[發明專利]參數檢查方法、裝置、電子設備和存儲介質

在審

• 申請號: 202211317083.8
• 申請日: 2022-10-26
• 公開（公告）號: CN115801225A
• 公開（公告）日: 2023-03-14
• 發明（設計）人: 李偉;吳艾青;楊晨光;王一伕;陳億;南龍梅;陳韜
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍戰略支援部隊信息工程大學
• 主分類號: H04L9/06
• 分類號: H04L9/06;H04L9/30
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 李偉

本申請實施例公開了一種參數檢查方法、裝置、電子設備和存儲介質，在密碼算法程序中獲得目標參數及其對應的目標標識符；不同的目標參數對應不同的目標標識符；調用目標標識符對應的檢查規則對目標參數進行檢測，以判斷目標參數是否滿足所述檢查規則；若目標參數不滿足至少一個檢查規則，輸出與上述至少一個檢查規則對應的提示信息。本申請在密碼算法程序中插入了用于識別不同目標參數的目標標識符，進而利用目標標識符對應的檢查規則對目標參數進行檢查，并在目標參數不滿足至少一個檢查規則時，輸出與上述至少一個檢查規則的提示信息，以便于程序開發人員進行相應的糾正。基于本申請實現了密碼算法中參數的自動檢查，提高了參數檢查效率。

技術領域

本申請涉及加密技術領域，更具體地說，涉及一種參數檢查方法、裝置、電子設備和存儲介質。

背景技術

密碼算法是用于加密和解密的數學函數，用于保證信息的安全。

密碼算法中有許多參數，比如，置換表、替代表等。一些參數中涉及到較多的數據，比如，DES算法的初始置換表參數中有64個數據，替代表參數中有512個數據。這些數據在編程實現的過程中很容易出現錯誤，這些錯誤既不屬于詞法、語法錯誤，也不屬于傳統意義上的語義錯誤，因此，編譯器無法檢查出這類錯誤，使得程序開發人員不得不進行人工檢查，而人工檢查的效率比較低，因此，如何提高參數檢查效率成為亟待解決的技術問題。

發明內容

本申請的目的是提供一種參數檢查方法、裝置、電子設備和存儲介質，以提高參數檢查效率，具體包括如下技術方案：

一種參數檢查方法，所述方法包括：

在密碼算法程序中獲得目標參數，以及所述目標參數對應的目標標識符；不同的目標參數對應不同的目標標識符；

調用所述目標標識符對應的檢查規則對所述目標參數進行檢測，以判斷所述目標參數是否滿足所述檢查規則；

若所述目標參數不滿足至少一個檢查規則，輸出與所述至少一個檢查規則對應的提示信息。

上述方法，優選的，還包括：

若所述目標參數滿足所述目標標識符對應的所有檢查規則，刪除所述密碼算法程序中的所述目標標識符。

上述方法，優選的，所述目標參數包括替代表或置換表；所述目標標識符對應的檢查規則包括：

所述替代表或置換表中的數據規模為2^k，k為整數；

所述替代表或置換表中的數據范圍為0～2ⁿ-1，n為整數；

所述替代表或置換表的輸入數據位寬為k，輸出數據位寬為n；

所述替代表或置換表中每個數據出現的次數為2^k-n。

上述方法，優選的，所述目標參數包括替代表或置換表；所述目標標識符對應的檢查規則包括：

基于所述替代表或置換表獲得的加密算法的S盒的差分均勻度小于或等于差分均勻度閾值。

上述方法，優選的，所述目標參數包括整系數多項式；所述目標標識符對應的檢查規則包括：

所述整系數多項式為不可約多項式。

上述方法，優選的，所述目標參數包括橢圓曲線參數；所述目標標識符對應的檢查規則包括：素數域F_p上的第一類橢圓曲線參數對應的檢查規則，和/或，二元域F_q上的第二類橢圓曲線參數對應的檢查規則；其中，