[發(fā)明專利]一種晶球口感評價方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202211280573.5 | 申請日: | 2022-10-19 |
| 公開(公告)號: | CN115541831A | 公開(公告)日: | 2022-12-30 |
| 發(fā)明(設計)人: | 康麗潔;聶云宸;林子芳 | 申請(專利權)人: | 喜茶(深圳)企業(yè)管理有限責任公司 |
| 主分類號: | G01N33/02 | 分類號: | G01N33/02;G01N3/24;G01N3/08;G01N3/42;G01N3/02 |
| 代理公司: | 廣州永華專利代理有限公司 44478 | 代理人: | 勞覓 |
| 地址: | 518054 廣東省深圳市南山區(qū)粵海街道海德*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 口感 評價 方法 | ||
本發(fā)明涉及一種晶球口感的評價方法,使用質(zhì)構儀對晶球樣品進行“兩次破壞性壓縮測試”,第一次壓縮就是破壞性壓縮,可以模擬人對晶球真實的咀嚼動作,獲得的彈性參數(shù)可以反映晶球在被咀嚼過程中的彈性。
技術領域
本發(fā)明涉及食品檢測儀器技術領域,具體涉及一種晶球口感評價方法。
背景技術
質(zhì)構儀是一種物性分析儀器,通過采用力學實驗的方式,模擬人的咀嚼動作,對肉制品、糧油、面食、果蔬、果醬等食品進行物性學分析,并從中得到所需的對應人感官評定的參數(shù)。質(zhì)構儀包括底座,底座具有供待測樣品放置的載物區(qū),包括升降驅動裝置和朝下對準載物區(qū)的探頭,升降驅動裝置中設有壓力傳感器,該傳感器連接探頭和數(shù)據(jù)處理器,探頭可被升降驅動裝置驅動上下移動,對放置在載物區(qū)的樣品施加作用力,壓力傳感器憑借探頭采集相應的壓力參數(shù)并傳遞給數(shù)據(jù)處理器,以分析和處理樣品的物性。安裝在質(zhì)構儀上的探頭可被拆卸替換成其它多種類型的探頭以適應不同種類食品樣品的物性檢測。TPA(texture profile analysis,TPA)測試是食品領域最經(jīng)典的一種測試方法,在國際上被廣泛用于多種食品的物性分析,其原理是模擬人對食品進行單次咀嚼或多次咀嚼過程中的感官參數(shù)。傳統(tǒng)的TPA測試方法是使用一個面積大于樣品的平底柱形探頭或平底圓盤形探頭,對樣品進行一次或多次非破壞性壓縮,但這種TPA測試方法僅能用于測試樣品原本的結構質(zhì)地,不能反映樣品的實際口感。為此,現(xiàn)有技術提供了一種新的TPA測試方法,稱“為兩次形變壓縮測試”(TDT),兩次形變壓縮具體地,第一次使用上述面積大于樣品的平底柱形探頭或平底圓盤形探頭對樣品進行非破壞性壓縮,第二次使用面積小于樣品的平底柱形探頭或針形探頭對樣品進行破壞性壓縮,以獲得硬度、彈性等參數(shù)。
現(xiàn)有一種晶球食品,其主要成分是海藻膠,屬于凝膠類食品,用于添加到茶飲當中以增加茶飲口感的豐富性。由于晶球外形輪廓為球狀,其體積較小且表面較光滑,操作人員使用上述兩次形變壓縮測試對晶球的口感進行檢測,需要先在晶球上切割出平面,使其能平穩(wěn)放置在質(zhì)構儀底座上不發(fā)生滾動,然后再手持晶球將其放在質(zhì)構儀的載物區(qū)對準探頭供探頭下移進行檢測。但是使用這種方法對晶球進行檢測存在以下問題:(1)對晶球進行切割后,晶球的形狀結構已發(fā)生改變,對這樣的晶球進行測試,無法反映完整晶球的物性;(2)彈性這一質(zhì)構參數(shù)在本領域的定義是,食物在第一咬結束與第二口開始之間可以恢復的高度。人對晶球進行咀嚼的過程中,下咬第一口就會對晶球造成破壞性壓縮。上述兩次形變壓縮測試是由第一次形變壓縮來獲得彈性這一參數(shù)的方法,第一次形變壓縮是對樣品進行非破壞性壓縮,由此獲得的彈性參數(shù)只能用來表示晶球在未被破壞時的彈性,如被手指擠壓時的彈性,而不能反映晶球在被咀嚼過程中的彈性;(3)人咀嚼晶球的過程通常都是使用臼齒進行咀嚼,兩次形變壓縮測試的前后兩次形變壓縮使用的是不同的探頭,且探頭形狀都與人臼齒形狀存在較大區(qū)別,檢測過程不能真正模擬人臼齒對晶球的咀嚼動作。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種晶球口感的評價方法,解決背景技術的問題(2),可以反映晶球在被咀嚼過程中的彈性。
為實現(xiàn)該目的,本發(fā)明提供一種晶球口感評價方法,包括以下步驟:以同品牌同批次的若干晶球作為樣品,然后從樣品中取出一部分進行“兩次破壞性壓縮測試”,“兩次破壞性壓縮測試”具體地,取一顆晶球樣品放在質(zhì)構儀底座的載物區(qū),使用探頭對晶球樣品進行兩次破壞性壓縮,獲得硬度、彈性、粘聚性、脆性參數(shù)。
進一步地,“兩次破壞性壓縮測試”的兩次破壞性壓縮使用的是同一個仿臼齒形探頭。
進一步地,還包括以下步驟:從所述樣品中取出另一部分進行“剪切測試”,“剪切測試”具體地,取一顆晶球樣品放在質(zhì)構儀底座的載物區(qū),使用與“兩次破壞性壓縮測試”相同的探頭對檢測晶球樣品進行剪切,獲得剪切力和剪切功這兩個參數(shù)。
進一步地,重復進行至少3次“兩次破壞性壓縮測試”,對各次“兩次破壞性壓縮測試”獲得的參數(shù)取平均值作為最終的指標;且/或重復進行至少3次“剪切測試”,對各次“剪切測試”獲得的參數(shù)取平均值作為最終的指標;
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