[發明專利]一種檢測聚丙烯薄膜電氣強度的方法及裝置

在審

• 申請號: 202211380412.3
• 申請日: 2022-11-04
• 公開（公告）號: CN115792514A
• 公開（公告）日: 2023-03-14
• 發明（設計）人: 王鎧;姚成;劉剛;汪鵬;廖偉興;李健偉;屈路;王偉;胡泰山;劉浩;張義;胡上茂;馮瑞發
• 申請（專利權）人: 深圳供電局有限公司;南方電網科學研究院有限責任公司
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12;G01R31/16
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 周偉

1.一種檢測聚丙烯薄膜電氣強度的裝置，包括試驗平臺(1)，所述試驗平臺(1)的頂部從下至上依次鋪設有下極箔(52)、試驗薄膜(3)以及上極箔(51)，所述下極箔(52)接地，所述上極箔(51)與電源及電壓記錄儀電連接，其特征在于：

所述試驗平臺(1)兩側設置有用于對所述下極箔(52)進行收卷的第一卷軸組，所述試驗平臺(1)兩側設置有用于對所述試驗薄膜(3)進行收卷的第二卷軸組，所述試驗平臺(1)兩側設置有用于對所述上極箔(51)進行收卷的第三卷軸組；

所述試驗薄膜(3)的頂部設置有掩膜(4)，所述掩膜(4)頂部貫穿開設有通孔，所述上極箔(51)底部與所述掩膜(4)頂部相抵接，其中，所述上極箔(51)遮蓋所述通孔；

所述試驗平臺(1)設置有用于使所述掩膜(4)與所述試驗平臺(1)保持相對固定的限位裝置，且所述掩膜(4)與所述限位裝置拆卸式連接。

2.根據權利要求1所述的檢測聚丙烯薄膜電氣強度的裝置，其特征在于：所述限位裝置包括設置在所述試驗平臺(1)頂部，用于對所述掩膜(4)水平方向限位的第一擋塊(13)，以及設置在所述試驗平臺(1)頂部，用于對所述掩膜(4)豎直方向限位的第二擋塊(14)，其中，所述第一擋塊(13)與所述掩膜(4)側壁相抵接，所述第二擋塊(14)與所述掩膜(4)頂部相抵接。

3.根據權利要求2所述的檢測聚丙烯薄膜電氣強度的裝置，其特征在于：所述第一卷軸組、所述第二卷軸組以及所述第三卷軸組的收卷方向一致，且所述第一擋塊(13)位于所述試驗平臺(1)靠近所述第三卷軸組收卷軸的一側。

4.根據權利要求1所述的檢測聚丙烯薄膜電氣強度的裝置，其特征在于：所述試驗平臺(1)上方設置有用于記錄所述上極箔(51)擊穿點位置的攝像頭(11)。

5.根據權利要求1所述的檢測聚丙烯薄膜電氣強度的裝置，其特征在于：所述試驗平臺(1)上設置有用于壓平所述上極箔(51)的升降壓軸(12)。

6.根據權利要求1所述的檢測聚丙烯薄膜電氣強度的裝置，其特征在于：所述上極箔(51)與所述下極箔(52)均為鋁箔。

7.一種檢測聚丙烯薄膜電氣強度的方法，用于使用權利要求1-6任一所述的檢測聚丙烯薄膜電氣強度的裝置，其特征在于包括以下步驟：

S1.將下極箔(52)、試驗薄膜(3)依次上卷至第一卷軸組以及第二卷軸組，掩膜(4)通過限位裝置放置于試驗薄膜(3)的頂部，上極箔(51)上卷至第三卷軸組；

S2.將下極箔(52)接地，并對上極箔(51)通電，待上極箔(51)在靜電力作用下嵌入掩膜(4)通孔，隨后繼續升壓，直至試驗薄膜(3)被擊穿；

S3.通過電壓記錄儀記錄試驗薄膜(3)擊穿時的電壓；

S4.記錄試驗薄膜(3)的擊穿位置；

S5.驅動第一卷軸組、第二卷軸組以及第三卷軸組，使下極箔(52)、試驗薄膜(3)以及上極箔(51)收卷，使下極箔(52)和上極箔(51)在S2中的擊穿測試區域與通孔完全錯開，重復S2-S5，直至第二卷軸組上的試驗薄膜(3)測試完畢；

S6.更換第二卷軸組的試驗薄膜(3)，取出掩膜(4)，第一卷軸組與第三卷軸組反轉直至下極箔(52)與上極箔(51)復位，更換掩膜(4)，使前后掩膜(4)通孔在上極箔(51)收卷方向的垂直方向上完全錯開，重復S2-S6，直至試驗薄膜(3)全部測試完畢；

S7.計算所收集到數據的平均值以及最小值，評估試驗薄膜(3)整體電氣強度。