[發(fā)明專利]一種非對(duì)稱環(huán)氧-導(dǎo)體嵌件界面缺陷超聲檢測(cè)方法及裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202211264660.1 | 申請(qǐng)日: | 2022-10-17 |
| 公開(公告)號(hào): | CN115327328B | 公開(公告)日: | 2023-01-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 龐小峰;郝艷捧;張瀅瀅;姚聰偉;孫帥;李興旺;趙曉鳳;王增彬;李盈;楊賢;劉建明;劉琳;陳祖?zhèn)?/a>;蔡玲瓏;邰彬;李端姣;黃盛龍;米鴻儒;梁學(xué)致;梁卓毅 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廣東電網(wǎng)有限責(zé)任公司;廣東電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)研究院 |
| 主分類號(hào): | G01R31/12 | 分類號(hào): | G01R31/12;G01R1/02 |
| 代理公司: | 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202 | 代理人: | 姚心怡 |
| 地址: | 510000 廣東*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 對(duì)稱 導(dǎo)體 界面 缺陷 超聲 檢測(cè) 方法 裝置 | ||
1.一種非對(duì)稱環(huán)氧-導(dǎo)體嵌件界面缺陷超聲檢測(cè)方法,其特征在于,包括:
獲取目標(biāo)環(huán)氧-導(dǎo)體嵌件的結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù);
根據(jù)超聲臨界折射縱波檢測(cè)原理,獲得第一臨界折射角;將超聲檢測(cè)裝置的第一探頭按照第一臨界折射角與所述目標(biāo)環(huán)氧-導(dǎo)體嵌件的環(huán)氧部分連接,將所述超聲檢測(cè)裝置的第二探頭與所述目標(biāo)環(huán)氧-導(dǎo)體嵌件的金屬導(dǎo)體部分連接;其中,所述第一探頭和目標(biāo)環(huán)氧-導(dǎo)體嵌件界面所形成的角度為第一臨界折射角;以及所述目標(biāo)環(huán)氧-導(dǎo)體嵌件界面為所述目標(biāo)環(huán)氧-導(dǎo)體嵌件的環(huán)氧部分和金屬導(dǎo)體部分相接的位置;其中,所述超聲檢測(cè)裝置發(fā)射的超聲信號(hào)通過(guò)第一探頭從所述目標(biāo)環(huán)氧-導(dǎo)體嵌件的環(huán)氧部分發(fā)射,在穿過(guò)所述目標(biāo)環(huán)氧-導(dǎo)體嵌件界面后,最后通過(guò)位于金屬導(dǎo)體部分的第二探頭接收;
根據(jù)所述結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)和超聲檢測(cè)裝置的探頭尺寸,獲得超聲檢測(cè)裝置在檢測(cè)目標(biāo)環(huán)氧-導(dǎo)體嵌件時(shí)所需的超聲檢測(cè)路徑;
控制所述超聲檢測(cè)裝置按所述超聲檢測(cè)路徑對(duì)所述目標(biāo)環(huán)氧-導(dǎo)體嵌件進(jìn)行檢測(cè),獲得超聲檢測(cè)數(shù)據(jù);
在確定所述超聲檢測(cè)數(shù)據(jù)存在異常數(shù)據(jù)時(shí),根據(jù)超聲檢測(cè)數(shù)據(jù)中的異常數(shù)據(jù),確定目標(biāo)環(huán)氧-導(dǎo)體嵌件界面的缺陷位置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非對(duì)稱環(huán)氧-導(dǎo)體嵌件界面缺陷超聲檢測(cè)方法,其特征在于,所述根據(jù)所述結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)和超聲檢測(cè)裝置的探頭尺寸,獲得超聲檢測(cè)裝置在檢測(cè)目標(biāo)環(huán)氧-導(dǎo)體嵌件時(shí)所需的超聲檢測(cè)路徑,具體為:
根據(jù)所述結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)和超聲檢測(cè)裝置的探頭尺寸,獲得單次超聲檢測(cè)路徑長(zhǎng)度;其中,所述單次超聲檢測(cè)路徑長(zhǎng)度為:所述第一探頭在垂直于目標(biāo)環(huán)氧-導(dǎo)體嵌件界面處,從檢測(cè)到目標(biāo)環(huán)氧-導(dǎo)體嵌件界面的最高點(diǎn)的探頭位置,到檢測(cè)到目標(biāo)環(huán)氧-導(dǎo)體嵌件界面的最低點(diǎn)的探頭位置的移動(dòng)距離;
