[發(fā)明專利]一種基于高頻諧振激勵(lì)的套管電容芯子受潮評(píng)估方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202211496678.4 | 申請(qǐng)日: | 2022-11-24 |
| 公開(公告)號(hào): | CN116184129A | 公開(公告)日: | 2023-05-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 郭蕾;蔡育宏;趙晨 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 西南交通大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01R31/12 | 分類號(hào): | G01R31/12 |
| 代理公司: | 武漢聚信匯智知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 42258 | 代理人: | 馬尚偉 |
| 地址: | 611756 四川省*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 高頻 諧振 激勵(lì) 套管 電容 芯子 受潮 評(píng)估 方法 | ||
套管作為連接變壓器繞組和導(dǎo)線的重要部件,對(duì)變壓器的正常運(yùn)行起著重要的作用,其絕緣性能決定了電力系統(tǒng)的正常運(yùn)行,本發(fā)明公開了一種基于高頻諧振激勵(lì)的套管電容芯子受潮評(píng)估方法,首先,搭建高頻諧振激勵(lì)的套管電容芯子測(cè)試平臺(tái),然后獲取高頻諧振激勵(lì)下的套管信號(hào),再提取高頻諧振激勵(lì)下的套管信號(hào)的特征參數(shù),最后基于特征參數(shù)來(lái)評(píng)估套管電容芯子受潮程度,此方法能有效地對(duì)套管電容芯子的受潮程度做出評(píng)估。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于有變壓器套管的性能評(píng)估領(lǐng)域,具體涉及一種基于高頻諧振激勵(lì)的套管電容芯子受潮評(píng)估方法
背景技術(shù)
現(xiàn)代電力系統(tǒng)的發(fā)展迅速,套管作為連接變壓器繞組和導(dǎo)線的重要部件,對(duì)變壓器的正常運(yùn)行起著重要的作用,套管的絕緣性能決定了變壓器能否安全穩(wěn)定運(yùn)行,而套管電容芯子受潮是引起絕緣性能下降的主要因素,受潮會(huì)危及設(shè)備主絕緣,嚴(yán)重時(shí)會(huì)使得套管擊穿炸裂,常用的套管受潮診斷方法有油色譜法,介損及電容量檢測(cè)法,頻域介電譜法,但油色譜法更多用于檢測(cè)絕緣油中微水,無(wú)法反應(yīng)套管電容芯子受潮程度,且只能離線檢測(cè);介損及電容量變化法操作簡(jiǎn)單,但檢測(cè)參量的影響因素多,結(jié)果不準(zhǔn)確;頻域介電譜法對(duì)于對(duì)套管輕微受潮的檢測(cè)不靈敏,現(xiàn)需要一種能在線評(píng)估套管電容芯子受潮程度的方法。
發(fā)明內(nèi)容
為了克服上述背景技術(shù)的缺陷,本發(fā)明提供一種基于高頻諧振激勵(lì)的套管電容芯子受潮評(píng)估方法,該方法能有效準(zhǔn)確的評(píng)估套管電容芯子的受潮程度,其方法步驟如下:
第一步:搭建高頻諧振激勵(lì)的套管電容芯子測(cè)試平臺(tái)
搭建高頻諧振激勵(lì)下的套管電容芯子測(cè)試平臺(tái),主要包括高壓直流電源(1)、保護(hù)電阻(2)、高頻開關(guān)(3)、可調(diào)電感(4)、控制開關(guān)1(5)、控制開關(guān)2(6)和套管(7),套管(7)包括電容芯子(8)、末屏端(9)和測(cè)試端子(10),套管(7)兩端連接電容測(cè)試儀(11),末屏端(9)與測(cè)量端子(10)與信號(hào)測(cè)試儀(12)相連,高頻直流電源(1)和保護(hù)電阻(2)還有可調(diào)電感(4)串聯(lián)后連接控制開關(guān)1(5)和控制開關(guān)2(6),高頻開關(guān)(3)從保護(hù)電阻(2)和可調(diào)電感(4)中間引出,高壓直流電源(1)與高頻開關(guān)(3)均接地;
第二步:獲取高頻諧振激勵(lì)下的套管信號(hào)
(1)電容測(cè)試儀(10)測(cè)試得到套管的電容C,根據(jù)式(1)計(jì)算諧振頻率為1000K時(shí)的電感,記為L(zhǎng),并將可調(diào)電感(4)調(diào)至L;
(2)測(cè)試高頻諧振激勵(lì)下的套管信號(hào),測(cè)試開始時(shí),高頻開關(guān)(3)處于斷開狀態(tài),控制開關(guān)1(5)處于閉合狀態(tài),控制開關(guān)2(6)處于斷開狀態(tài),高壓直流電源(1)與高頻開關(guān)(3)均接地,高壓直流電源(1)通過(guò)保護(hù)電阻(2)和可調(diào)電感(4)和控制開關(guān)1(5)輸入直流電壓至套管(7),閉合高頻開關(guān)(3),信號(hào)測(cè)試儀(12)從末屏端(9)上讀取到套管末屏的高頻諧振信號(hào)s1;斷開高頻開關(guān)(3),控制開關(guān)1(5)處于斷開狀態(tài),控制開關(guān)2(6)處于閉合狀態(tài),高壓直流電源(1)通過(guò)保護(hù)電阻(2)和可調(diào)電感(4)和控制開關(guān)2(6)輸入直流電壓至套管(7),閉合高頻開關(guān)(3),信號(hào)測(cè)試儀(12)從測(cè)試端子(10)上讀取到套管測(cè)試端的高頻諧振信號(hào)s2;
第三步:提取高頻諧振激勵(lì)下的套管信號(hào)的特征參數(shù)
將從套管末屏讀取的的振蕩波信號(hào)s1和從套管測(cè)試端讀取的的振蕩波信號(hào)s2經(jīng)過(guò)STFT短時(shí)傅里葉變換轉(zhuǎn)為時(shí)頻圖,短時(shí)傅里葉變換的窗函數(shù)選用Hamming窗,然后將時(shí)頻圖經(jīng)過(guò)灰度化處理,形成灰度共生矩陣x(i,j),矩陣大小為n×n;
對(duì)灰度共生矩陣進(jìn)行降維處理得到矩陣y(i,j),計(jì)算式如下:
i,j為共生矩陣的坐標(biāo),λ為與共生矩陣維度相關(guān)的降維因子,取值為2,max(h(i,j))為灰度共生矩陣中最大值,min(h(i,j))為灰度共生矩陣中最小值;
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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