[發明專利]一種LED外延結構及其制備方法、LED芯片在審
| 申請號: | 202211489363.7 | 申請日: | 2022-11-25 |
| 公開(公告)號: | CN115863504A | 公開(公告)日: | 2023-03-28 |
| 發明(設計)人: | 萬志;王莎莎;史成丹;卓祥景;程偉;金張育 | 申請(專利權)人: | 廈門乾照光電股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/06 | 分類號: | H01L33/06;H01L33/12;H01L33/32;H01L33/44;H01L33/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 361101 福建省廈門市廈門火*** | 國省代碼: | 福建;35 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 led 外延 結構 及其 制備 方法 芯片 | ||
1.一種LED外延結構,其特征在于,包括:
襯底,及依次層疊于所述襯底表面的N型半導體層、保護層、MQW層、最后一個量子壘層以及P型半導體層;
其中,所述MQW層包括沿第一方向交替層疊生長的量子壘和量子阱,所述量子壘包括若干組InGaN/GaN/AlGaN層,以形成對電子的層級散射和反生長方向的極化電場;所述第一方向垂直于所述襯底,且由所述襯底指向所述N型半導體層。
2.根據權利要求1所述的LED外延結構,其特征在于,所述量子壘的兩接觸面分別設有GaN層。
3.根據權利要求1所述的LED外延結構,其特征在于,在所述N型半導體層和MQW層之間設有保護層,且所述保護層包括交替堆疊的第二N型GaN層和UGaN層。
4.根據權利要求3所述的LED外延結構,其特征在于,所述第二N型GaN層的N型摻雜濃度小于所述N型半導體層的N型摻雜濃度。
5.根據權利要求1所述的LED外延結構,其特征在于,最后一個量子壘層包括GaN-AlGaN-AlN復合層狀結構。
6.根據權利要求1所述的LED外延結構,其特征在于,在所述最后一個量子壘層中,所述GaN層的厚度不小于所述AlGaN層的厚度。
7.根據權利要求1所述的LED外延結構,其特征在于,在所述最后一個量子壘層中,所述AlN層的厚度不大于所述AlGaN層的厚度。
8.根據權利要求1所述的LED外延結構,其特征在于,所述N型半導體層包括若干組N型摻雜的AlGaN/GaN層。
9.一種LED外延結構的制備方法,其特征在于,包括:
提供一襯底;
在所述襯底表面依次生長N型半導體層、保護層、MQW層、最后一個量子壘層以及P型半導體層;
其中,所述MQW層包括沿生長方向交替層疊生長的量子壘和量子阱,所述量子壘包括若干組InGaN/GaN/AlGaN層,以形成對電子的層級散射和反生長方向的極化電場;
所述量子壘的兩接觸面分別設有GaN層。
10.根據權利要求9所述的LED外延結構的制備方法,其特征在于,所述保護層包括交替堆疊的第二N型GaN層和UGaN層;且所述第二N型GaN層的N型摻雜濃度小于所述N型半導體層的N型摻雜濃度;
所述N型半導體層包括若干組N型摻雜的AlGaN/GaN層;
所述最后一個量子壘層包括GaN-AlGaN-AlN復合層狀結構。
11.根據權利要求9所述的LED外延結構的制備方法,其特征在于,在通過所述InGaN/GaN/AlGaN層,實現量子壘中In組分間斷式生長的過程中,保持H2的并入,且In和H2的并入呈相反的狀態。
12.一種LED芯片,包括;
權利要求1-8任一項所述的LED外延結構;
N型電極,所述N型電極與所述N型半導體層形成歐姆接觸;
P型電極,所述P型電極與所述P型半導體層形成歐姆接觸。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于廈門乾照光電股份有限公司,未經廈門乾照光電股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202211489363.7/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





