(cè)方法,其特征在于,所述判斷所述當(dāng)前運(yùn)行參數(shù)是否屬于所述目標(biāo)運(yùn)行參數(shù)對(duì)應(yīng)的故障檢測(cè)范圍的步驟之后,還包括:
若屬于所述故障檢測(cè)圍,則判定所述電機(jī)未存在故障。
6.如權(quán)利要求5所述的電機(jī)故障檢測(cè)方法,其特征在于,所述若屬于所述故障檢測(cè)圍,則判定所述電機(jī)未存在故障的步驟之后,還包括:
更新所述當(dāng)前運(yùn)行參數(shù)與所述理論運(yùn)行參數(shù)之間的誤差至所述標(biāo)準(zhǔn)誤差范圍。
7.如權(quán)利要求1至6任一項(xiàng)所述的電機(jī)故障檢測(cè)方法,其特征在于,所述若不符合所述檢測(cè)條件,則判定所述電機(jī)存在故障的步驟之后,還包括:
在預(yù)設(shè)零部件映射關(guān)系中查詢與所述當(dāng)前運(yùn)行參數(shù)對(duì)應(yīng)的目標(biāo)零部件,并對(duì)所述目標(biāo)零部件的位置進(jìn)行提示,所述預(yù)設(shè)零部件映射關(guān)系存有當(dāng)前運(yùn)行參數(shù)與零部件之間的映射關(guān)系。
8.一種電機(jī)故障檢測(cè)裝置,其特征在于,所述裝置包括:
預(yù)設(shè)條件模塊,用于在電機(jī)處于目標(biāo)運(yùn)行狀態(tài)時(shí),判斷當(dāng)前運(yùn)行參數(shù)與理論運(yùn)行參數(shù)之間的誤差是否符合預(yù)設(shè)條件;
歷史數(shù)據(jù)模塊,用于若不符合所述預(yù)設(shè)條件,則獲取處于所述目標(biāo)運(yùn)行狀態(tài)下的歷史數(shù)據(jù);
檢測(cè)條件模塊,用于判斷所述當(dāng)前運(yùn)行參數(shù)是否符合所述歷史數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的檢測(cè)條件;
故障檢測(cè)模塊,用于若不符合所述檢測(cè)條件,則判定所述電機(jī)存在故障。
9.一種電機(jī)故障檢測(cè)設(shè)備,其特征在于,所述設(shè)備包括:存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的電機(jī)故障檢測(cè)程序,所述電機(jī)故障檢測(cè)程序配置為實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的電機(jī)故障檢測(cè)方法的步驟。
10.一種存儲(chǔ)介質(zhì),其特征在于,所述存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有電機(jī)故障檢測(cè)程序,所述電機(jī)故障檢測(cè)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的電機(jī)故障檢測(cè)方法的步驟。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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