[發(fā)明專利]一種老煉電路的參數(shù)測(cè)量順序確定方法和系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202211233209.3
• 申請(qǐng)日: 2022-10-10
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN115308518B
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-12-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 徐廣文;夏澤平;丁辰野;葉峰;葉劍軍;張洪威
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 杭州三海電子有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/00
• 分類號(hào): G01R31/00
• 代理公司: 四川中代知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 51358
• 代理人: 王鴻

本申請(qǐng)涉及老煉電路的電性能測(cè)試領(lǐng)域，提供了一種老煉電路的參數(shù)測(cè)量順序確定方法和系統(tǒng)。該方法包括：在M個(gè)待測(cè)參數(shù)的種排序方式下，獲取所述M個(gè)待測(cè)參數(shù)中，每個(gè)待測(cè)參數(shù)在測(cè)量順序?yàn)?時(shí)的目標(biāo)失效率，并將測(cè)量順序?yàn)?時(shí)目標(biāo)失效率最大的待測(cè)參數(shù)作為第1參數(shù)，其中，所述第1參數(shù)為目標(biāo)順序排第1的參數(shù)；獲取除了所述第1參數(shù)至第i?1參數(shù)以外的待測(cè)參數(shù)中，每個(gè)待測(cè)參數(shù)在測(cè)量順序?yàn)閕時(shí)的目標(biāo)失效率，并將測(cè)量順序?yàn)閕時(shí)目標(biāo)失效率最大的待測(cè)參數(shù)作為第i參數(shù)，其中，所述第i參數(shù)為目標(biāo)順序排第i的參數(shù)，i依次取值：。通過(guò)上述方法，可以有效解決老煉電路的參數(shù)測(cè)量時(shí)間長(zhǎng)、效率低的問(wèn)題。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及老煉電路的電性能測(cè)試領(lǐng)域，更具體地，涉及一種老煉電路的參數(shù)測(cè)量順序確定方法和系統(tǒng)。

背景技術(shù)

對(duì)于具有統(tǒng)計(jì)意義數(shù)量的電子元器件，可能在剛開(kāi)始工作時(shí)失效率很高，這是電子元器件的早期失效。老煉工序是指，模擬電子元器件的工作條件，在工作一段時(shí)間后，將失效元器件排除，從而使該批次的電子元器件度過(guò)早期失效階段，進(jìn)入故障率相對(duì)較低且穩(wěn)定的階段。

目前，通常只對(duì)電子元器件的直流漏電流進(jìn)行老煉檢測(cè)和篩選，例如專利號(hào)為CN106383275A的專利文件。但在宇航級(jí)器件等篩選度要求較高的場(chǎng)景下，還需考慮電子元器件的其他特性。若對(duì)電子元器件的其他參數(shù)也進(jìn)行測(cè)量，則存在測(cè)量時(shí)間長(zhǎng)、效率低的問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容

本申請(qǐng)發(fā)明人在通過(guò)長(zhǎng)期實(shí)踐發(fā)現(xiàn)，若對(duì)電子元器件的其他參數(shù)也進(jìn)行測(cè)量，例如，按照直流漏電流、容量、損耗角、等效電阻的順序依次對(duì)電子元器件的這四個(gè)參數(shù)進(jìn)行測(cè)量，由于電子元器件的失效原因各不相同，因此，存在測(cè)量時(shí)間長(zhǎng)、效率低的問(wèn)題。

基于此，本申請(qǐng)?zhí)岢隽艘环N老煉電路的參數(shù)測(cè)量順序確定方法，在待測(cè)參數(shù)的所有排序方式下，獲取每個(gè)待測(cè)參數(shù)在測(cè)量順序?yàn)?時(shí)的目標(biāo)失效率，并將測(cè)量順序?yàn)?時(shí)目標(biāo)失效率最大的待測(cè)參數(shù)作為第1參數(shù)，其中，所述第1參數(shù)為目標(biāo)順序排第1的參數(shù)；獲取除了第1參數(shù)至第i-1參數(shù)以外的待測(cè)參數(shù)中，每個(gè)待測(cè)參數(shù)在測(cè)量順序?yàn)閕時(shí)的目標(biāo)失效率，并將測(cè)量順序?yàn)閕時(shí)目標(biāo)失效率最大的待測(cè)參數(shù)作為第i參數(shù)，其中，所述第i參數(shù)為目標(biāo)順序排第i的參數(shù)，i依次取值：。如此，可以有效解決老煉電路的參數(shù)測(cè)量時(shí)間長(zhǎng)、效率低的問(wèn)題。

第一方面，提供了一種老煉電路的參數(shù)測(cè)量順序確定方法，該方法包括：在M個(gè)待測(cè)參數(shù)的種排序方式下，獲取所述M個(gè)待測(cè)參數(shù)中，每個(gè)待測(cè)參數(shù)在測(cè)量順序?yàn)?時(shí)的目標(biāo)失效率，并將測(cè)量順序?yàn)?時(shí)目標(biāo)失效率最大的待測(cè)參數(shù)作為第1參數(shù)，其中，所述第1參數(shù)為目標(biāo)順序排第1的參數(shù)；獲取除了所述第1參數(shù)至第i-1參數(shù)以外的待測(cè)參數(shù)中，每個(gè)待測(cè)參數(shù)在測(cè)量順序?yàn)閕時(shí)的目標(biāo)失效率，并將測(cè)量順序?yàn)閕時(shí)目標(biāo)失效率最大的待測(cè)參數(shù)作為第i參數(shù)，其中，所述第i參數(shù)為目標(biāo)順序排第i的參數(shù)，i依次取值：。

第二方面，還提供了一種老煉電路的參數(shù)測(cè)量順序確定系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括：老煉電路和控制設(shè)備，控制設(shè)備用于接收對(duì)所述老煉電路的M個(gè)待測(cè)參數(shù)進(jìn)行測(cè)量時(shí)的失效信息，并用于計(jì)算對(duì)所述老煉電路的每個(gè)待測(cè)參數(shù)進(jìn)行測(cè)量時(shí)的目標(biāo)失效率，以及用于以上述方法確定所述老煉電路的參數(shù)測(cè)量順序。

綜上所述，本申請(qǐng)至少具有如下技術(shù)效果：

1.本申請(qǐng)?zhí)峁┑钠渲幸环N老煉電路的參數(shù)測(cè)量順序確定方法，通過(guò)在所有排序方式中，將測(cè)量順序?yàn)?或i時(shí)目標(biāo)失效率最大的待測(cè)參數(shù)作為目標(biāo)順序排第1或i的參數(shù)，從而將最容易影響電子元器件失效的待測(cè)參數(shù)盡可能地放在前面測(cè)量，先排除掉較多的失效元器件，在對(duì)后面的參數(shù)進(jìn)行測(cè)量時(shí)，需要測(cè)量的元器件數(shù)量減小，從而縮短了測(cè)量時(shí)間、提升了測(cè)量效率。