[發明專利]一種封星裝置中靜態元件檢測方法及裝置

在審

• 申請號: 202211313576.4
• 申請日: 2022-10-25
• 公開（公告）號: CN115629306A
• 公開（公告）日: 2023-01-20
• 發明（設計）人: 張海波;嚴彩忠;李武
• 申請（專利權）人: 菱王電梯有限公司;廣東美的暖通設備有限公司
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327;B66B5/00
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 唐正瑜

1.一種封星裝置中靜態元件檢測方法，其特征在于，包括：

判斷電梯是否已經停止運行；

當所述電梯已經停止運行時，隔離靜態元件的主控驅動信號；

提取所述靜態元件的采樣信號；

基于所述采樣信號和多個單相驅動信號對所述靜態元件進行檢測，得到檢測結果。

2.根據權利要求1所述的封星裝置中靜態元件檢測方法，其特征在于，所述基于所述采樣信號和多個單相驅動信號對所述靜態元件進行檢測，得到檢測結果的步驟包括：

判斷所述采樣信號是否為高電平；

當所述采樣信號不為所述高電平時，輸出所述靜態元件已損壞的檢測結果。

3.根據權利要求2所述的封星裝置中靜態元件檢測方法，其特征在于，所述方法還包括：

當所述采樣信號為所述高電平時，輸出U相脈沖驅動信號；

判斷所述采樣信號是否為低電平；

當所述采樣信號不為所述低電平時，輸出所述U相靜態元件已損壞的檢測結果。

4.根據權利要求3所述的封星裝置中靜態元件檢測方法，其特征在于，所述方法還包括

當所述采樣信號為所述低電平時，輸出V相脈沖驅動信號并隔離所述U相脈沖驅動信號；

判斷所述采樣信號是否仍為低電平；

當所述采樣信號不為所述低電平時，輸出所述V相靜態元件已損壞的檢測結果。

5.根據權利要求4所述的封星裝置中靜態元件檢測方法，其特征在于，所述方法還包括：

當所述采樣信號為所述低電平時，輸出W相脈沖驅動信號并隔離所述V相脈沖驅動信號；

判斷所述采樣信號是否還為低電平；

當所述采樣信號不為所述低電平時，輸出所述W相靜態元件已損壞的檢測結果。

6.根據權利要求5所述的封星裝置中靜態元件檢測方法，其特征在于，所述方法還包括：

當所述采樣信號為所述低電平時，輸出所述靜態元件正常的檢測結果。

7.一種封星裝置中靜態元件檢測裝置，其特征在于，所述封星裝置中靜態元件檢測裝置包括：

判斷單元，用于判斷電梯是否已經停止運行；

隔離單元，用于當所述電梯已經停止運行時，隔離靜態元件的主控驅動信號；

提取單元，用于提取所述靜態元件的采樣信號；

檢測單元，用于基于所述采樣信號和多個單相驅動信號對所述靜態元件進行檢測，得到檢測結果。

8.根據權利要求7所述的封星裝置中靜態元件檢測裝置，其特征在于，所述檢測單元包括：

判斷子單元，用于判斷所述采樣信號是否為高電平；

輸出子單元，用于當所述采樣信號不為所述高電平時，輸出所述靜態元件已損壞的檢測結果。

9.根據權利要求8所述的封星裝置中靜態元件檢測裝置，其特征在于，所述檢測單元還包括：

驅動子單元，用于當所述采樣信號為所述高電平時，輸出U相脈沖驅動信號；

所述判斷子單元，還用于判斷所述采樣信號是否為低電平；

所述輸出子單元，還用于當所述采樣信號不為所述低電平時，輸出所述U相靜態元件已損壞的檢測結果。

10.根據權利要求9所述的封星裝置中靜態元件檢測裝置，其特征在于，所述驅動子單元，還用于當所述采樣信號為所述低電平時，輸出V相脈沖驅動信號并隔離所述U相脈沖驅動信號；

所述判斷子單元，還用于判斷所述采樣信號是否仍為低電平；

所述輸出子單元，還用于當所述采樣信號不為所述低電平時，輸出所述V相靜態元件已損壞的檢測結果。

11.一種電子設備，其特征在于，所述電子設備包括存儲器以及處理器，所述存儲器用于存儲計算機程序，所述處理器運行所述計算機程序以使所述電子設備執行權利要求1至6中任一項所述的封星裝置中靜態元件檢測方法。

12.一種可讀存儲介質，其特征在于，所述可讀存儲介質中存儲有計算機程序指令，所述計算機程序指令被一處理器讀取并運行時，執行權利要求1至6任一項所述的封星裝置中靜態元件檢測方法。