[發明專利]一種耐電壓檢驗裝置在審
| 申請號: | 202211298728.8 | 申請日: | 2022-10-24 |
| 公開(公告)號: | CN115508681A | 公開(公告)日: | 2022-12-23 |
| 發明(設計)人: | 張同雷;傘博;孫飛;于浩東;曹正偉;王皎穎 | 申請(專利權)人: | 大連達利凱普科技股份公司 |
| 主分類號: | G01R31/18 | 分類號: | G01R31/18 |
| 代理公司: | 大連智高專利事務所(特殊普通合伙) 21235 | 代理人: | 畢進 |
| 地址: | 116630 遼寧省*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 電壓 檢驗 裝置 | ||
一種耐電壓檢驗裝置,屬于電容器測試設備技術領域,包括耐壓測試儀、銅夾片、防護盒、老化架、第一耐壓板、第二耐壓板、支桿、斷電開關,所述耐壓測試儀通過電線與防護盒相連,所述老化架包括第一耐壓板、第二耐壓板、支桿,第一耐壓板通過若干個支桿與第二耐壓板連接,所述老化架放置在防護盒中,在所述支桿上固定設置1條銅條,在所述銅條上固定設置若干個銅夾片,所述銅夾片與電容器相連。通過改善增加一步耐電壓檢驗裝置,本發明裝置能夠對分析陶瓷老化試驗過程中產生的不良有所幫助,改善批量陶瓷老化過程不良往復挑選過程,提升用戶操作的便捷性。
技術領域
本發明屬于電容器測試設備技術領域,具體涉及一種耐電壓檢驗裝置。
背景技術
當前,電容器在生產結束后進行陶瓷老化試驗篩選產品,但在批量篩選過后會出現產品耐電壓不良和絕緣不良等,分析原因比較復雜,所以進行開發,將產品在陶瓷老化試驗前進行一次耐電壓篩選,并制定工藝及裝置。
發明內容
為了解決上述存在的問題,本發明提出:一種耐電壓檢驗裝置,包括耐壓測試儀、銅夾片、防護盒、老化架、第一耐壓板、第二耐壓板、支桿、斷電開關,所述耐壓測試儀通過電線與防護盒相連,所述老化架包括第一耐壓板、第二耐壓板、支桿,第一耐壓板通過若干個支桿與第二耐壓板連接,所述老化架放置在防護盒中,在所述支桿上固定設置1條銅條,在所述銅條上固定設置若干個銅夾片,所述銅夾片與電容器相連。
進一步地,所述防護盒為10毫米厚亞格力板。
進一步地,所述老化架采用耐高溫的PCB板材,所述銅條與PCB印刷電路板上的電路相連。
進一步地,所述銅夾片包括A面和B面,所述銅夾片的A面與B面相連,A面、B面分別設置在老化架的兩個側面。
進一步地,所述耐壓測試儀的型號為MS2674。
進一步地,所述電容器為高Q多層陶瓷電容器3838尺寸容量391型號的電容器。
本發明的有益效果為:區別于現有技術情況,現有技術是在陶瓷老化沒有增加耐電壓篩選步驟和裝置,通過改善增加一步耐電壓檢驗裝置,此申請裝置能夠對分析陶瓷老化試驗過程中產生的不良有所幫助,改善批量陶瓷老化過程不良往復挑選過程,提升用戶操作的便捷性。
附圖說明
圖1為本發明的整體結構示意圖;
圖2為本發明耐壓測試儀的結構示意圖;
圖3為本發明老化架的結構示意圖;
圖4為本發明防護盒和老化架的結構示意圖;
圖5為本發明銅片夾的結構示意圖;
圖6為本發明老化架導電的電路原理圖。
其中,附圖標記為:1、耐壓測試儀,2、銅夾片,21、A面,22、B面,3、防護盒,4、老化架,41、第一耐壓板,42、第二耐壓板,43、支桿。
具體實施方式
一種耐電壓檢驗裝置,如圖1-圖2所示,包括耐壓測試儀1、銅夾片2、防護盒3、老化架4、第一耐壓板41、第二耐壓板42、支桿43,所述耐壓測試儀1通過電線與防護盒3相連,所述老化架4包括第一耐壓板41、第二耐壓板42、支桿43,第一耐壓板41通過若干個支桿43與第二耐壓板42連接,所述老化架4放置在防護盒3中,所述老化架4與防護盒3相連,在所述支桿43上固定設置1條銅條,在所述銅條上固定設置若干個銅夾片2,所述銅夾片2與電容器相連。
其中,如圖4所示,所述防護盒3為10毫米厚亞格力板。
其中,如圖3、圖4所示,所述老化架4采用耐高溫的PCB板材,所述銅條與PCB印刷電路板上的電路相連。
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