[發明專利]一種基于菲涅爾透鏡的多焦點被動式太赫茲成像系統在審
| 申請號: | 202211310024.8 | 申請日: | 2022-10-25 |
| 公開(公告)號: | CN115639616A | 公開(公告)日: | 2023-01-24 |
| 發明(設計)人: | 周德亮;臧元章;袁毅;陳銀暉;李暢;侯麗偉;謝巍;孫義興;胡志勇 | 申請(專利權)人: | 上海亨臨光電科技有限公司;江蘇亨通太赫茲技術有限公司 |
| 主分類號: | G01V8/20 | 分類號: | G01V8/20;G01N21/01;G01N21/3563;G01N21/3581 |
| 代理公司: | 蘇州國誠專利代理有限公司 32293 | 代理人: | 陶純佳 |
| 地址: | 201306 上海市浦東新區*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 菲涅爾 透鏡 焦點 被動式 赫茲 成像 系統 | ||
1.一種基于菲涅爾透鏡的多焦點被動式太赫茲成像系統,其特征在于:其包括掃描鏡、掃描裝置、光學裝置、探測器組和電子學處理裝置,所述掃描裝置分別與所述掃描鏡、電子學處理裝置相連,所述探測器組與所述電子學處理裝置相連;其中,
掃描鏡,用于對被探測區域進行掃描并接收從被探測區域返回的太赫茲輻射信號;
掃描裝置,控制所述掃描鏡對被探測區域進行掃描并將掃描位置信息反饋給電子學處理裝置、實現對被探測區域的掃描成像;
光學裝置,用于接收從所述掃描鏡反射的太赫茲輻射信號并將信號聚集;
探測器組,由多個單體探測器構成并分別與電子學處理裝置連接,每個單體探測器均分別用于探測并接收由光學裝置聚集的太赫茲輻射信號,并將接收到的太赫茲輻射信號輸出給電子學處理裝置;
電子學處理裝置,用于對所述探測器組輸出的太赫茲輻射信號進行濾波、放大、采樣及數字圖像處理,并對所述掃描裝置進行控制和接收反饋;
所述光學裝置為基于菲涅爾透鏡的多焦點準光學裝置,其是由多個菲涅爾單元透鏡構成的透鏡陣列,且各個所述菲涅爾單元透鏡的焦點落在共同的焦平面上并由此各個焦點能在共同的焦平面上組合形成預設圖形。
2.根據權利要求1所述的一種基于菲涅爾透鏡的多焦點被動式太赫茲成像系統,其特征在于:所述多個菲涅爾單元透鏡構成的透鏡陣列按蜂窩式結構排布。
3.根據權利要求1或2所述的一種基于菲涅爾透鏡的多焦點被動式太赫茲成像系統,其特征在于:探測器組的各個單體探測器按各個菲涅爾單元透鏡的焦點落在共同的焦平面上而形成的預設圖形排布。
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