[發(fā)明專利]一種紙板抗折爆性能測(cè)試方法、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202211451984.6 | 申請(qǐng)日: | 2022-11-18 |
| 公開(公告)號(hào): | CN115791439A | 公開(公告)日: | 2023-03-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 郗引引;孔志進(jìn) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廣西金桂漿紙業(yè)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N3/20 | 分類號(hào): | G01N3/20;G01N3/06 |
| 代理公司: | 深圳市威世博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 許昌蓮 |
| 地址: | 535008 廣西*** | 國省代碼: | 廣西;45 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 紙板 抗折爆 性能 測(cè)試 方法 計(jì)算機(jī) 設(shè)備 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
1.一種紙板抗折爆性能測(cè)試方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取第一測(cè)試紙樣;
對(duì)所述第一測(cè)試紙樣進(jìn)行壓痕,得到所述第一測(cè)試紙樣的爆裂指數(shù)以及所述爆裂指數(shù)對(duì)應(yīng)的壓痕系數(shù);
獲取第二測(cè)試紙樣,所述第二測(cè)試紙樣至少有兩張;
以所述壓痕系數(shù)對(duì)一張所述第二測(cè)試紙樣進(jìn)行壓痕;
對(duì)壓痕后的所述第二測(cè)試紙樣進(jìn)行挺度測(cè)試,得到壓痕后的所述第二測(cè)試紙樣的挺度數(shù)據(jù);
對(duì)未壓痕的所述第二測(cè)試紙樣進(jìn)行挺度測(cè)試,得到未壓痕的所述第二測(cè)試紙樣的挺度數(shù)據(jù);
根據(jù)壓痕后的所述第二測(cè)試紙樣的挺度數(shù)據(jù)與未壓痕的所述第二測(cè)試紙樣的挺度數(shù)據(jù)計(jì)算得到所述第二測(cè)試紙樣的折疊因子;
其中,所述第一測(cè)試紙樣與所述第二測(cè)試紙樣為同批次的紙樣。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述對(duì)所述第一測(cè)試紙樣進(jìn)行壓痕,得到所述第一測(cè)試紙樣的爆裂指數(shù)以及所述爆裂指數(shù)對(duì)應(yīng)的壓痕系數(shù)的步驟還包括:
對(duì)所述第一測(cè)試紙樣分別進(jìn)行橫向壓痕與縱向壓痕;
分別得到所述第一測(cè)試紙樣的橫向爆裂指數(shù)與縱向爆裂指數(shù)以及所述橫向爆裂指數(shù)對(duì)應(yīng)的橫向壓痕系數(shù)以及縱向爆裂指數(shù)對(duì)應(yīng)的縱向壓痕系數(shù);
其中,所述橫向壓痕與所述縱向壓痕分別與所述第一測(cè)試紙樣的兩個(gè)邊平行;
其中,所述折疊因子的計(jì)算方法為:用未壓痕的所述第二測(cè)試紙樣的挺度數(shù)據(jù)減去壓痕后的所述第二測(cè)試紙樣的挺度數(shù)據(jù)后,再除以未壓痕的所述第二測(cè)試紙樣的挺度數(shù)據(jù),計(jì)算得到所述折疊因子。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述獲取第二測(cè)試紙樣的步驟之后還包括:
對(duì)所述第二測(cè)試紙樣的第一面印刷油墨,并使油墨均勻分布于所述第二測(cè)試紙樣的所述第一面;
將印刷油墨后的所述第二測(cè)試紙樣晾干。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述以所述壓痕系數(shù)對(duì)一張所述第二測(cè)試紙樣進(jìn)行壓痕的步驟還包括:
以所述橫向壓痕系數(shù)對(duì)所述第二測(cè)試紙樣進(jìn)行橫向壓痕;
以所述縱向壓痕系數(shù)對(duì)另一所述第二測(cè)試紙樣進(jìn)行縱向壓痕。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,所述以所述橫向壓痕系數(shù)對(duì)所述第二測(cè)試紙樣進(jìn)行橫向壓痕的步驟還包括:
以第一壓痕系數(shù)對(duì)所述第二測(cè)試紙樣進(jìn)行橫向壓痕;
其中,所述第一壓痕系數(shù)大于所述橫向壓痕系數(shù);
所述以所述縱向壓痕系數(shù)對(duì)另一所述第二測(cè)試紙樣進(jìn)行縱向壓痕的步驟還包括:
以第二壓痕系數(shù)對(duì)所述第二測(cè)試紙樣進(jìn)行縱向壓痕;
其中,所述第二壓痕系數(shù)大于所述縱向壓痕系數(shù)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,所述對(duì)壓痕后的所述第二測(cè)試紙樣進(jìn)行挺度測(cè)試,得到壓痕后的所述第二測(cè)試紙樣的挺度數(shù)據(jù)的步驟還包括:
對(duì)以所述第一壓痕系數(shù)壓痕后的所述第二測(cè)試紙樣進(jìn)行第一角度的挺度測(cè)試,得到壓痕后的所述第二測(cè)試紙樣的橫向挺度數(shù)據(jù);
對(duì)以所述第二壓痕系數(shù)壓痕后的所述第二測(cè)試紙樣進(jìn)行第一角度的挺度測(cè)試,得到壓痕后的所述第二測(cè)試紙樣的縱向挺度數(shù)據(jù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,所述對(duì)壓痕后的所述第二測(cè)試紙樣進(jìn)行挺度測(cè)試,得到壓痕后的所述第二測(cè)試紙樣的挺度數(shù)據(jù)的步驟還包括:
對(duì)以第一壓痕系數(shù)壓痕后的所述第二測(cè)試紙樣進(jìn)行第二角度的挺度測(cè)試,得到壓痕后的所述第二測(cè)試紙樣的橫向挺度數(shù)據(jù);
對(duì)以第二壓痕系數(shù)壓痕后的所述第二測(cè)試紙樣進(jìn)行第二角度的挺度測(cè)試,得到壓痕后的所述第二測(cè)試紙樣的縱向挺度數(shù)據(jù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的方法,其特征在于,所述對(duì)未壓痕的所述第二測(cè)試紙樣進(jìn)行挺度測(cè)試,得到未壓痕的所述第二測(cè)試紙樣的挺度數(shù)據(jù)的步驟還包括:
對(duì)未壓痕的所述第二測(cè)試紙樣進(jìn)行橫向挺度測(cè)試與縱向挺度測(cè)試,分別得到未壓痕紙樣的橫向挺度數(shù)據(jù)與縱向挺度數(shù)據(jù)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于廣西金桂漿紙業(yè)有限公司,未經(jīng)廣西金桂漿紙業(yè)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202211451984.6/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法





