[發(fā)明專利]一種鏡片檢測方法及多工位檢測裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202211330558.7
• 申請日: 2022-10-28
• 公開（公告）號: CN115393358B
• 公開（公告）日: 2023-01-31
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 杜英;袁帥鵬;李雪梅;張瑞強;楊炳輝;蔣書民;曹彬;胡江洪
• 申請（專利權(quán)）人: 菲特（天津）檢測技術(shù)有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/73;G06V10/80;G06T5/30;G06T3/00
• 代理公司: 天津知川知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 12249
• 代理人: 胡翠

本發(fā)明公開了一種鏡片檢測方法及多工位檢測裝置，屬于鏡片缺陷檢測技術(shù)領(lǐng)域，其特征在于，包括：S1、獲取待測鏡片的鏡片圖像，所述鏡片圖像包括第一組圖像和第二組圖像；S2、對鏡片圖像進行分析處理；S201、初次提取缺陷特征；S202、再次提取缺陷特征；S203、缺陷特征合并；S204、將第一組圖像的所有缺陷特征仿射變換到第二組圖像的所有缺陷特征位置，將所述第一組圖像和第二組圖像對應(yīng)位置的缺陷特征分別進行膨脹，對膨脹后的缺陷特征進行差分運算，得到差值圖像，將差值圖像上的非0像素點認定為鏡片本身的缺陷，將由非0轉(zhuǎn)為0的像素點認定為灰塵。本發(fā)明利用差值計算，能夠快速識別出灰塵，進而提高鏡片檢測的準確率。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于鏡片缺陷檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種鏡片檢測方法及多工位檢測裝置。

背景技術(shù)

眾所周知，鏡片是采用玻璃或樹脂等光學材料制作而成的具有一個或多個曲面的透明材料。鏡片在使用前，為了保證其質(zhì)量，需要對其進行檢測，目前，鏡片的質(zhì)量缺陷主要包括：劃傷、擦傷、點顆粒、亮點、破邊、氣泡、毛異物、龜裂、霧狀、膜層異物、掛邊、膜層不到邊、脫膜等；但是在實際檢測過程中，點顆粒、亮點等缺陷和灰塵的成像效果接近，即在檢測的過程中，需要排除灰塵的干擾。為此，設(shè)計開發(fā)一種克服上述缺陷的鏡片檢測方法及多工位檢測裝置，具有重要的意義。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明為解決公知技術(shù)中存在的技術(shù)問題，提供一種鏡片檢測方法及多工位檢測裝置，通過差分運算，能夠快速識別出灰塵缺陷，進而提高鏡片檢測的準確率。

本發(fā)明的第一目的是提供一種鏡片檢測方法，包括：

S1、獲取待測鏡片的鏡片圖像，所述鏡片圖像包括第一組圖像和第二組圖像；

S2、對鏡片圖像進行分析處理；包括：

S201、初次提取缺陷特征：對第一組圖像和第二組圖像分別進行局部閾值處理得到第一組圖像的缺陷特征和第二組圖像的缺陷特征；

S202、再次提取缺陷特征：

首先遍歷比較第一組圖像中的每個像素，選擇每個位置像素點灰度最大的值，合成為新的第一對比圖像；然后對第一對比圖像依次進行乘法運算和全局閾值處理，得到第一對比圖像的缺陷特征；

首先遍歷比較第二組圖像中的每個像素，選擇每個位置像素點灰度最大的值，合成為新的第二對比圖像；然后對第二對比圖像依次進行乘法運算和全局閾值處理，得到第二對比圖像的缺陷特征；

S203、缺陷特征合并：將S201中得到的第一組圖像的缺陷特征和S202中得到的第一對比圖像的缺陷特征合并一起得到第一組圖像的所有缺陷特征，將S201中得到的第二組圖像的缺陷特征和S202中得到的第二對比圖像的缺陷特征合并一起得到第二組圖像的所有缺陷特征；

S204、將第一組圖像的所有缺陷特征仿射變換到第二組圖像的所有缺陷特征位置，將所述第一組圖像和第二組圖像對應(yīng)位置的缺陷特征分別進行膨脹，對膨脹后的缺陷特征進行差分運算，得到差值圖像，將差值圖像上的非0像素點認定為鏡片本身的缺陷，將由非0轉(zhuǎn)為0的像素點認定為灰塵。

優(yōu)選地，在S1中，第一組圖像是待測鏡片除塵前的圖像，第二組圖像為待測鏡片除塵后的圖像。

優(yōu)選地，在S1中，所述第一組圖像包括待測鏡片的圖像和定位標識圖像，所述第二組圖像包括待測鏡片的圖像和定位標識圖像。

優(yōu)選地，所述定位標識為位于待測鏡片四周的四個定位孔，四個定位孔位于矩形框的四個頂角位置。

優(yōu)選地，所述仿射變換的過程為：

a、確定基準點坐標差值：分別將第一組圖像中待測鏡片的輪廓和第二組圖像中待測鏡片的輪廓擬合為圓，提取第一組圖像的圓心作為源點坐標，提取第二組圖像的圓心作為目標點坐標；計算源點坐標和目標點坐標的差值得到基準點坐標差值；