[發明專利]一種顯示器光學參數自動測試平臺

在審

• 申請號: 202211536976.1
• 申請日: 2022-12-02
• 公開（公告）號: CN115831017A
• 公開（公告）日: 2023-03-21
• 發明（設計）人: 鐘鴻杰;謝沛川;楊帆;溫存
• 申請（專利權）人: 深圳康佳電子科技有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 北京國貝知識產權代理有限公司 11698
• 代理人: 衛緯

本發明公開了一種顯示器光學參數自動測試平臺，包括：機架，所述機架包括驅動機構；測試探頭，設置在所述機架上，所述驅動機構用于帶動所述測試探頭自動移動；定位相機，用于獲取待測顯示器的尺寸和位置信息；主機，所述測試探頭和所述定位相機相連，所述主機用于控制所述測試探頭在所述定位相機確定的待測顯示器尺寸范圍內移動，以及接收并處理所述測試探頭的測試數據。本發明顯示器光學參數自動測試平臺，通過定位相機與機架組合，可以實現測試探頭的自動定位，再配合圖片發生器可以維持測試圖片連續切換，保證測試的連續性，從而實現測試自動化。

技術領域

本發明涉及光學測試技術領域，更加具體來說，本發明涉及一種顯示器光學參數自動測試平臺。

背景技術

目前市場上的顯示器光學參數測試大多是人工完成的，例如使用常見的光學測試設備CA310，CA410,CS2000等設備完成數據測試。這些設備均是手持式的，即需要測試人員參與，才能完成測試，但是由于人員操作存在很大的不確定性，對測試力度，測試位置的把控不可能保持一致，以及不同測試人員之間存在差異，所以在光學參數測試過程中，不可避免的會引入人為誤差，這種人為誤差有時會影響到最終的測試結果，從而影響評判。

市場上也存在一些自動化測試平臺，例如使用一臺測試設備，置于機器觀看距離的位置，對顯示器進行測試，這類設備可以提高測試的精度，但是一般存在測試限制，有的限制了顯示器的大小，有的數據功能不全。

發明內容

針對現有技術的不足，本發明創新地提供了一種顯示器光學參數自動測試平臺，能夠解決現有技術中存在的顯示器光學參數測試誤差大，以及適用范圍小等技術問題。

為實現上述的技術目的，本發明公開了一種顯示器光學參數自動測試平臺，包括：

機架，所述機架包括驅動機構；

測試探頭，設置在所述機架上，所述驅動機構用于帶動所述測試探頭自動移動；

定位相機，用于獲取待測顯示器的尺寸信息；

主機，所述測試探頭和所述定位相機相連，所述主機用于控制所述測試探頭在所述定位相機確定的待測顯示器尺寸范圍內移動，以及接收并處理所述測試探頭的測試數據。

進一步地，所述機架包括豎軌和橫軌，所述橫軌與所述豎軌相互垂直設置，

所述驅動機構包括設置在所述豎軌上的第一驅動機構，所述第一驅動機構與所述橫軌連接，用于驅動所述橫軌沿著所述豎軌滑動，

所述橫軌上設置有滑塊，所述驅動機構還包括設置在所述滑塊上的第二驅動機構，所述第二驅動機構用于驅動所述滑塊沿著所述橫軌滑動，

所述測試探頭設置在所述滑塊上。

進一步地，所述豎軌相互平行地設置有兩個，所述橫軌設置在兩個所述豎軌之間，兩個所述豎軌上均設置有所述第一驅動機構。

進一步地，所述第一驅動機構包括設置在所述豎軌上的從動輪和驅動輪，所述從動輪和所述驅動輪上連接有傳動條，所述驅動輪與驅動電機連接，所述橫軌與所述傳動條連接；和/或，

所述第二驅動機構包括設置在所述滑塊上的驅動齒輪和驅動電機，以及設置在所述橫軌上的齒條，所述驅動齒輪與所述齒條嚙合。

進一步地，所述驅動機構還包括設置在所述滑塊上的第三驅動機構，所述測試探頭與所述第三驅動機構連接，所述第三驅動機構可驅動所述測試探頭在垂直于所述豎軌和橫軌的方向上移動。

進一步地，所述第三驅動機構包括平行設置的多個連接桿，所述多個連接桿的兩端均分別與所述滑塊和所述測試探頭鉸接，

所述滑塊上設置有驅動電機，所述驅動電機用于驅動任意一個所述連接桿轉動。