[發明專利]一種光學鏡片缺陷檢測方法、裝置及設備

在審

• 申請號: 202211479858.1
• 申請日: 2022-11-24
• 公開（公告）號: CN115713519A
• 公開（公告）日: 2023-02-24
• 發明（設計）人: 賀小華;樊為民;邱興德;高錦龍
• 申請（專利權）人: 深圳市壹倍科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/90;G06T5/00;G06V10/22;G06V10/12
• 代理公司: 深圳眾鼎專利商標代理事務所(普通合伙) 44325
• 代理人: 譚果林

1.一種光學鏡片缺陷檢測方法，其特征在于，包括：

獲取待檢測光學鏡片的第一圖像；

對所述待檢測光學鏡片進行清潔處理；

獲取清潔后的待檢測光學鏡片的第二圖像；

對所述第一圖像進行分割處理，得到所述第一圖像對應的第一分割圖像，所述第一分割圖像包含所述待檢測光學鏡片的第一特征子圖；

對所述第二圖像進行分割處理，得到所述第二圖像對應的第二分割圖像，所述第二分割圖像包含所述待檢測光學鏡片的第二特征子圖；

求取所述第一特征子圖和所述第二特征子圖的特征交集圖，得到所述待檢測光學鏡片的缺陷特征圖。

2.根據權利要求1所述的光學鏡片缺陷檢測方法，其特征在于，對所述第一圖像進行分割處理包括：

去除所述第一圖像中的所述待檢測光學鏡片圖像以外的圖像區域，保留所述待檢測光學鏡片的圖像，得到第一預處理圖像；

對所述第一預處理圖像進行模糊操作，去除所述第一預處理圖像的噪聲；

將所述第一預處理圖像與模糊后的第一預處理圖像進行比較，去除所述第一預處理圖像中灰度值小于模糊后的第一預處理圖像中灰度值的像素點，保留所述第一預處理圖像中灰度值大于模糊后的第一預處理圖像中灰度值的像素點，得到第一初始分割圖像。

3.根據權利要求2所述的光學鏡片缺陷檢測方法，其特征在于，對所述第一圖像進行分割處理還包括：

計算預設卷積核尺度范圍內的灰度均值，將所述灰度均值作為閾值，將所述第一初始分割圖像中灰度值大于所述閾值的像素點的灰度值置為第一設定值，將灰度值小于所述閾值的像素點的灰度值置為第二設定值；

去除灰度值為所述第二設定值的像素點，保留灰度值為所述第一設定值的像素點，得到所述第一特征子圖對應像素點，得到所述第一分割圖。

4.根據權利要求3所述的光學鏡片缺陷檢測方法，其特征在于，對所述第二圖像進行分割處理包括：

去除所述第二圖像中的所述待檢測光學鏡片圖像以外的圖像區域，保留所述待檢測光學鏡片圖像，得到第二預處理圖像；

對所述第二預處理圖像進行模糊操作，去除所述第二預處理圖像的噪聲；

將所述第二預處理圖像與模糊后的第二預處理圖像進行比較，去除所述第二預處理圖像中灰度值小于模糊后的第二預處理圖像中灰度值的像素點，保留所述第二預處理圖像中灰度值大于模糊后的第二預處理圖像中灰度值的像素點，得到第二初始分割圖像。

5.根據權利要求4所述的光學鏡片缺陷檢測方法，其特征在于，對所述第二圖像進行分割處理還包括：

將所述第二初始分割圖像中灰度值大于所述閾值的像素點的灰度值置為所述第一設定值，將灰度值小于所述閾值的像素點的灰度值置為所述第二設定值；

去除灰度值為所述第二設定值的像素點，保留灰度值為所述第一設定值的像素點，得到所述第二特征子圖對應的像素點，得到所述第二分割圖。

6.根據權利要求5所述的光學鏡片缺陷檢測方法，其特征在于，求取所述第一特征子圖和所述第二特征子圖的特征交集圖，得到所述待檢測光學鏡片的缺陷特征圖，包括：

建立所述第一分割圖像對應的第一坐標系和所述第二分割圖像對應的第二坐標系；

根據所述第一分割圖像中的所述第一特征子圖對應的像素點在所述第一坐標系中的坐標位置，以及所述第二分割圖像中的所述第二特征子圖對應的像素點在所述第二坐標系中的坐標位置，求取所述第一分割圖像和所述第二分割圖像的像素點交集，得到所述缺陷特征子圖。