[發(fā)明專利]靶標(biāo)組件制作和標(biāo)定方法、以及一體成型式的靶標(biāo)組件

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202211423523.8
• 申請日: 2022-11-15
• 公開（公告）號(hào): CN115824044A
• 公開（公告）日: 2023-03-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 請求不公布姓名;請求不公布姓名;請求不公布姓名;李濤
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州微創(chuàng)暢行機(jī)器人有限公司
• 主分類號(hào): G01B11/00
• 分類號(hào): G01B11/00
• 代理公司: 華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 姚姝婭

本申請涉及一種靶標(biāo)組件制作和標(biāo)定方法、以及一體成型式的靶標(biāo)組件。所述方法包括：通過確定靶標(biāo)組件的特征點(diǎn)對(duì)應(yīng)的第一位置信息；根據(jù)靶標(biāo)組件的靶標(biāo)類型，確定光學(xué)標(biāo)記裝配方式，根據(jù)第一位置信息，采用光學(xué)標(biāo)記裝配方式在靶標(biāo)組件的每一個(gè)特征點(diǎn)處添加光學(xué)標(biāo)記；靶標(biāo)類型分為尖頭類靶標(biāo)和非尖頭類靶標(biāo)；根據(jù)光學(xué)標(biāo)記，獲取靶標(biāo)組件的特征點(diǎn)對(duì)應(yīng)的第二位置信息，完成靶標(biāo)組件的標(biāo)定。采用本方法能夠直接快速標(biāo)定靶標(biāo)各特征點(diǎn)數(shù)值，簡化生產(chǎn)工序，降低加工、組裝等過程中的累計(jì)誤差，提高了手術(shù)機(jī)器人靶標(biāo)組件的標(biāo)定效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請涉及自動(dòng)化技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種靶標(biāo)組件制作和標(biāo)定方法、以及一體成型式的靶標(biāo)組件。

背景技術(shù)

傳統(tǒng)的手術(shù)機(jī)器人附件靶標(biāo)為鋁制品，需進(jìn)行機(jī)加、噴砂、表面陽極氧化、表面上色、裝配等，加工工序復(fù)雜。由于各項(xiàng)加工工序中均存在機(jī)加誤差、組裝誤差等，靶標(biāo)各零件的制造、組裝工序較多，導(dǎo)致整個(gè)制作過程的累計(jì)誤差較大，需要在組裝完成之后進(jìn)行三坐標(biāo)測量標(biāo)定實(shí)際靶標(biāo)數(shù)值，而三坐標(biāo)測量周期長，需要花費(fèi)較長的時(shí)間才能完成標(biāo)定。

目前的手術(shù)機(jī)器人靶標(biāo)制作和標(biāo)定過程中存在標(biāo)定效率低的問題。

發(fā)明內(nèi)容

基于此，有必要針對(duì)上述技術(shù)問題，提供一種能夠提高手術(shù)機(jī)器人靶標(biāo)組件的標(biāo)定效率的靶標(biāo)組件制作和標(biāo)定方法、以及一體成型式的靶標(biāo)組件。

第一方面，本申請?zhí)峁┝艘环N靶標(biāo)組件標(biāo)定方法。所述方法包括：

確定靶標(biāo)組件的特征點(diǎn)對(duì)應(yīng)的第一位置信息；

根據(jù)靶標(biāo)組件的靶標(biāo)類型，確定光學(xué)標(biāo)記裝配方式，根據(jù)第一位置信息，采用光學(xué)標(biāo)記裝配方式在靶標(biāo)組件的每一個(gè)特征點(diǎn)處添加光學(xué)標(biāo)記；靶標(biāo)類型分為尖頭類靶標(biāo)和非尖頭類靶標(biāo)；

根據(jù)光學(xué)標(biāo)記，獲取靶標(biāo)組件的特征點(diǎn)對(duì)應(yīng)的第二位置信息，完成靶標(biāo)組件的標(biāo)定。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，根據(jù)靶標(biāo)組件的靶標(biāo)類型，確定光學(xué)標(biāo)記裝配方式，根據(jù)第一位置信息，采用光學(xué)標(biāo)記裝配方式在靶標(biāo)組件的每一個(gè)特征點(diǎn)處添加光學(xué)標(biāo)記，包括：

若靶標(biāo)組件為尖頭類靶標(biāo)，獲取與靶標(biāo)組件匹配的裝配工件；

將靶標(biāo)組件的尖頭對(duì)應(yīng)的特征點(diǎn)作為目標(biāo)特征點(diǎn)；

將靶標(biāo)組件配置在裝配工件上，將目標(biāo)特征點(diǎn)作為坐標(biāo)系原點(diǎn)，在裝配工件上構(gòu)建裝配坐標(biāo)系；

在裝配坐標(biāo)系中，根據(jù)第一位置信息，確定靶標(biāo)組件的每一個(gè)特征點(diǎn)的坐標(biāo)信息，作為裝配位置信息；

根據(jù)裝配位置信息，除目標(biāo)特征點(diǎn)以外，在靶標(biāo)組件的每一個(gè)特征點(diǎn)處添加光學(xué)標(biāo)記。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，根據(jù)靶標(biāo)組件的靶標(biāo)類型，確定光學(xué)標(biāo)記裝配方式，根據(jù)第一位置信息，采用光學(xué)標(biāo)記裝配方式在靶標(biāo)組件的每一個(gè)特征點(diǎn)處添加光學(xué)標(biāo)記，還包括：

若靶標(biāo)組件為非尖頭類靶標(biāo)，將靶標(biāo)組件的任意一個(gè)特征點(diǎn)作為目標(biāo)特征點(diǎn)；

將目標(biāo)特征點(diǎn)作為坐標(biāo)系原點(diǎn)，構(gòu)建裝配坐標(biāo)系；

在裝配坐標(biāo)系中，根據(jù)第一位置信息，確定靶標(biāo)組件的每一個(gè)特征點(diǎn)的坐標(biāo)信息，作為裝配位置信息；

根據(jù)裝配位置信息，在靶標(biāo)組件的每一個(gè)特征點(diǎn)處添加光學(xué)標(biāo)記。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，根據(jù)光學(xué)標(biāo)記，獲取靶標(biāo)組件的特征點(diǎn)對(duì)應(yīng)的第二位置信息，包括：

獲取靶標(biāo)組件上每一個(gè)光學(xué)標(biāo)記之間的位置關(guān)系，得到第二位置信息。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，根據(jù)靶標(biāo)組件的靶標(biāo)類型，確定光學(xué)標(biāo)記裝配方式，根據(jù)第一位置信息，采用光學(xué)標(biāo)記裝配方式在靶標(biāo)組件的每一個(gè)特征點(diǎn)處添加光學(xué)標(biāo)記，還包括：