[發明專利]用于永磁體的多物理場老化測試系統及方法

在審

• 申請號: 202211312181.2
• 申請日: 2022-10-25
• 公開（公告）號: CN115616065A
• 公開（公告）日: 2023-01-17
• 發明（設計）人: 任少卿;王世偉;王軒;趙明靜;呂科;康佳
• 申請（專利權）人: 包頭稀土研究院
• 主分類號: G01N27/82
• 分類號: G01N27/82;G01N27/90;G01N25/72;G01R31/00;G01M7/02
• 代理公司: 北京悅成知識產權代理事務所(普通合伙) 11527
• 代理人: 樊耀峰;安平

1.一種用于永磁體的多物理場老化測試系統，其特征在于，包括測試平臺主體和控制單元；所述測試平臺主體包括：

保溫單元，其具有容納空間，設置為能夠容納待測永磁體并對所述待測永磁體進行保溫；

加熱與溫控單元，其包括加熱平臺，所述加熱平臺設置于所述容納空間內，且所述待測永磁體位于所述加熱平臺上；所述加熱與溫控單元設置為將所述待測永磁體加熱至設定溫度；

固定夾具，其設置于所述加熱平臺上并位于所述容納空間內，設置為將待測永磁體固定于所述加熱平臺上；

振動單元，其包括振動平臺，所述振動平臺設置于所述加熱平臺的下方并位于所述容納空間的外部；所述振動單元設置為使得所述待測永磁體發生振動；

磁場產生單元，其設置為在所述待測永磁體的周圍空間產生磁場；

所述控制單元分別與所述加熱與溫控單元、振動單元和磁場產生單元相連。

2.根據權利要求1所述的老化測試系統，其特征在于，所述振動單元還包括振動主機；所述振動主機與所述控制單元相連，設置為使得所述振動平臺振動。

3.根據權利要求2所述的老化測試系統，其特征在于，所述測試平臺主體還包括支撐平臺單元；所述支撐平臺單元包括底座；所述振動平臺設置于所述底座上。

4.根據權利要求3所述的老化測試系統，其特征在于，所述磁場產生單元包括亥姆霍茲線圈和交流電流源；

所述亥姆霍茲線圈固定于所述底座上；且所述亥姆霍茲線圈的兩個線圈分別位于所述待測永磁體的兩側；所述交流電流源設置為產生勵磁電流并使得所述亥姆霍茲線圈產生預定頻率的交變電磁場。

5.根據權利要求1所述的老化測試系統，其特征在于，所述加熱與溫控單元還包括加熱與溫控主機；所述加熱與溫控主機與所述控制單元相連，設置為控制所述加熱平臺的溫度。

6.根據權利要求1所述的老化測試系統，其特征在于，所述固定夾具包括能夠容納所述待測永磁體的殼體結構和螺柱；所述殼體結構固定于所述加熱平臺上；所述殼體結構的頂部中心設置有螺紋孔；所述螺柱與所述螺紋孔相匹配，并設置為穿過所述螺紋孔與所述待測永磁體抵接。

7.根據權利要求1所述的老化測試系統，其特征在于，所述測試平臺主體還包括墊板；所述墊板設置于所述加熱平臺和所述振動平臺之間，且所述墊板位于所述容納空間內。

8.根據權利要求1所述的老化測試系統，其特征在于，所述保溫單元包括保溫盒，所述保溫盒具有容納空間，所述保溫盒固定于所述振動平臺上。

9.根據權利要求1～8任一項所述的老化測試系統，其特征在于，所述控制單元包括顯示器，所述顯示器設置為能夠手動設置相應參數以及設置為在測試時實時顯示各參數值。

10.采用權利要求1～9任一項所述的用于永磁體的多物理場老化測試系統對待測永磁體進行老化測試的方法，其特征在于，包括以下步驟：

1)在老化之前，測量待測永磁體的表磁分布情況；

2)將待測永磁體用所述固定夾具固定于所述加熱平臺上；設置相應參數，利用所述磁場產生單元、振動單元、加熱與溫控單元對待測永磁體施加設定頻率的電磁場、設定頻率與幅值的振動以及設定的溫度進行老化處理；

3)再測量老化之后的永磁體表磁分布情況，并與老化之前的表磁數據進行對比。