[發明專利]一種基于目標檢測的干涉條紋圖定位方法在審
| 申請號: | 202211437851.3 | 申請日: | 2022-11-16 |
| 公開(公告)號: | CN115808377A | 公開(公告)日: | 2023-03-17 |
| 發明(設計)人: | 苗長云;武宇航;孫金露;邱岳 | 申請(專利權)人: | 天津工業大學 |
| 主分類號: | G01N15/02 | 分類號: | G01N15/02;G06V10/774;G06V10/82;G06N3/0464;G06N3/0985 |
| 代理公司: | 天津市三利專利商標代理有限公司 12107 | 代理人: | 仝林葉 |
| 地址: | 300387 *** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 目標 檢測 干涉 條紋 定位 方法 | ||
1.一種基于目標檢測的干涉條紋圖定位方法,其特征在于,該方法包括以下步驟:
步驟(1):利用干涉粒子成像系統,獲取透明球形粒子的干涉條紋圖;
搭建干涉粒子成像系統,干涉粒子成像系統包括:激光器、平凸柱面透鏡和平凹柱面透鏡;沿水平方向自左向右依次設置激光器、顯微物鏡、針孔、準直透鏡、平凸柱面透鏡、平凹柱面透鏡、樣品池,樣品池含有去離子水和聚苯乙烯球形粒子,樣品池上方依次設置成像透鏡和CCD相機9;激光器發出平行偏振光,激光束通過顯微物鏡和針孔組成的空間濾波器完成擴束功能,經過準直透鏡后變為平行光束,平凸柱面透鏡和平凹柱面透鏡兩個透鏡組將光束壓縮為平行出射的光片;將聚苯乙烯球形粒子放置到含有去離子水的樣品池中,利用CCD相機獲取干涉條紋圖;
步驟(2):制作干涉條紋圖數據集,完成訓練;將獲取到的干涉條紋圖進行標注并劃分為訓練集、驗證集和測試集;設置網絡超參數,訓練200epochs,保存最優權重;
步驟(3):檢測干涉條紋圖,繪制預測框;將步驟(2)中劃分的測試集輸入到網絡中進行檢測,得到含有歸一化位置信息的預測框;
步驟(4):在干涉條紋圖上繪制中心點;提取包含中心點坐標的預測框,經坐標反變換獲取原始坐標并繪制干涉條紋圖中心點,由此,實現高精度定位功能。
2.根據權利要求1所述的基于目標檢測的干涉條紋圖定位方法,其特征在于,所述激光器1發出波長為532nm的平行偏振光,最大輸出功率為3W。
3.根據權利要求1所述的基于目標檢測的干涉條紋圖定位方法,其特征在于,采用分辨率為1920×1200,像元尺寸為5.86um的CCD相機作為接收器件。
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