[發明專利]一種檢測不銹鋼中元素含量的方法、裝置、設備及介質

在審

• 申請號: 202211260202.0
• 申請日: 2022-10-14
• 公開（公告）號: CN115541559A
• 公開（公告）日: 2022-12-30
• 發明（設計）人: 高業成
• 申請（專利權）人: 山東云海國創云計算裝備產業創新中心有限公司
• 主分類號: G01N21/67
• 分類號: G01N21/67;G06T11/20;G06F16/28
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 王華

本申請公開了一種檢測不銹鋼中元素含量的方法、裝置、設備及介質，涉及檢測技術領域。包括獲取輝光放電光譜儀測量的待測元素在各時刻的電信號強度值；根據預先建立待測元素的標準工作曲線確定各時刻的電信號強度值對應質量分數以及對應的目標標準件；根據各時刻與對應的目標標準件的濺射速率獲取待測元素在各時刻形成的束斑的深度；建立各時刻對應的質量分數與束斑的深度的關系。由于待測物體是不銹鋼，標準件也采用的是不銹鋼，因此，可以盡可能地避免因基體效應導致獲取的元素的含量不準確，并且根據預先建立的標準件中的待測元素的標準工作曲線獲得了待測不銹鋼中待測元素在各深度時對應的質量分數，實現了對待測元素的較精確地定量化分析。

技術領域

本申請涉及檢測技術領域，特別是涉及一種檢測不銹鋼中元素含量的方法、裝置、設備及介質。

背景技術

輝光放電光譜儀由于其檢測速度快、測量范圍廣、檢出限低和精度高等特點，在鋼鐵冶金，材料表面分析，氧化與腐蝕，半導體樣品等領域應用日益廣泛。

不銹鋼材料經過特殊處理如離子輻照，可能引入重金屬元素雜質，當用戶使用重金屬元素超標的不銹鋼，則對用戶的健康產生重大的影響。定量化分析這些雜質的含量分布對于研究離子輻照效應具有重大意義。

輝光放電光譜儀測定不銹鋼中常見元素C、Si、Mn、P、S、Cr、Ni、Cu、AI、Co、Mo、V、Ti、Nb含量的相關標準及方法已存在，含有這些元素的標準件也很常見，但不銹鋼中重金屬元素(如Ce、Nd、Ag)的標準缺乏，標定方法尚未統一?，F有技術一般是直接使用配套軟件數據庫參數，或調用其他合金中該元素的標定參數，由于基體效應使獲得的不銹鋼中重金屬元素的含量并不準確。實際中，當用戶使用重金屬元素超標的不銹鋼，則對用戶的健康產生重大的影響。

由此可見，對不銹鋼中元素含量進行較精確的定量分析是本領域人員亟需解決的技術問題。

發明內容

本申請的目的是提供一種檢測不銹鋼中元素含量的方法、裝置、設備及介質，用于對不銹鋼中元素含量進行較精確的定量分析。

為解決上述技術問題，本申請提供一種檢測不銹鋼中元素含量的方法，包括：

確定待測不銹鋼中的待測元素；

獲取輝光放電光譜儀測量的所述待測元素在各時刻的電信號強度值；

根據預先建立所述待測元素的標準工作曲線確定各所述時刻的所述電信號強度值對應質量分數以及對應的目標標準件；其中，所述標準工作曲線用于表征各標準件的所述電信號強度值與所述質量分數的關系，所述標準件為不銹鋼；

根據各所述時刻與對應的所述目標標準件的濺射速率獲取所述待測元素在各所述時刻形成的束斑的深度；

建立各所述時刻對應的所述質量分數與所述束斑的深度的關系以獲取在各所述深度時所述待測元素的所述質量分數。

優選地，所述標準件為多個，所述標準件中包含所述待測元素且各所述標準件中的所述待測元素的含量不同。

優選地，獲取當前標準件的所述濺射速率包括：

獲取所述當前標準件的各所述元素的物理參數；其中，所述物理參數至少包括所述當前標準件的密度值、各所述元素的質量分數；

通過所述輝光放電光譜儀激發所述標準件以便于在所述當前標準件的表面形成所述束斑；

獲取多次測定所述束斑的深度值及直徑，并獲取平均深度值和平均直徑；

根據所述平均深度值、所述平均直徑值、濺射時間獲取所述當前標準件的所述濺射速率。

優選地，獲取當前元素的所述標準工作曲線包括：

獲取所述輝光放電光譜儀多次測量所述當前標準件中所述當前元素的所述電信號強度值；