[發(fā)明專利]一種校準帶表內(nèi)卡規(guī)示值誤差的方法

在審

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• 申請日: 2022-11-15
• 公開（公告）號: CN116182662A
• 公開（公告）日: 2023-05-30
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張瑜
• 申請（專利權(quán)）人: 北京北一機床有限責任公司
• 主分類號: G01B3/24
• 分類號: G01B3/24
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種采用全自動光柵式指示表檢定儀與對零裝置和支撐夾具配合使用，完成帶表內(nèi)卡示值誤差的校準的方法。?其特征在于包括以下步驟：

S1：根據(jù)帶表內(nèi)卡規(guī)的測量范圍，選取五個校準點，用帶表內(nèi)卡規(guī)測量下限尺寸的量塊校對出零位；

S2：選擇全自動光柵式指示表檢定儀其測量精度為2.4μm，其量程為50mm；

S3：支撐卡具，可水平裝夾帶表內(nèi)卡規(guī)，帶有徑向調(diào)節(jié)裝置；

S4：調(diào)零裝置，測桿測量面平面度不大于0.6μm，組合裝夾后兩測量面平行度不大于2μm，以確保測量軸線一致；

S5：首先將圖3調(diào)零裝置底座9安裝在工作臺導(dǎo)軌7上，用帶表內(nèi)卡規(guī)測量下限尺寸的量塊校對出零位，然后將帶表內(nèi)卡規(guī)水平裝夾在圖2支撐夾具的夾持柄14上，緊固夾持柄緊固螺釘15，使帶表內(nèi)卡規(guī)兩測頭置于固定測桿10與活動測桿8兩平面內(nèi)，利用圖2徑向調(diào)節(jié)裝置16，找出其轉(zhuǎn)折點，鎖緊17，此時調(diào)節(jié)表圈使指針指向零位，按儀器清零健4，就可以進行校準了；校準時按采樣健5，儀器會自動打印出數(shù)字顯示器6上的讀數(shù)值?，接著按半自動后退鍵3，使活動測桿8后退，表針轉(zhuǎn)動接近第二個校準點，使用手輪2微調(diào)至帶表內(nèi)卡規(guī)整刻線位置?，按采樣健5打印出此點的讀數(shù)值。讀數(shù)值與校準尺寸之差，即為帶表內(nèi)卡規(guī)的示值誤差；余下的受檢點均按以上操作步驟進行，直至校準完畢，校準過程中無需對帶表內(nèi)卡規(guī)做任何調(diào)整；

S6：示值誤差中的最大值即為帶表內(nèi)卡規(guī)的示值誤差。

2.如權(quán)利要求1所述帶表內(nèi)卡規(guī)的校準方法，其特征在于，所述校準點選取五個。

3.如權(quán)利要求2所述帶表內(nèi)卡規(guī)的校準方法，其特征在于，所述帶表內(nèi)卡規(guī)的測量范圍為5mm時，所選出的五個校準點為：A，A+1.25，A+2.5，A+3.75，A+5，其中A為測量范圍下限值。

4.如權(quán)利要求2所述帶表內(nèi)卡規(guī)的校準方法，其特征在于，所述帶表內(nèi)卡規(guī)的測量范圍為10mm時，所選出的五個校準點為：A，A+2.5，A+5，A+7.5，A+10，其中A為測量范圍下限值。

5.如權(quán)利要求2所述帶表內(nèi)卡規(guī)的校準方法，其特征在于，所述帶表內(nèi)卡規(guī)的測量范圍為20mm時，所選出的五個校準點為：A，A+5，A+10，A+15，A+20，其中A為測量范圍下限值。

6.如權(quán)利要求2所述帶表內(nèi)卡規(guī)的校準方法，其特征在于，所述帶表內(nèi)卡規(guī)的測量范圍為40mm時，所選出的五個校準點為：A，A+10，A+20，A+30，A+40，其中A為測量范圍下限值。

7.如權(quán)利要求2所述帶表內(nèi)卡規(guī)的校準方法，其特征在于，所述帶表內(nèi)卡規(guī)的測量范圍為50mm時，所選出的五個校準點為：A，A+12.5，A+25，A+37.5，A+50，其中A為測量范圍下限值。