[發明專利]一種LED芯片巨量轉移用測轉實時共位的檢測裝置在審
| 申請號: | 202211548336.2 | 申請日: | 2022-12-05 |
| 公開(公告)號: | CN115763319A | 公開(公告)日: | 2023-03-07 |
| 發明(設計)人: | 劉強;王和標;焦飛騰;王偉;馬寧;牛萍娟;桑建 | 申請(專利權)人: | 北京石油化工學院;北京海炬電子科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67;H01L21/68;H01L25/075 |
| 代理公司: | 北京凱特來知識產權代理有限公司 11260 | 代理人: | 鄭立明;趙鎮勇 |
| 地址: | 102600 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 led 芯片 巨量 轉移 用測轉 實時 檢測 裝置 | ||
1.一種LED芯片巨量轉移用測轉實時共位的檢測裝置,主要由芯片轉移系統、對位系統和光學檢測系統三部分組成,其特征在于:
所述芯片轉移系統主要包括:平臺底座(1)、前立柱支座(2A)、后立柱支座(2B)、前激光頭立柱(3A)、后激光頭立柱(3B)、前激光頭縱向鎖緊環(4A)、后激光頭縱向鎖緊環(4B)、前激光頭固定座(5A)、后激光頭固定座(5B)、激光頭橫向底板(6)、激光頭導軌(7)、激光頭連接板(8)和激光頭(9);
所述對位系統主要包括:芯片載板支撐臺(10)、芯片載板左右對位平臺(11)、芯片載板前后對位平臺(12)、芯片載板組件(13)、目標基板對位平臺墊板(14)、目標基板左右對位平臺(15)、目標基板前后對位平臺(16)、目標基板上下對位平臺(17)和目標基板(18);
所述光學檢測系統主要包括:檢測底板(19)、檢測裝置立柱(20)、正萬向支架組件(21A)、側萬向支架組件(21B)、正調焦組件(22A)、側調焦組件(22B)、正檢測相機組件(23A)和側檢測相機組件(23B);
所述平臺底座(1)位于前立柱支座(2A)、后立柱支座(2B)、前激光頭立柱(3A)和后激光頭立柱(3B)的下方,前立柱支座(2A)和后立柱支座(2B)分別位于平臺底座(1)的右前上角和右后上方,并通過緊固螺釘安裝在平臺底座(1)上,前激光頭立柱(3A)和后激光頭立柱(3B)分別位于前立柱支座(2A)和后立柱支座(2B)的空心圓筒內,并通過螺紋配合安裝在前立柱支座(2A)和后立柱支座(2B)上,前激光頭縱向鎖緊環(4A)和后激光頭縱向鎖緊環(4B)分別套在前激光頭立柱(3A)和后激光頭立柱(3B)的中上端,并通過緊固螺釘安裝在前激光頭立柱(3A)和后激光頭立柱(3B)上,前激光頭固定座(5A)和后激光頭固定座(5B)分別位于前激光頭縱向鎖緊環(4A)和后激光頭縱向鎖緊環(4B)的外側,前激光頭固定座(5A)和后激光頭固定座(5B)通過緊固螺釘分別固定在前激光頭縱向鎖緊環(4A)和后激光頭縱向鎖緊環(4B)上,激光頭橫向底板(6)位于前激光頭固定座(5A)和后激光頭固定座(5B)左側表面上,并通過緊固螺釘安裝在前激光頭固定座(5A)和后激光頭固定座(5B)上,激光頭導軌(7)位于激光頭橫向底板(6)的左側表面上,并通過緊固螺釘安裝在激光頭橫向底板(6)上,閥體連接板(8)通過滑軌連接到激光頭導軌(7)的左側導軌凸臺上,激光頭(9)位于閥體連接板(8)的左側表面上,并通過緊固螺釘安裝在閥體連接板(8)上,芯片載板支撐臺(10)位于平臺底座(1)的上端,芯片載板支撐臺(10)位于前立柱支座(2A)和后立柱支座(2B)的左側,并通過緊固螺釘安裝在平臺底座(1)上,芯片載板左右對位平臺(11)、芯片載板前后對位平臺(12)和芯片載板組件(13)位于芯片載板支撐臺(10)的上方,從下至上依次為芯片載板左右對位平臺(11)、芯片載板前后對位平臺(12)和芯片載板組件(13),芯片載板左右對位平臺(11)位于芯片載板支撐臺(10)的上表面,并通過緊固螺釘安裝在芯片載板支撐臺(10)上,芯片載板前后對位平臺(12)位于芯片載板左右對位平臺(11)的上表面,并通過緊固螺釘安裝在芯片左右對位平臺(11)上,芯片載板組件(13)位于芯片載板前后對位平臺(12)的上表面,并通過緊固螺釘安裝在芯片載板前后對位平臺(12)上,目標基板對位平臺墊板(14)位于平臺底座(1)的上表面,目標基板對位平臺墊板(14)位于前立柱支座(2A)和后立柱支座(2B)的左側,目標基板對位平臺墊板(14)位于芯片載板支撐臺(10)的后方,并通過緊固螺釘安裝在平臺底座(1)上,目標基板左右對位平臺(15)、目標基板前后對位平臺(16)、目標基板上下對位平臺(17)和目標基板(18)位于目標基板對位平臺墊板(14)的上方,從下至上依次為目標基板左右對位平臺(15)、目標基板前后對位平臺(16)、目標基板上下對位平臺(17)和目標基板(18),目標基板左右對位平臺(15)位于目標基板對位平臺墊板(14)的上表面,并通過緊固螺釘安裝在目標基板對位平臺墊板(14)上,目標基板前后對位平臺(16)位于目標基板左右對位平臺(15)的上表面,并通過緊固螺釘安裝在目標基板左右對位平臺(15)上,目標基板上下對位平臺(17)位于目標基板前后對位平臺(16)的上表面,并通過緊固螺釘安裝在目標基板前后對位平臺(16)上,目標基板(18)位于目標基板上下對位平臺(17)的上表面,并通過緊固螺釘安裝在目標基板上下對位平臺(17)上,檢測底板(19)位于平臺底座(1)左后側表面,檢測底板(19)位于目標基板對位平臺墊板(14)左后側,并通過緊固螺釘安裝在平臺底座(1)上,檢測裝置立柱(20)位于檢測底板(19)的上表面中心圓孔內,并通過螺紋配合安裝在檢測底板(19)上,正萬向支架組件(21A)位于檢測裝置立柱(20)的上半端,正萬向支架組件(21A)與X方向軸重合,并通過鎖緊裝置套在檢測裝置立柱(20)上,側萬向支架組件(21B)位于檢測裝置立柱(20)的上半端,側萬向支架組件(21B)位于正萬向支架組件(21A)的上方,側萬向支架組件(21B)與Y方向軸重合,并通過鎖緊裝置套在檢測裝置立柱(20)上,正調焦組件(22A)位于正萬向支架組件(21A)的前端部分,并通過鎖緊裝置套在正萬向支架組件(21A)上,側調焦組件(22B)位于側萬向支架組件(21B)的前端,并通過鎖緊裝置套在側調焦組件(22B)上,正檢測相機組件(23A)位于正調焦組件(22A)的圓柱安裝筒內,并通過螺紋配合安裝在正檢測相機組件(23A)上,側檢測相機組件(23B)位于側調焦組件(22B)的圓柱安裝筒內,并通過螺紋配合安裝在側調焦組件(22B)上。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
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H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





