[發明專利]一種物體尺寸測量方法、裝置、系統及可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202211268404.X
• 申請日: 2022-10-17
• 公開（公告）號: CN115661055A
• 公開（公告）日: 2023-01-31
• 發明（設計）人: 曹明江;鄒尚儒;黃志鵬
• 申請（專利權）人: 深圳壹智云科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/62;G06T7/73
• 代理公司: 深圳市恒申知識產權事務所(普通合伙) 44312
• 代理人: 廖厚琪

1.一種物體尺寸測量方法，其特征在于,應用于設置有測距裝置以及圖像采集裝置的物體尺寸測量系統，所述物體尺寸測量方法包括：

控制所述測距裝置采集與目標待測物之間的相對距離參數，以及控制所述圖像采集裝置采集所述目標待測物的物體圖像；

根據待測尺寸類型，識別所述物體圖像中對應于所述目標待測物的尺寸特征參數；

結合所述相對距離參數以及所述尺寸特征參數，確定所述目標待測物的實際尺寸參數。

2.根據權利要求1所述的物體尺寸測量方法，其特征在于，所述根據待測尺寸類型，識別所述物體圖像中對應于所述目標待測物的尺寸特征參數的步驟，包括：

根據待測尺寸類型，在所述物體圖像中識別所述目標待測物相應幾何特征區域的所有目標像素點；

根據所述目標像素點中特征像素點的像素坐標確定所述目標待測物的尺寸特征參數。

3.根據權利要求2所述的物體尺寸測量方法，其特征在于，所述待測尺寸類型包括軸向長度和/或徑向寬度，所述幾何特征區域包括所述物體圖像中經過軸向直線的像素區域和/或經過徑向直線的像素區域；

所述根據所述目標像素點中特征像素點的像素坐標確定所述目標待測物的尺寸特征參數的步驟，包括：

將所述經過軸向直線的單行像素區域和/或經過徑向直線的單列像素區域中，處于所述單行像素區域和/或單列像素區域兩端的兩個所述目標像素點確定為特征像素點；

將所述單行像素區域的兩個所述特征像素點的x坐標進行作差，得到所述目標待測物的第一尺寸特征參數，和/或將所述單列像素區域的兩個所述特征像素點的y坐標進行作差，得到所述目標待測物的第二尺寸特征參數。

4.根據權利要求3所述的物體尺寸測量方法，其特征在于，在所述結合所述相對距離參數以及所述尺寸特征參數，確定所述目標待測物的實際尺寸參數的步驟之前,還包括：

通過控制所述物體尺寸測量系統對校準樣板進行校準測量，確定所述圖像采集裝置的鏡頭誤差參數和機身誤差參數；

所述結合所述相對距離參數以及所述尺寸特征參數，確定所述目標待測物的實際尺寸參數的步驟，包括：

結合所述相對距離參數、所述第一尺寸特征參數、所述第二尺寸特征參數、所述鏡頭誤差參數和所述機身誤差參數，確定所述目標待測物的實際尺寸參數。

5.根據權利要求4所述的物體尺寸測量方法，其特征在于，在所述結合所述相對距離參數、所述第一尺寸特征參數、所述第二尺寸特征參數、所述鏡頭誤差參數和所述機身誤差參數，確定所述目標待測物的實際尺寸參數的步驟，包括：

結合所述相對距離參數、所述第一尺寸特征參數、所述第二尺寸特征參數、以及所述鏡頭誤差參數和機身誤差參數，通過預設尺寸計算公式計算所述目標待測物的實際尺寸參數；所述尺寸計算公式表示為：

其中，L_x表示軸向長度，L_y表示徑向寬度，x表示第一尺寸特征參數，y表示第二尺寸特征參數，d表示測距裝置與目標待測物之間的相對距離參數，α和β分別表示所述物體圖像x坐標軸向上和y坐標軸向上的相機內參，f表示所述圖像采集裝置的焦距。

6.根據權利要求4所述的物體尺寸測量方法，其特征在于，所述通過控制所述物體尺寸測量系統對校準樣板進行校準測量，確定所述圖像采集裝置的鏡頭誤差參數和機身誤差參數的步驟,包括:

控制所述測距裝置采集與所述校準樣板之間的相對距離參數，以及控制所述圖像采集裝置連續采集所述校準樣板的多個物體圖像；

根據所述校準樣板的尺寸測量類型，分別識別所述校準樣板的多個物體圖像的尺寸特征參數；

結合所述距裝置采集與校準樣板之間的相對距離參數、所述校準樣板的實際尺寸參數以及校準樣板的多個物體圖像對應的尺寸特征參數，確定所述圖像采集裝置的鏡頭誤差參數和機身誤差參數。