[發明專利]光學膜片的光軸角度的檢測方法及膜片貼合工藝

在審

• 申請號: 202211528654.2
• 申請日: 2022-11-30
• 公開（公告）號: CN115728046A
• 公開（公告）日: 2023-03-03
• 發明（設計）人: 陳美
• 申請（專利權）人: 嘉興微瑞光學有限公司;吳皓
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G09F9/30;B32B37/14;B32B38/10;B32B38/16
• 代理公司: 北京匯知杰知識產權代理有限公司 11587
• 代理人: 吳煥芳;楊勇

1.一種光學膜片的光軸角度的檢測方法，其特征在于，所述檢測方法包括以下步驟：

將所述光學膜片利用夾具夾設于所述夾具和旋轉裝置之間并覆蓋所述旋轉裝置的透光孔，以使所述光學膜片隨所述旋轉裝置的旋轉而旋轉；

控制光源單元朝向所述光學膜片發出光線；

控制設置在所述旋轉裝置的下游的檢測器檢測所述光源單元發出的光線透過所述透光孔、所述光學膜片后的透過光強；

基于所述旋轉裝置的旋轉角度數據和所述檢測器測得的透過光強數據通過數據擬合的方式得到所述光軸角度。

2.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，

所述檢測方法中，控制所述旋轉裝置間歇旋轉，控制所述檢測器在所述旋轉裝置的間歇旋轉的停止間隙檢測所述透過光強。

3.根據權利要求2所述的檢測方法，其特征在于，所述控制所述旋轉裝置間歇旋轉的步驟包括：

控制所述旋轉裝置每旋轉預設的單次旋轉角度后，停止預設時間段，重復前述步驟，直至所述旋轉裝置旋轉過的角度達到預設的總旋轉角度閾值。

4.根據權利要求1或2所述的檢測方法，其特征在于，所述檢測器包括：主檢測器和至少一個輔檢測器，其中，所述主檢測器和所述至少一個輔檢測器分別用于檢測所述透過光強；

所述基于所述旋轉裝置的旋轉角度數據和所述檢測器測得的透過光強數據通過數據擬合的方式得到所述光軸角度的步驟包括：

將所述主檢測器檢測得到的透過光強數據中的每一個分別與所述輔檢測器檢測得到的透過光強數據中對應的一個進行比值處理；

基于得到的比值數據和所述旋轉裝置的旋轉角度數據通過數據擬合的方式得到所述光軸角度。

5.根據權利要求1或2所述的檢測方法，其特征在于，所述基于所述旋轉裝置的旋轉角度數據和所述檢測器測得的透過光強數據通過數據擬合的方式得到所述光軸角度的步驟包括：

利用第一內建函數擬合計算得到理論透過光強最小值對應的旋轉角度，即為所述光軸角度，其中，所述光軸角度是所述光學膜片的光軸與所述偏振光源的偏振光軸的夾角的角度；其中，

所述第一內建函數為：

y＝Asin(Bx+C)+D，

式中，x為旋轉角度，y為透過光強，A、B、C、D為常數。

6.根據權利要求1或2所述的檢測方法，其特征在于，

所述光源單元包括偏振光源和校正元件，所述校正元件為光軸方向已標定為T的起偏器且設置于所述偏振光源的下游；

所述檢測方法中，控制所述旋轉裝置為從方向T開始旋轉；

所述基于所述旋轉裝置的旋轉角度數據和所述檢測器測得的透過光強數據通過數據擬合的方式得到所述光軸角度的步驟包括：

利用第二內建函數擬合計算得到透過光強為0時對應的所述旋轉裝置相對方向T旋轉的角度，即為光軸角度，其中，所述光軸角度是所述光學膜片的光軸與所述方向T的夾角的角度；其中，

所述第二內建函數為：

I＝I₀cos²(θ+t)，

式中，I為透過光強，I₀、t為常量參數，θ為所述旋轉裝置相對方向T旋轉的角度。

7.根據權利要求1或2所述的檢測方法，其特征在于，在將所述光學膜片和所述旋轉裝置固定的步驟之后，所述檢測方法還包括如下步驟：

控制設置在所述旋轉裝置的下游、所述檢測器的上游的CCD圖像傳感器啟動以記錄所述光學膜片的尺寸信息。

8.根據權利要求7所述的檢測方法，其特征在于，所述得到所述光軸角度的步驟之后，所述檢測方法還包括如下步驟：

基于所述光軸角度和所述尺寸信息對所述光學膜片進行標定。

9.一種膜片貼合工藝，其特征在于，所述膜片貼合工藝包括以下步驟：

對待貼合的多個光學膜片進行在線軸角檢測，得到所述多個光學膜片的光軸角度；

獲取所述多個光學膜片的尺寸信息；

基于所述光軸角度和所述尺寸信息貼合所述多個光學膜片。