[發明專利]周期性旋轉量子門的標定方法及裝置、電子設備和介質

在審

• 申請號: 202211291721.3
• 申請日: 2022-10-19
• 公開（公告）號: CN115936135A
• 公開（公告）日: 2023-04-07
• 發明（設計）人: 陳俁翱;陳建蕭;劉樹森
• 申請（專利權）人: 北京百度網訊科技有限公司
• 主分類號: G06N10/70
• 分類號: G06N10/70
• 代理公司: 北京市漢坤律師事務所 11602
• 代理人: 姜浩然;吳麗麗

1.一種周期性旋轉量子門的標定方法，包括：

獲得待標定量子門所對應的第一刻畫方程組，其中所述第一刻畫方程組包括多個第一刻畫方程，每個所述第一刻畫方程基于第一周期范圍內相應的第一角度確定，以確定所述待標定量子門在所述第一角度上的周期性；

依次根據所述第一刻畫方程組中的每個所述第一刻畫方程進行量子門操作，以獲得相對應的測量結果；

響應于每個所述第一刻畫方程所對應的測量結果均符合預期結果，獲得所述待標定量子門所對應的第二刻畫方程組，其中所述第二刻畫方程組包括多個第二刻畫方程，每個所述第二刻畫方程基于所述第一周期范圍內相應的第二角度確定，并且其中，至少一個所述第二刻畫方程進一步基于所述第一角度確定；

依次根據所述第二刻畫方程組中的每個所述第二刻畫方程進行量子門操作，以獲得相對應的測量結果；

響應于每個所述第二刻畫方程所對應的測量結果均符合預期結果，獲得所述待標定量子門所對應的第三刻畫方程組，其中所述第三刻畫方程組包括多個第三刻畫方程，每個所述第三刻畫方程基于所述第一周期范圍之外的相應角度確定；

依次根據所述第三刻畫方程組中的每個所述第三刻畫方程進行量子門操作，以獲得相對應的測量結果；以及

響應于每個所述第三刻畫方程所對應的測量結果均符合預期結果，將所述待標定量子門標定為可信。

2.如權利要求1所述的方法，其中，所述待標定量子門包括RX門和RY門中的至少一個。

3.如權利要求1所述的方法，其中，所述待標定量子門包括RX門和RY門，其中所述方法還包括：

獲取第四刻畫方程，所述第四刻畫方程組于所述RX門和RY門的相位差確定；

根據所述第四刻畫方程進行量子門操作，以獲得相對應的測量結果；以及

響應于所述第四刻畫方程所對應的測量結果均符合預期結果，將所述待標定量子門標定為可信。

4.如權利要求1或3所述的方法，其中，所述待標定量子門包括RX門和RY門，其中所述方法還包括：

獲取第五刻畫方程組，所述第五刻畫方程組基于所述RX門和RY門在第一周期范圍內的相應角度確定；

依次根據所述第五刻畫方程組中的每個刻畫方程進行量子門操作，以獲得相對應的測量結果；以及

響應于所述第五刻畫方程組所對應的測量結果均符合預期結果，將所述待標定量子門標定為可信。

5.如權利要求1所述的方法，其中，所述刻畫方程組是基于酉變換的矩陣表示構造的。

6.如權利要求4所述的方法，其中，依次根據所述第五刻畫方程組中的每個刻畫方程進行量子門操作，以獲得相對應的測量結果包括：

響應于所述第五刻畫方程組中的一個或多個刻畫方程所對應的預期結果為疊加態，根據所述一個或多個刻畫方程中的每一個刻畫方程分別進行多次量子門操作，以獲得相應的多個測量結果；以及

對于所述每一個刻畫方程：統計所述相應的多個測量結果中的為所述疊加態中的相應態的次數。

7.如權利要求6所述的方法，其中，基于假設檢驗方法判斷所述一個或多個刻畫方程所對應的測量結果是否符合所述預期結果。

8.如權利要求1所述的方法，還包括：

響應于任意一個刻畫方程組中的一個或多個刻畫方程所對應的測量結果與所述預期結果存在偏差，基于所述偏差確定所述待標定量子門保真度。

9.如權利要求2-4中任一項所述的方法，其中，所述待標定量子門還包括CZ門，其中所述方法還包括：

獲取第六刻畫方程組，所述第六刻畫方程組基于所述RX門和RY門以及所述CZ門確定；

響應于所述RX門和RY門已被標定為可信，依次根據所述第六刻畫方程組中的每個刻畫方程進行量子門操作，以獲得相對應的測量結果；以及

響應于所述第六刻畫方程組所對應的測量結果均符合預期結果，將所述CZ門標定為可信。