[發明專利]一種在高鎳三元正極材料表面構筑導電聚合物CEI膜的方法在審
| 申請號: | 202211300660.2 | 申請日: | 2022-10-24 |
| 公開(公告)號: | CN115472806A | 公開(公告)日: | 2022-12-13 |
| 發明(設計)人: | 任玉榮;周波;李建斌;賈樹勇 | 申請(專利權)人: | 常州大學 |
| 主分類號: | H01M4/36 | 分類號: | H01M4/36;H01M4/62;H01M4/505;H01M4/525;H01M10/0525 |
| 代理公司: | 常州市英諾創信專利代理事務所(普通合伙) 32258 | 代理人: | 李楠 |
| 地址: | 213164 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 三元 正極 材料 表面 構筑 導電 聚合物 cei 方法 | ||
1.一種在高鎳三元正極材料表面構筑導電聚合物CEI膜的方法,其特征在于,包括以下步驟:
(a)將聚苯胺加入含質子酸的溶液中進行處理得質子酸摻雜PANI;
(b)將所述質子酸摻雜PANI、PEG分別加入有機溶劑中使其溶解得第一混合物;
(c)將無機功能材料和高鎳三元正極材料分別加入所述第一混合物中,進行攪拌、超聲;待反應結束后,進行減壓蒸餾、收集得到黑色物質,烘干即可。
2.根據權利要求1所述在高鎳三元正極材料表面構筑導電聚合物CEI膜的方法,其特征在于:步驟(a)中,所述質子酸為磷酸和鹽酸組成的混合酸,所述聚苯胺與所述混合酸的質量比為1:10~15。
3.根據權利要求2所述在高鎳三元正極材料表面構筑導電聚合物CEI膜的方法,其特征在于:所述混合酸中鹽酸和磷酸的體積比為1:1~3;
優選地,磷酸的濃度為85%,鹽酸的濃度為36~38%。
4.根據權利要求1所述在高鎳三元正極材料表面構筑導電聚合物CEI膜的方法,其特征在于:步驟(a)中,將所述聚苯胺加入所述含質子酸的溶液中后,移入燒瓶中加熱到40~80℃攪拌0.5~2h,隨后超聲;用孔徑≤0.45μm的濾膜進行抽濾,去離子水洗滌至中性,干燥得質子酸摻雜PANI。
5.根據權利要求1所述在高鎳三元正極材料表面構筑導電聚合物CEI膜的方法,其特征在于:步驟(b)中,所述PEG為PEG1500/或PEG2000中的一種。
6.根據權利要求1所述在高鎳三元正極材料表面構筑導電聚合物CEI膜的方法,其特征在于:所述有機溶劑為N-甲基吡咯烷酮或/和N,N-二甲基甲酰胺。
7.根據權利要求1所述在高鎳三元正極材料表面構筑導電聚合物CEI膜的方法,其特征在于:所述質子酸摻雜PANI和所述PEG的質量比為1:1,所述PEG和所述有機溶劑的比例為0.15~0.6g:20ml。
8.根據權利要求1所述在高鎳三元正極材料表面構筑導電聚合物CEI膜的方法,其特征在于:步驟(c)中,所述無機功能材料為選自多壁碳納米管和雙三氟甲磺酰亞胺鋰(LiTFSI)中的一種;
優選地,所述高鎳三元正極材料為NCM811。
9.根據權利要求8所述在高鎳三元正極材料表面構筑導電聚合物CEI膜的方法,其特征在于:步驟(c)中,所述無機功能材料、高鎳三元正極材料與PEG的質量比為4~5:150~250:3。
10.根據權利要求8所述在高鎳三元正極材料表面構筑導電聚合物CEI膜的方法,其特征在于:步驟(c)中,于50~70℃攪拌0.5~2h,超聲5~20min。
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