[發明專利]一種芯片外觀檢測機構

在審

• 申請號: 202211357862.0
• 申請日: 2022-11-01
• 公開（公告）號: CN115684015A
• 公開（公告）日: 2023-02-03
• 發明（設計）人: 殷國海
• 申請（專利權）人: 江蘇芯緣半導體有限公司
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;G01N21/88;G01N21/95;G01N33/00
• 代理公司: 蘇州途正專利代理有限公司 32559
• 代理人: 王康

本發明公開了一種芯片外觀檢測機構，涉及芯片外觀檢測技術領域，包括測試平臺以及設置在所述測試平臺上的斜槽底座和測試座本體，所述斜槽底座的底部內壁上設有安裝槽，所述安裝槽的內壁連接有輔助調節機構，所述輔助調節機構上分別連接有一個安裝塊和兩個支撐桿，所述安裝塊的頂部外壁上設有連接塊。本發明公開的芯片外觀檢測機構，利用垂直照射形成的陰影成像來對芯片針腳進行檢測，效果更加全面充分，同時，有效規范了CPU針腳的歪斜限度，降低了CPU的故障率。

技術領域

本發明涉及芯片外觀檢測技術領域，尤其涉及一種芯片外觀檢測機構。

背景技術

隨著科技行業發展的進步，芯片變得越來越小卻越來越先進，在電腦產品的應用中以電腦CPU的形式存在，電腦CPU的針腳整體按照矩形分布，同時CPU的針腳排列整齊，在CPU生產完成后，需要等CPU的整體外觀進行檢測，避免類似CPU針腳類的結構發生彎曲變形，影響電腦內部元件的安裝。

申請號為CN202010818568.X的專利文件公開了一種芯片外觀檢測機構，涉及芯片外觀檢測技術領域,該芯片外觀檢測機構包括射頻電路板，射頻電路板表面設置有至少一條射頻信號線和至少一個射頻連接柱，射頻連接柱與射頻信號線一一對應且一體設置，射頻連接柱與待測試芯片電連接。但是傳統的芯片外觀檢測機構在使用時，只是對CPU外觀磨損等瑕疵進行重點檢測，此外，只是通過簡單的辨別方式對芯片針腳進行檢測，CPU針腳的歪斜程度無法得到有效的規范，檢測效果不到位；例如：當芯片的部分針腳歪斜程度較大時，一方面芯片在使用時會無法與對應的元件接觸充分，導致CPU工作出現故障，另一方面，在安裝時，歪斜的針腳無法與針腳對應的槽口對應，容易發生碰撞擠壓，導致針腳歪斜程度更大，修復難度也更大。

發明內容

本發明公開一種芯片外觀檢測機構，旨在解決傳統的芯片外觀檢測機構在使用時，CPU針腳的歪斜程度無法得到有效的規范，存在檢測效果不到位的技術問題。

為了實現上述目的，本發明采用了如下技術方案：

一種芯片外觀檢測機構，包括測試平臺以及設置在所述測試平臺上的斜槽底座和測試座本體，所述斜槽底座的底部內壁上設有安裝槽，所述安裝槽的內壁設有螺紋桿，所述螺紋桿上連接有輔助調節機構，所述輔助調節機構上分別連接有一個安裝塊和兩個支撐桿，所述安裝塊的頂部外壁上設有連接塊，兩個所述支撐桿的頂端均設有限制塊，兩個所述限制塊的相對一側外壁上安裝有同一個調節架，所述調節架的內壁上滑動連接有滑環，所述滑環的圓周內壁上設有等距離分布的固定機構，所述滑環的圓周外壁上設有等距離分布的齒槽，所述連接塊的頂部外壁上設有固定槽，所述固定槽的底部內壁上通過軸承連接有主動齒輪，所述主動齒輪與所述滑環外壁的所述齒槽相嚙合，所述安裝塊的內壁上通過軸承連接有微調螺桿，所述微調螺桿的外壁上設有第一螺紋套塊，所述第一螺紋套塊的一側外壁上設有燈管，所述測試平臺的一側外壁上設有側板，所述側板靠近所述調節架的一側外壁上設有背景板，所述燈管的燈光朝向所述背景板一側。

本方案中，相較于傳統的芯片外觀檢測，除了簡單的外部檢測還包括矯正后測試工序，先將待測的芯片放入到固定機構上，接著打開燈管作為光源使用，光源會垂直照向芯片的針腳，同時將照射的陰影呈現在背景板上，然后通過微調主動齒輪，在主動齒輪與滑環外壁齒槽的嚙合作用下微調固定的芯片轉動，通過呈現的陰影充分全面的對芯片針腳進行檢測，通過此預檢測工序，全面有效的判斷CPU針腳是否歪斜，與此同時，將針腳測試合格的CPU放入到測試座本體上檢測，檢測結果更加有說服力。

在一個優選的方案中，所述輔助調節機構包括：安裝在所述螺紋桿外壁的第二螺紋套塊，所述第二螺紋套塊的頂部外壁上設有安裝桿，所述安裝桿的頂端設有固定臺，所述固定臺的一側外壁上設有兩個連接桿，所述測試平臺的一側外壁上設有微型馬達，所述微型馬達的輸出軸與所述螺紋桿的一端相連，兩個所述連接桿的一端分別與兩個所述支撐桿的一側外壁相連，所述固定臺位于所述安裝桿的頂端。