[發明專利]繼電器自動校驗裝置

在審

• 申請號: 202211433926.0
• 申請日: 2022-11-16
• 公開（公告）號: CN115656807A
• 公開（公告）日: 2023-01-31
• 發明（設計）人: 韋曉;劉偉;余惠敏;星國龍;韓存效;張建亮;麻保洲;何丹;李順民;陳偉;侯習武;梁修華;董磊;李浩哲;張春陽;張浩;牛東元
• 申請（專利權）人: 中廣核核電運營有限公司;中國廣核集團有限公司;中國廣核電力股份有限公司
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327;G01R1/28;G01R1/30
• 代理公司: 華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 賴舒嫻

1.一種繼電器自動校驗裝置，其特征在于，所述裝置包括相互連接的繼電器底座以及中央處理器；

所述中央處理器響應用戶校驗指令，確定所述繼電器底座上已放置的繼電器中為本次待校驗的目標繼電器；獲取所述目標繼電器在施加校驗電壓或校驗電流下的電氣參數；基于所述電氣參數進行繼電器自動校驗，獲取所述目標繼電器的自動校驗結果。

2.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述中央處理器包括測試線路輸出模塊、測試電壓輸出模塊、模擬量輸入模塊以及自動校驗模塊；

所述測試線路輸出模塊響應用戶校驗指令，確定所述繼電器底座上已插入的繼電器中本次待校驗的目標繼電器；所述測試電壓輸出模塊控制外部電源對所述目標繼電器施加校驗電壓或校驗電流；所述模擬量輸入模塊獲取所述目標繼電器的模擬量參數；所述自動校驗模塊基于所述電氣參數進行繼電器自動校驗，獲取所述目標繼電器的自動校驗結果。

3.根據權利要求2所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括放大采集器；

所述放大采集器采集所述目標繼電器的電氣參數，將所述電氣參數放大轉換為模擬量參數，發送所述模擬量參數至所述模擬量輸入模塊。

4.根據權利要求3所述的裝置，其特征在于，所述目標繼電器的數量為多個，所述繼電器自動校驗裝置還包括切換矩陣；

所述放大采集器通過所述切換矩陣與所述繼電器底座連接；所述中央處理器控制所述切換矩陣選通。

5.根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括恒流限壓源；

所述恒流限壓源與所述切換矩陣連接；所述恒流限壓源輸出恒流源以及開路電壓至所述目標繼電器的接觸電阻；所述放大采集器采集所述接觸電阻在所述開路電壓下流經的所述恒流源與接觸電阻流經所述恒流源時接觸電阻的電壓降，放大轉換為模擬量參數。

6.根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括程控電源；

所述程控電源的一端與所述繼電器底座連接，所述程控電源的另一端通過所述切換矩陣與所述放大采集器連接；所述程控電源輸出所述校驗電壓至所述目標繼電器。

7.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括觸點壓降測試電源；

所述觸點壓降測試電源的一端通過所述切換矩陣與所述程控電源連接，所述觸點壓降測試電源的另一端與所述中央處理器連接；所述觸點壓降測試電源輸出所述校驗電流至所述目標繼電器。

8.根據權利要求2所述的裝置，其特征在于，所述目標繼電器的自動校驗結果包括所述目標繼電器的線圈電阻、接觸電阻、動作電壓、動作電流、釋放電壓、釋放電流、絕緣電阻、介質耐電壓性、動作時間以及觸點回跳時間。

9.根據權利要求2所述的裝置，其特征在于，所述繼電器底座包括若干指示燈；

所述測試線路輸出模塊根據所述自動校驗結果，生成并發送數字信號至所述繼電器底座中的所述若干指示燈。

10.根據權利要求2所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括人機交互組件；

所述人機交互組件與所述中央處理器相連接；所述人機交互組件用于接收所述自動校驗結果，并將所述自動校驗結果反饋。