[發明專利]掃描成像設備和掃描成像方法

在審

• 申請號: 202211334914.2
• 申請日: 2022-10-28
• 公開（公告）號: CN115508392A
• 公開（公告）日: 2022-12-23
• 發明（設計）人: 李洪旗;史俊平;宋全偉;樊旭平;孟輝;高克金
• 申請（專利權）人: 同方威視技術股份有限公司
• 主分類號: G01N23/203
• 分類號: G01N23/203;G01N23/20008;G01N23/04
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 胡良均

本公開提供一種掃描成像設備和掃描成像方法。掃描成像設備包括：支架，所述支架包括水平臂和豎直臂；安裝于所述水平臂上的頂背散射模塊。支架的水平臂和豎直臂限定檢查通道，水平臂位于所述檢查通道的上方。水平臂能夠攜帶頂背散射模塊繞豎直臂的轉動軸線作小角度的往復擺動。

技術領域

本發明涉及輻射測量領域，具體地，涉及掃描成像設備和方法。

背景技術

X射線安檢設備廣泛用于民航、火車、碼頭等場所，目前運輸環境越來越復雜，流通越來越繁忙，需要快速且可靠的安檢設備。此外，許多安檢場所需要操作快捷，同時體積盡量緊湊的安檢設備。

發明內容

本公開提供一種掃描成像設備，包括：

支架，所述支架包括水平臂和豎直臂；和

安裝于所述水平臂上的頂背散射模塊；

其中，所述水平臂和所述豎直臂限定檢查通道，所述水平臂位于所述檢查通道的上方；并且

其中，所述水平臂能夠攜帶所述頂背散射模塊繞所述豎直臂的旋轉軸線作小角度的往復擺動。

在一個實施例中，豎直臂包括第一豎直臂和第二豎直臂，所述水平臂和所述第二豎直臂能夠繞所述第一豎直臂以小角度往復擺動。

在一個實施例中，掃描成像設備還包括透射模塊，其中所述透射模塊包括透射射線源和透射探測器，所述透射射線源安裝在所述第一豎直臂一側，所述透射探測器安裝在所述第二豎直臂和/或所述水平臂上以便接收由所述透射射線源發射的射線束。

在一個實施例中，第一豎直臂包括第一豎直臂部分和第一豎直臂滑座，其中所述第一豎直臂滑座承載第一豎直臂部分并且能夠沿所述檢查通道的延伸方向移動，所述第一豎直臂部分能夠相對于第一豎直臂滑座轉動，所述透射射線源安裝至所述第一豎直臂部分以便隨著第一豎直臂部分相對于第一豎直臂滑座轉動。

在一個實施例中，第二豎直臂包括第二豎直臂部分和第二豎直臂滑座，其中第二豎直臂滑座承載第二豎直臂部分并且能夠沿檢查通道的延伸方向移動。

在一個實施例中，掃描成像設備還包括第一側背散射模塊，安裝在所述第一豎直臂滑座，并且所述透射射線源和所述第一側背散射模塊沿所述檢查通道的延伸方向布置，以便所述透射射線源發射的射線不會影響所述第一側背散射模塊的第一側背散射檢查；和/或

掃描成像設備還包括第二側背散射模塊，安裝在所述第二豎直臂滑座，并且所述透射探測器和所述第二側背散射模塊沿所述檢查通道的延伸方向布置，以便所述透射射線源發射的射線不會影響所述第二側背散射模塊的第二側背散射檢查；

所述透射探測器安裝在所述第二豎直臂部分。

在一個實施例中，第一豎直臂滑座能夠以第一速度沿所述檢查通道的延伸方向移動，同時第二豎直臂部分能夠隨所述第二豎直臂滑座以第二速度沿所述檢查通道的延伸方向移動，所述第一速度和所述第二速度配置成具有差值以便所述第二豎直臂相對于第一豎直臂以小角度擺動。

在一個實施例中，第二豎直臂滑座設置防護墻，用于阻擋透射射線源發射的透射束。

在一個實施例中，所述透射射線源發射的射線束為面型射線束，并且所述面型射線束沿所述檢查通道的延伸方向的大體橫向切過所述檢查通道。

在一個實施例中，頂背散射模塊被安裝在所述水平臂上的不被所述面型射線束切過的位置上。

在一個實施例中，第一豎直臂滑座包括第一驅動裝置以便驅動第一豎直臂滑座以第一速度沿所述檢查通道的延伸方向移動，第二豎直臂滑座包括第二驅動裝置以便驅動第二豎直臂滑座以第二速度沿所述檢查通道方向的延伸方向移動。

本發明的一方面提供一種掃描成像方法，包括使用上述掃描成像設備對所述檢查通道內的物體實施成像，以便檢查所述物體。