[發(fā)明專利]一種用于軸承內(nèi)圈端面對內(nèi)孔垂直度檢測的測量裝置

在審

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• 申請日: 2022-11-29
• 公開（公告）號: CN115876060A
• 公開（公告）日: 2023-03-31
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 宮鳳然;孫慧霖;初光強;陳孝林;張長之;王歡
• 申請（專利權(quán)）人: 中國航發(fā)哈爾濱軸承有限公司
• 主分類號: G01B5/245
• 分類號: G01B5/245
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標(biāo)事務(wù)所 23109
• 代理人: 宋曉曉

一種用于軸承內(nèi)圈端面對內(nèi)孔垂直度檢測的測量裝置，它涉及一種軸承測量裝置。本發(fā)明為了解決目前軸承內(nèi)圈幅高過小，無法進行內(nèi)圈端面對內(nèi)孔垂直度誤差測量的問題。本發(fā)明在進行測量時，軸承內(nèi)圈的一端面與測量平臺相抵，第二支點與測點在軸承內(nèi)圈的內(nèi)圓周面相抵，沿著滑槽的長度方向滑動第一支點，使第一支點也與軸承內(nèi)圈的內(nèi)圓周面相抵。根據(jù)軸承內(nèi)圈的幅高，調(diào)整第二支點與測點間的軸向間距。旋轉(zhuǎn)軸承內(nèi)圈一周，讀取千分表所顯示的最大與最小讀數(shù)之差，進而實現(xiàn)對幅高過窄的軸承內(nèi)圈進行內(nèi)圈端面對內(nèi)孔的垂直度檢測，能夠測量軸承幅高范圍為3～50mm的軸承內(nèi)圈。本發(fā)明用于軸承內(nèi)圈端面對內(nèi)孔垂直度檢測作業(yè)。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種軸承測量裝置，具體涉及一種用于軸承內(nèi)圈端面對內(nèi)孔垂直度檢測的測量裝置，屬于軸承測量技術(shù)領(lǐng)域。

背景技術(shù)

軸承內(nèi)圈是軸承的重要組成部分，其作用是與軸相配合并與軸一起旋轉(zhuǎn)。在傳統(tǒng)軸承內(nèi)圈檢測中，當(dāng)軸承內(nèi)圈幅高小于11mm時，軸承內(nèi)圈端面對內(nèi)孔的垂直度一般不對其進行檢測，主要靠加工設(shè)備保證，其原因是：如此小的內(nèi)圈幅高，測量設(shè)備的測頭無法抵靠在內(nèi)圈的內(nèi)表面，從而無法進行測量。

但航空軸承工況條件復(fù)雜苛刻，高溫、高速和高載荷的工況對軸承質(zhì)量要求高，對形位公差要求也越來越高，靠加工設(shè)備保證精度的方式已經(jīng)不能滿足航空軸承高精度發(fā)展的需求。

內(nèi)圈端面對內(nèi)孔垂直度誤差的大小，直接影響軸承的質(zhì)量，因此對于幅高過窄的軸承內(nèi)圈進行端面對內(nèi)孔的垂直度檢測便成了本領(lǐng)域技術(shù)人員亟待解決的問題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是為了解決目前軸承內(nèi)圈幅高過小，無法進行內(nèi)圈端面對內(nèi)孔垂直度誤差測量的問題。進而提供一種用于軸承內(nèi)圈端面對內(nèi)孔垂直度檢測的測量裝置。

本發(fā)明的技術(shù)方案是：一種用于軸承內(nèi)圈端面對內(nèi)孔垂直度檢測的測量裝置，包括基座和千分表，千分表安裝在基座的一側(cè)，基座的另一側(cè)固接有測量平臺，測量平臺的滑槽內(nèi)設(shè)置有第一支點，它還包括垂直設(shè)置在測量平臺表面的套筒和固接在基座內(nèi)部的支架。

套筒包括第二支點和滑塊，第二支點與滑塊螺紋連接，滑塊的橫截面形狀為圓形，且滑塊可沿著套筒的軸線方向滑動；支架包括測桿，測桿的縱截面為“L”形，且測桿長度方向的中心處與支架鉸接，測桿的一端設(shè)置有測點，測桿的另一端與千分表的測頭相抵；第二支點和測點的縱截面為直角梯形。

進一步地，第二支點與測點在軸承內(nèi)圈的內(nèi)圓周面同一母線上最小距離為2mm。

進一步地，滑塊沿套筒的軸線方向上最大的滑動距離為50mm。

本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有以下效果：

1、本發(fā)明的第二支點3-2-1與測點4-2在軸承內(nèi)圈5的內(nèi)圓周面同一母線上最小距離為2mm，且滑塊3-2-2沿套筒3-2的軸線方向上最大的滑動距離為50mm。在進行軸承內(nèi)圈端面對內(nèi)孔的垂直度檢測時，能夠測量軸承幅高范圍為3～50mm的軸承內(nèi)圈5。

2、本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單，通過第二支點3-2-1與測點4-2能夠無限靠近的特點，實現(xiàn)對幅高過窄的軸承內(nèi)圈5進行內(nèi)圈端面對內(nèi)孔的垂直度檢測，克服了現(xiàn)有技術(shù)中當(dāng)軸承內(nèi)圈5幅高小于11mm時，無法進行測量的問題。

附圖說明

圖1是本發(fā)明的軸測圖；

圖2是本發(fā)明的軸測剖視圖；

圖3是圖1中Ⅰ處的局部放大圖；

圖4是圖2中Ⅱ處的局部放大圖；

圖5是本發(fā)明第二支點3-2-1的軸測圖；

圖6是圖5的軸測剖視圖；

圖7是本發(fā)明對軸承內(nèi)圈5進行檢測時的示意圖

圖8是圖7的軸測剖視圖。