[發明專利]編碼圖形掃描測試的校準方法與測試系統

在審

• 申請號: 202211537214.3
• 申請日: 2022-12-01
• 公開（公告）號: CN115983295A
• 公開（公告）日: 2023-04-18
• 發明（設計）人: 林明儒
• 申請（專利權）人: 環鴻電子（昆山）有限公司
• 主分類號: G06K7/00
• 分類號: G06K7/00;G06K7/10;G06K7/14
• 代理公司: 上海音科專利商標代理有限公司 31267
• 代理人: 張惠萍

1.一種編碼圖形掃描測試的校準方法，是利用掃描儀掃描設于電路板上的編碼圖形以進行掃描測試，所述電路板在所述編碼圖形的外圍還設有光偵測器陣列，所述光偵測器陣列包含有多個光偵測器，所述編碼圖形掃描測試的校準方法的特征在于步驟包括：

啟動所述掃描儀的光發射器以投射準星于所述電路板上；

根據感測到所述準星的多個光偵測器中的至少一個的坐標位置而計算出準星偏移位置；

根據所述準星偏移位置調整所述掃描儀，以使投射的所述準星位于所述編碼圖形。

2.如權利要求1所述的編碼圖形掃描測試的校準方法，其特征在于，

還包括獲得所述掃描儀的所述準星的圖形，并且在計算所述準星偏移位置的步驟中，是根據所述準星的圖形并根據感測到所述準星的多個光偵測器中的至少一個的坐標位置而計算出所述準星偏移位置。

3.如權利要求2所述的編碼圖形掃描測試的校準方法，其特征在于，

若所述準星的圖形為一圓形，根據感測到所述準星的光線的多個光偵測器中的坐標位置而獲得X坐標最大值、X坐標最小值、Y坐標最大值、Y坐標最小值，并依據一算法計算出所述準星偏移位置，該算法為其中(X_gc,Y_gc)為所述準星偏移位置，X_max為所述X坐標最大值，X_min為所述X坐標最小值，Y_max為所述Y坐標最大值，Y_min為所述Y坐標最小值。

4.如權利要求2所述的編碼圖形掃描測試的校準方法，其特征在于，

若所述準星的圖形為一個十字形，感測到所述準星的多個光偵測器區分為呈水平排列的多個第一光偵測器和呈垂直排列的多個第二光偵測器，其中，獲得多個第一光偵測器的Y坐標值和多個第二光偵測器的X坐標值，并依據一算法計算出所述準星偏移位置，該算法為(X_gc,Y_gc)＝(X_i,Y_j)，其中(X_gc,Y_gc)為所述準星偏移位置，X_i為多個第二光偵測器的X坐標值，Y_j為多個第一光偵測器的Y坐標值。

5.如權利要求1所述的編碼圖形掃描測試的校準方法，其特征在于，

在步驟中，若多個光偵測器都沒有感測到所述準星，則轉動所述掃描儀，直到多個光偵測器的至少一個感測到所述準星為止。

6.一種編碼圖形掃描測試的測試系統，用于測試掃描儀，所述掃描儀包含有光發射器，所述編碼圖形掃描測試的測試系統的特征在于包含有：

滑軌；

固定座，呈可滑動地設于所述滑軌上，用于承載所述掃描儀；

電路板，架設于所述滑軌上且位于遠離所述固定座的一側，該電路板的中央設有編碼圖形，并且多個光偵測器設于所述編碼圖形的外圍；以及

控制計算機，電連接所述電路板以獲得一個或多個感測到光的所述光偵測器的坐標位置。

7.如權利要求6所述的編碼圖形掃描測試的測試系統，其特征在于，

所述固定座還設有驅動馬達，所述控制計算機通過所述驅動馬達來控制所述固定座靠近或遠離所述電路板、或轉動所述掃描儀而以不同的方向掃描所述編碼圖形。

8.如權利要求6或7所述的編碼圖形掃描測試的測試系統，其特征在于，

所述光偵測器為環境光傳感器。

9.如權利要求6或7所述的編碼圖形掃描測試的測試系統，其特征在于，

所述編碼圖形為有形或無形的一個一維碼，或者是有形或無形的一個二維碼。

10.如權利要求6或7所述的編碼圖形掃描測試的測試系統，其特征在于，

所述光發射器為激光、LED或其他可見光源。