[發明專利]一種檢測單巴條性能的測試系統及使用方法在審
| 申請號: | 202211317305.6 | 申請日: | 2022-10-26 |
| 公開(公告)號: | CN115683326A | 公開(公告)日: | 2023-02-03 |
| 發明(設計)人: | 王梓暉;劉琦;孫素娟;位曉鳳;王德超;楊彥嶺 | 申請(專利權)人: | 山東華光光電子股份有限公司 |
| 主分類號: | G01J1/04 | 分類號: | G01J1/04;G01J1/42;G01J9/00;G05D23/24 |
| 代理公司: | 濟南金迪知識產權代理有限公司 37219 | 代理人: | 王楠 |
| 地址: | 250101 山東省濟*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 檢測 單巴條 性能 測試 系統 使用方法 | ||
1.一種檢測單巴條性能的測試系統,其特征在于,所述測試系統包括積分球測試套組、三維調節架、帶有TEC溫控系統的載物平臺、帶有TEC溫控系統的快速按壓夾具;
三維調節架與積分球測試套組并排放置,三維調節架上設置帶有TEC溫控系統的載物平臺、帶有TEC溫控系統的快速按壓夾具,帶有TEC溫控系統的載物平臺上放置單巴單元,帶有TEC溫控系統的快速按壓夾具將單巴單元固定于載物平臺上,按壓夾具與載物平臺分別接觸單巴單元的P/N兩面,三維調節架調整單巴單元與積分球的相對位置。
2.根據權利要求1所述的檢測單巴條性能的測試系統,其特征在于,帶有TEC溫控系統的快速按壓夾具與單巴單元接觸的一面進行蒸銦處理;帶有TEC溫控系統的載物平臺與單巴單元接觸的一面進行蒸銦處理。
3.根據權利要求1所述的檢測單巴條性能的測試系統,其特征在于,帶有TEC溫控系統的快速按壓夾具與單巴單元接觸一端內部設有TEC反饋熱敏電阻,帶有TEC溫控系統的載物平臺與單巴單元接觸一面的內部設有TEC反饋熱敏電阻。
4.根據權利要求1所述的檢測單巴條性能的測試系統,其特征在于,帶有TEC溫控系統的快速按壓夾具位于載物平臺上方,包括操作把手、下壓軌道、固定壓塊,固定壓塊在下壓軌道內豎向移動,操作把手連接固定壓塊,操作把手下壓時,帶動固定壓塊在下壓軌道內移動下降。
5.根據權利要求1所述的檢測單巴條性能的測試系統,其特征在于,三維調節架包括底座、立架、移動架,立架上設有Z向軌道,移動架在Z向軌道中豎向移動,移動架為L型架,移動架上設有XY向移動機構,XY向移動機構上方連接帶有TEC溫控系統的載物平臺,由XY向移動機構帶動載物平臺在水平面內移動。
6.一種利用權利要求3任意一項權利要求所述檢測單巴條性能的測試系統的使用方法,其特征在于,包括步驟如下:
單巴單元被放置在載物平臺上,通過帶有TEC溫控系統的快速按壓夾具將單巴單元固定于載物平臺上,載物平臺和按壓夾具與單巴單元的P/N面接觸,充分發揮此系統雙TEC的良好溫控能力,保證單巴單元溫度的穩定,通過調節三維調節架,使單巴單元位于相對于積分球居中的位置,開啟外接雙TEC,載物平臺和按壓夾具內部的TEC反饋熱敏電阻位于單巴單元P/N兩面附近;
載物平臺與按壓夾具分別與外接電源的正負極相連接,并串聯一個額定電阻,電阻在單巴單元出現異常時,保證電路的正常運轉。
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