[發明專利]一種視頻顯示測試方法、系統和裝置

在審

• 申請號: 202211263994.7
• 申請日: 2022-10-17
• 公開（公告）號: CN115541201A
• 公開（公告）日: 2022-12-30
• 發明（設計）人: 江自超;胡昂;敖海
• 申請（專利權）人: 芯動微電子科技（珠海）有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 深圳市六加知識產權代理有限公司 44372
• 代理人: 向彬

本發明涉及一種視頻顯示測試方法、系統和裝置，方法包括：將同一批次的顯示器依次設置在多個待測工位上；對每個待測工位進行初始測試，判斷出不漏光待測工位以及漏光待測工位，并將漏光待測工位劃分為不連續漏光待測工位以及連續漏光待測工位；分時對不漏光待測工位上的顯示器進行統一的視頻顯示測試以及對不連續漏光待測工位上的顯示器進行統一的視頻顯示測試；對連續漏光待測工位進行連續漏光安全距離測試，并根據測試出的連續漏光安全距離對連續漏光待測工位上的顯示器進行分組的視頻顯示測試。本發明針對顯示器互相之間發光形成干擾的情形進行分組測試，在實現批量測試的同時，使顯示器互相之間的發光干擾降到最低，從而保證測試準確性。

技術領域

本發明涉及顯示測試技術領域，尤其涉及一種視頻顯示測試方法、系統和裝置。

背景技術

針對GPU(Graphics Processing Unit，圖形處理器，也即顯示芯片)出圖測試，如HDMI/DP/VGA等的出圖測試，現有的方式主要有兩種。一種是人眼觀察，另外一種是通過HDMI/DP/VGA協議分析儀解析發送的數據。但是這兩種方式存在弊端比較明顯，前者無法實現長時間出視頻穩定性測試，比如7天、10天。后者需要針對不同的接口有對應的協議分析儀，價格昂貴，無法實現批量測試。

在實際測試過程中，為了解放人力、節約資源，有必要設計出可以批量進行測試的系統和方法來對顯示器進行出圖(視頻)測試。但在批量進行測試時，很容易出現顯示器互相之間發光形成干擾的情況，導致最后的測試不準確。

鑒于此，如何克服上述現有技術所存在的技術問題，如何避免批量測試時顯示器互相之間發光形成干擾的情形，是本技術領域亟待解決的難題。

發明內容

本發明的目的之一在于克服上述現有技術中的存在的技術問題，提供一種視頻顯示測試方法、系統和裝置，針對顯示器互相之間發光形成干擾的情形進行分組測試，使顯示器互相之間的發光干擾降到最低，從而保證測試準確性。

本發明是這樣實現的：

第一方面，本發明提供一種視頻顯示測試方法，包括：

將多個顯示器分別設置在多個待測工位上；

對每個待測工位進行初始測試，判斷出不漏光待測工位以及漏光待測工位，并將漏光待測工位劃分為不連續漏光待測工位以及連續漏光待測工位；

分時對不漏光待測工位上的顯示器進行統一的視頻顯示測試以及對不連續漏光待測工位上的顯示器進行統一的視頻顯示測試；

對連續漏光待測工位進行連續漏光安全距離測試，并根據測試出的連續漏光安全距離對連續漏光待測工位上的顯示器進行分組的視頻顯示測試。

進一步的，在每個待測工位上均設置有光電檢測AD模塊，所述對每個待測工位進行初始測試，判斷出不漏光待測工位以及漏光待測工位具體包括：

啟動待測工位上的顯示器，通過本待測工位上的光電檢測AD模塊檢測本待測工位上的顯示器是否正常工作；

若本待測工位上的顯示器正常工作，則再通過相鄰待測工位上的光電檢測AD模塊檢測是否能感應到本待測工位上的顯示器發出的光；

若相鄰待測工位上的光電檢測AD模塊檢測不能感應到本待測工位上的顯示器發出的光，則判斷對應相鄰待測工位為不漏光待測工位，否則判斷對應相鄰待測工位為漏光待測工位。

進一步的，所述將漏光待測工位劃分為不連續漏光待測工位以及連續漏光待測工位具體包括：

若某個漏光待測工位的相鄰待測工位為不漏光待測工位，則將該漏光待測工位劃分為不連續漏光待測工位；

若某個漏光待測工位的相鄰待測工位為漏光待測工位，則將該漏光待測工位劃分為連續漏光待測工位。