設(shè)置超聲檢測(cè)路徑的第一檢測(cè)位置、第二檢測(cè)位置、第三檢測(cè)位置、第四檢測(cè)位置和第五檢測(cè)位置,從第一檢測(cè)位置到第二檢測(cè)位置為一次超聲檢測(cè),從第三檢測(cè)位置到第四檢測(cè)位置為一次超聲檢測(cè);其中,所述第一檢測(cè)位置為在第一角度下檢測(cè)到目標(biāo)環(huán)氧-導(dǎo)體嵌件界面的最高點(diǎn)的探頭位置;所述第二檢測(cè)位置為在第一角度下檢測(cè)到目標(biāo)環(huán)氧-導(dǎo)體嵌件界面的最低點(diǎn)的探頭位置;所述第三檢測(cè)位置為在第二角度下檢測(cè)到目標(biāo)環(huán)氧-導(dǎo)體嵌件界面的最高點(diǎn)的探頭位置;所述第四檢測(cè)位置為在第二角度下檢測(cè)到目標(biāo)環(huán)氧-導(dǎo)體嵌件界面的最低點(diǎn)的探頭位置;所述第五檢測(cè)位置為在第三角度下檢測(cè)到目標(biāo)環(huán)氧-導(dǎo)體嵌件界面的最高點(diǎn)的探頭位置;所述第一檢測(cè)位置的中心和所述第三檢測(cè)位置的中心相距一個(gè)探頭直徑;所述第二檢測(cè)位置的中心和所述第四檢測(cè)位置的中心相距一個(gè)探頭直徑;
根據(jù)所述第二檢測(cè)位置和第三檢測(cè)位置,獲得單次檢測(cè)轉(zhuǎn)移路徑長(zhǎng)度;其中,所述單次檢測(cè)轉(zhuǎn)移路徑長(zhǎng)度為第二檢測(cè)位置和第三檢測(cè)位置之間的最短距離;
根據(jù)第一檢測(cè)位置、第二檢測(cè)位置、第三檢測(cè)位置、第四檢測(cè)位置和第五檢測(cè)位置,所述超聲檢測(cè)路徑具體為:從第一檢測(cè)位置按單次超聲檢測(cè)路徑長(zhǎng)度到第二檢測(cè)位置,繼而從第二檢測(cè)位置按單次檢測(cè)轉(zhuǎn)移路徑長(zhǎng)度到第三檢測(cè)位置,繼而從第三檢測(cè)位置按單次超聲檢測(cè)路徑長(zhǎng)度到第四檢測(cè)位置,繼而從第四檢測(cè)位置按單次檢測(cè)轉(zhuǎn)移路徑長(zhǎng)度到第五檢測(cè)位置。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的非對(duì)稱環(huán)氧-導(dǎo)體嵌件界面缺陷超聲檢測(cè)方法,其特征在于,所述控制所述超聲檢測(cè)裝置按所述超聲檢測(cè)路徑對(duì)所述目標(biāo)環(huán)氧-導(dǎo)體嵌件進(jìn)行檢測(cè),具體為:
將任意目標(biāo)環(huán)氧-導(dǎo)體嵌件界面的最高點(diǎn)的探頭位置作為第一檢測(cè)位置,并在未檢測(cè)的區(qū)域中確定超聲檢測(cè)路徑的第二檢測(cè)位置、第三檢測(cè)位置、第四檢測(cè)位置和第五檢測(cè)位置;
將所述超聲檢測(cè)裝置的第一探頭放置于第一檢測(cè)位置,執(zhí)行超聲檢測(cè)移動(dòng)和位置判斷;其中,所述超聲檢測(cè)移動(dòng)包括:控制第一探頭按超聲檢測(cè)路徑進(jìn)行移動(dòng),且當(dāng)?shù)谝惶筋^移動(dòng)到第一檢測(cè)位置或第三檢測(cè)位置或第五檢測(cè)位置時(shí),控制第二探頭在金屬導(dǎo)體中移動(dòng)到與第一探頭同一豎直平面處;所述位置判斷包括:判斷第一探頭的位置是否位于第五檢測(cè)位置;
在確定第一探頭位于第五檢測(cè)位置時(shí),將第五檢測(cè)位置更新為第一檢測(cè)位置,同時(shí)在未檢測(cè)的區(qū)域中重新確定超聲檢測(cè)路徑的第二檢測(cè)位置、第三檢測(cè)位置、第四檢測(cè)位置和第五檢測(cè)位置,形成新的超聲檢測(cè)路徑,并執(zhí)行超聲檢測(cè)移動(dòng)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于廣東電網(wǎng)有限責(zé)任公司;廣東電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)研究院,未經(jīng)廣東電網(wǎng)有限責(zé)任公司;廣東電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)研究院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202211264660.1/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試





