[發(fā)明專利]GIS局部放電實驗室有效模擬和多源檢測系統(tǒng)及方法

在審

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• 申請日: 2022-10-31
• 公開（公告）號: CN115453299A
• 公開（公告）日: 2022-12-09
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 楊旭;劉詣;程林;江翼;羅傳仙;張靜;文豪;邱虎;程立豐;黃勤清;周文;張國治;陳孝信
• 申請（專利權(quán)）人: 國網(wǎng)電力科學研究院武漢南瑞有限責任公司;國網(wǎng)電力科學研究院有限公司;國網(wǎng)浙江省電力有限公司電力科學研究院;國網(wǎng)浙江省電力有限公司
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12;G01R1/02;G01N30/02
• 代理公司: 武漢開元知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 42104
• 代理人: 李滿;潘杰

1.一種GIS局部放電實驗室有效模擬和多源檢測系統(tǒng)，其特征在于：它包括加壓電路模塊(1)、檢測阻抗(2)、特高頻傳感器(8)、超聲波傳感器(11)、熒光光纖傳感器(9)、試驗缺陷模型(21)、示波器(12)、采氣裝置(10)和氣相色譜儀(13)；

所述加壓電路模塊(1)用于將試驗電壓升至起始局放電壓Ui；

所述檢測阻抗(2)用于標定脈沖電流法的放電量，在試驗加壓過程中采集所述試驗缺陷模型(21)局部放電產(chǎn)生的脈沖電流信號；

所述加壓電路模塊(1)還用于輸出所述脈沖電流信號和工頻周期信號至所述示波器(12)；

所述特高頻傳感器(8)用于檢測所述試驗缺陷模型(21)局部放電產(chǎn)生的高頻電磁波信號，所述特高頻傳感器(8)通過同軸信號線將高頻電磁波信號輸出至所述示波器(12)；

所述超聲波傳感器(11)用于檢測所述試驗缺陷模型(21)局部放電產(chǎn)生的超聲波信號，所述超聲波傳感器(11)通過同軸信號線將所述超聲波信號輸出至所述示波器(12)；

所述熒光光纖傳感器(9)用于檢測試驗缺陷模型(21)局部放電產(chǎn)生的光信號，所述熒光光纖傳感器(9)通過同軸信號線將所述光信號輸出至所述示波器(12)；

所述示波器(12)用于顯示所述脈沖電流信號、所述高頻電磁波信號、所述超聲波信號和所述光信號，判斷GIS內(nèi)部局部放電的發(fā)生，通過脈沖電流法得到局部放電的放電量，通過所述高頻電磁波信號、所述超聲波信號和所述光信號的幅值大小判斷所述局部放電狀態(tài)；同時，通過所述工頻周期信號能得出局部放電產(chǎn)生的時間和相位信息；

所述采氣裝置(10)用于采集放電試驗后GIS試驗腔體(14)內(nèi)部的氣體，所述采氣袋(20)將采集到的局放試驗后的氣體傳輸至所述氣相色譜儀(13)，所述氣相色譜儀(13)檢測分解所述氣體的組成成分和濃度，獲取GIS內(nèi)部絕緣故障信息。

2.基于權(quán)利要求1所述的一種GIS局部放電實驗室有效模擬和多源檢測系統(tǒng)，其特征在于：

所述加壓電路模塊(1)包括耦合電容C1、分壓電容C2和分壓電容C3，所述耦合電容C1和所述檢測阻抗(2)用于輸出脈沖電流信號，所述分壓電容C2和C3用于輸出工頻周期信號。

3.基于權(quán)利要求2所述的一種GIS局部放電實驗室有效模擬和多源檢測系統(tǒng)，其特征在于：

所述加壓電路模塊(1)中的高壓端與GIS套管高壓端連接，所述耦合電容C1的一端與GIS套管高壓端連接，所述耦合電容C1的另一端與所述檢測阻抗(2)的一端連接，所述耦合電容C1的另一端輸出脈沖電流信號至所述示波器(12)，所述檢測阻抗(2)的另一端與所述分壓電容C3的一端連接，所述分壓電容C3的另一端與所述分壓電容C2的一端連接，所述分壓電容C3的另一端輸出工頻周期信號至所述示波器(12)，所述分壓電容C2的另一端與GIS套管高壓端連接。

4.基于權(quán)利要求1所述的一種GIS局部放電實驗室有效模擬和多源檢測系統(tǒng)，其特征在于：

所述特高頻傳感器(8)放置于有機玻璃法蘭盤(7)前，所述超聲波傳感器(11)貼于GIS外殼上方，所述熒光光纖傳感器(9)放置在有機玻璃法蘭盤(7)外表面，用不透光布對所述熒光光纖傳感器(9)進行遮蓋。

5.基于權(quán)利要求1所述的一種GIS局部放電實驗室有效模擬和多源檢測系統(tǒng)，其特征在于：

所述試驗缺陷模型(21)包括金屬導桿(5)、高壓電極(6)和地電極(16)，用于模擬試驗缺陷，所述金屬導桿(5)的一端與盆式絕緣子(4)高壓端連接，所述金屬導桿(5)的另一端與所述高壓電極(6)相連接，所述地電極(16)通過金屬法蘭盤連接到地線；

所述試驗缺陷模型(21)包括電暈放電試驗缺陷模型、氣隙放電試驗缺陷模型、懸浮電極放電試驗缺陷模型、沿面放電試驗缺陷模型和自由金屬顆粒放電試驗缺陷模型。