[發明專利]一種具有P型柵的增強型MIS柵控功率器件在審
| 申請號: | 202211249368.2 | 申請日: | 2022-10-12 |
| 公開(公告)號: | CN115548107A | 公開(公告)日: | 2022-12-30 |
| 發明(設計)人: | 易波;張芷寧;徐藝 | 申請(專利權)人: | 電子科技大學 |
| 主分類號: | H01L29/49 | 分類號: | H01L29/49;H01L29/78;H01L21/34 |
| 代理公司: | 電子科技大學專利中心 51203 | 代理人: | 甘茂 |
| 地址: | 611731 四川省成*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 具有 增強 mis 功率 器件 | ||
1.一種具有P型柵的增強型MIS柵控功率器件,包括:N型重摻雜襯底(1)、N型緩沖層(2)、N型耐壓層(3)、N型重摻雜區(4)、N型溝道區(8)、柵介質層(5)、P型寬禁帶半導體區(6)、源極金屬電極(7)、柵極金屬電極(9)、漏極金屬電極(12);所述N型重摻雜襯底、N型緩沖層、N型耐壓層、N型重摻雜區、N型溝道區由第一類半導體制作;
其特征在于,所述漏極金屬(12)電極設置于N型重摻雜襯底下,所述N型緩沖層(2)設置于N型重摻雜襯底上,所述N型耐壓層(3)設置于N型緩沖層上,所述N型溝道區(8)設置于N型耐壓層上,所述N型重摻雜源極區(4)設置于N型溝道區上,所述源極金屬電極(7)設置于N型重摻雜源極區上;所述N型溝道區與N型重摻雜源極區中對稱設置有兩個深槽、且分別位于源極金屬電極(7)兩側,所述柵介質層(5)設置于深槽的槽壁,所述P型寬禁帶半導體區(6)填充于深槽內、且P型寬禁帶半導體區上設置柵極金屬電極(9)。
2.按權利要求1所述具有P型柵的增強型MIS柵控功率器件,其特征在于,所述深槽貫穿N型溝道區(8),使柵介質層(5)下表面與N型耐壓層(3)相接觸。
3.按權利要求2所述具有P型柵的增強型MIS柵控功率器件,其特征在于,所述具有P型柵的增強型MIS柵控功率器件還包括:兩個P型半導體區(10)、以及設置于兩個P型半導體區之間的N型半導體區(11),P型半導體區與N型半導體區設置于N型耐壓層(3)中,P型半導體區位于柵介質層(5)下、且與源極金屬電極(7)電氣連接;N型半導體區由第一類半導體制作。
4.按權利要求3所述具有P型柵的增強型MIS柵控功率器件,其特征在于,所述P型半導體區(10)與第一類半導體為同一種材料。
5.按權利要求3所述具有P型柵的增強型MIS柵控功率器件,其特征在于,所述P型半導體區(10)為p-NiO、p-CuO,p-GaN、p-AlGaN或p-PolySilicon,且P型半導體區與N型耐壓層(3)構成低開啟電壓的異質結二極管。
6.按權利要求3所述具有P型柵的增強型MIS柵控功率器件,其特征在于,N型半導體區(11)的摻雜濃度大于N型耐壓層3。
7.按權利要求1所述具有P型柵的增強型MIS柵控功率器件,其特征在于,所述P型寬禁帶半導體區由功函數大于6eV的半導體材料制成。
8.按權利要求1所述具有P型柵的增強型MIS柵控功率器件,其特征在于,所述第一類半導體為SiC、GaN、AlGaN、AlN、Ga2O3或金剛石。
9.按權利要求1所述具有P型柵的增強型MIS柵控功率器件,其特征在于,所述N型溝道區(8)的摻雜濃度不高于N型耐壓區3。
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