[發明專利]一種空間光調制器

在審

• 申請號: 202211296535.9
• 申請日: 2022-10-21
• 公開（公告）號: CN115597836A
• 公開（公告）日: 2023-01-13
• 發明（設計）人: 張寧峰;高宇;夏高飛;郭志昂
• 申請（專利權）人: 西安中科微星光電科技有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G02B7/00
• 代理公司: 深圳市科進知識產權代理事務所(普通合伙) 44316
• 代理人: 孟潔

本發明公開了一種測試裝置，包括支撐架、光學模組和遮光組件，光學模組包括光學平臺和可調節高度的固定座組件，光學平臺設置有第一直線導軌、與第一直線導軌相垂直的第二直線導軌和至少兩條圓形導軌，第一直線導軌和第二直線導軌上均設置有第一刻度線，圓形導軌上設置有第一刻度線或角度線，第一直線導軌和第二直線導軌分別與圓形導軌交匯，多個固定座組件滑動設置在第一直線導軌或第二直線導軌或圓形導軌上，遮光組件包括多個遮光件，遮光件與光學平臺一一對應設置，遮光件設置在支撐架上，遮光件閉合時與光學平臺配合形成遮光環境，該測試裝置能夠根據測試需求調整固定座組件的位置，自由搭建測試光路，能夠提高測試效率。

技術領域

本發明涉及空間光調制器測試領域，尤其涉及一種適用于空間光調制器的測試裝置。

背景技術

空間光調制器根據應用場景不同涉及多個光學指標要求，而光學指標又涉及材料、電氣、環境等多個領域，通常由產品多個模塊組裝成整機后多次綜合調試決定，進一步決定空間光調制器產品的質量優劣。現在對空間光調制器產品指標的測試評價方法主要分為兩類。一類是通過專用的光學測試系統設備進行測試標定，由于專用的光學測試系統設備通常價格昂貴，且大部分僅具備單一指標測試功能。因此，針對測試項目較多的產品進行引進或采購，成本太高。另一類主要通過在光學平臺搭建測試光路進行測試標定，由于測試光路需要頻繁搭建且搭建繁瑣，同時又因為同一水平面需要搭建多個測試光路用于多個測試指標，會造成空間上的浪費。此外，因為指標測試涉及到的光學器件及設備固定后再次挪動牽扯到光路的重新調整，進一步耗時耗力，從而大大影響到測試工作效率。

發明內容

本發明的目的在于提供一種測試裝置，其能夠根據測試需求調整固定座組件的位置，自由搭建測試光路，從而能夠提高測試效率。

為達到上述目的，本發明提供的方案是：

一種測試裝置，包括支撐架、光學模組和遮光組件，所述光學模組設置有至少兩個，所述光學模組包括光學平臺和多個可調節高度的固定座組件，兩個或兩個以上所述光學模組的光學平臺間隔設置在所述支撐架上，所述光學平臺設置有第一直線導軌、第二直線導軌和至少兩條圓形導軌，所述第一直線導軌和所述第二直線導軌上均設置有第一刻度線，所述圓形導軌上設置有第二刻度線或角度線，所述第一直線導軌和所述第二直線導軌相互垂直，兩條或兩條以上所述圓形導軌同心設置，且直徑大小不同，所述第一直線導軌的兩端和所述第二直線導軌的兩端均分別與直徑最大的圓形導軌交匯，多個所述固定座組件分別滑動設置在所述第一直線導軌或所述第二直線導軌或所述圓形導軌上，所述遮光組件包括多個遮光件，所述遮光件與所述光學平臺一一對應設置，所述遮光件設置在所述支撐架上，并環繞在所述光學平臺的周側，所述遮光件被配置為能夠打開或閉合，所述遮光件閉合時與所述光學平臺配合形成遮光環境。

優選地，兩個或兩個以上所述光學平臺沿支撐架的豎直方向間隔設置在支撐架上。

優選地，所述支撐架包括底架和沿所述底架周側均勻設置的多根支桿，所述光學平臺夾設在所述多根支桿之間。

優選地，所述支撐架上設置有第三刻度線，所述光學模組還包括多個高度調節件，所述光學平臺通過多個所述高度調節件與所述支桿滑動連接，所述遮光件為遮光簾，所述支撐架上設置有環形導軌，所述遮光簾通過掛環安裝在所述環形導軌上。

優選地，所述光學模組還包括升降驅動結構，所述升降驅動結構安裝在支桿上，所述升降驅動結構的輸出端與所述高度調節件連接。

優選地，所述固定座組件包括底座、旋轉驅動件、旋轉座、升降驅動件和固定支座，所述底座與所述第一直線導軌或所述第二直線導軌或所述圓形導軌滑動連接，所述旋轉驅動件安裝在所述底座上，所述旋轉座與所述旋轉驅動件的輸出端連接，所述升降驅動件安裝在所述旋轉座上，所述固定支座與所述升降驅動件的輸出端連接。

優選地，所述升降驅動件為升降氣缸。